
- •5. Структура материалов
- •6. Элементарные ячейки решеток Бравэ
- •7. Кристаллографические индексы Миллера (кубич. Структура).
- •8. Кристаллографические индексы Миллера-Бравэ (гексаг. Структура).
- •9. Кристаллохимический анализ решёток.
- •10. Способы представления сложных кристаллических структур.
- •11. Описание элементарной ячейки решёткой Бравэ и базисом.
- •12. Описание кристаллической структуры взаимопроникающими решётками
- •13. Описание в терминах плотнейших упаковок
- •14. Тетраэдрические и октаэдрические пустоты.
- •15. Кристаллическая структура типа алмаз
- •16. Кристаллическая структура типа сфалерит
- •17. Кристаллическая структура типа вюрцит
- •18.Классификация дефектов в кристаллах. Точечные дефекты.
- •27. Проводящие материалы
- •28. Проводящая разводка ис на основе Al
- •29.Проводящая разводка ис на основе меди.
- •30. Выпрямляющие контакты металл-п/п
- •31. Барьерные слои, конденсаторы, резисторы, контактные площадки ис
- •32. Разводка в корпусе ис. Применение проводящих материалов на основе оксидов.
- •33. Классификация полупроводниковых материалов
- •34. Классификация легирующих примесей. Назначение лег-их примесей.
- •37. Свойства кремния
- •40.Фоновые примеси в монокристаллическом кремнии.
- •41.Микродефекты монокристаллического кремния.
- •44. Свойства поликристаллического кремния
- •48. Влияние легирования на проводимость а-Si:н
- •51.Классификация диэлектрических материалов
- •52. Стекла.
- •53. Строение стекол.
34. Классификация легирующих примесей. Назначение лег-их примесей.
Легирующие примеси делят на электрически активные и неактивные. Характер электрической активности примеси в свою очередь зависит от соотношения валентностей примеси и полупроводника. Исходя из этого, легирующие примеси делятся на:
1) неизовалентные, т.е. примеси, валентность которых отличается от валентности замещаемых ими атомов основного вещества. Они вносят разрешенные уровни в запрещенную зону основного полупроводника;
2) изовалентные, т.е. такие, валентность которых совпадает с валентностью замещаемых ими атомов полупроводника. В состоянии замещения они не создают разрешенных уровней.
В тех полупроводниковых материалах, в которых; основным типом химической связи является ковалентная связь, неизовалентные примеси растворяются в небольших количествах. Предельная растворимость в атом случае составляет 1017-1020 ат/см3 и редко 1021 ат/см3 В примесных полупроводниках электроны в зону проводимости и дырки в валентную зону поставляются активными примесями. После введения в полупроводник электрически активных донорных или акцепторных примесей в его запрещенной зоне возникают уровни у дна зоны проводимости (вносят доноры) или у потолка валентной зоны (вносят акцепторы).
Такие мелкие уровни в кремнии создают элементы III и V групп периодической системы, число валентных электронов которых отличается
от валентности кремния на +1 (для доноров) и -1 (для акцепторов). Ионизация таких примесей происходит при очень низких температурах, поэтому они определяют в основном электропроводимость полупроводников.
Примеси I, II, VI, VII групп периодической системы имеют большую энергию ионизации и их энергетические уровни расположены глубоко в запрещенной зоне.
Легирование полупроводников осуществляют для достижения следующих целей: изменения положения уровня Ферми; создания разрешенных уровней в запрещенной зоне с целью изменения концентрации и типа носителей заряда; создания центров излучательной и беэызлучательной рекомбинации; изменения подвижности, длины свободного пробега носителей зарядов; изменения ширимы запрещенной зоны; изменения предельной растворимости другой примеси; изменения межатомных расстояний с целью уменьшения макронапряжений в гетероэпитаксиальных композициях, на границах р-п переходов; изменения коэффициента термического линейного расширения (КТЛР) с той же целью; создания внутренних геттеров в подложках для собственных и примесных точечных дефектов; изменения теплопроводности; изменения механических свойств (упрочнения); улучшения адгезии между слоями разнородных веществ.
35. Поведение легирующих примесей даже в элементарных полупроводниках не всегда бывает однозначным, так как определяется большим числом факторов: природой атомов примеси; позицией, занимаемой атомами примеси; степенью ионизации примеси; отклонением состава от стехиометрического; взаимодействием этой примеси с дефектами и другими примесями и т.д. Знание этих факторов необходимо для правильного выбора легирующей примеси, ее концентрации, способа введения.
Кроме легирующих имеются случайные или фоновые примеси, непреднамеренно вводимые в полупроводниковые материалы в процессе их производства и обработки. Фоновые примеси, как правило, ухудшают свойства материала и затрудняют управление ими. Поэтому необходимы установление природы неконтролируемых примесей, источников их попадания в основной материал, разработка технологии, предотвращающей это попадание.
В абсолютном большинстве случаев легирующая примесь обеспечивает создание необходимых свойств в полупроводниковом материале, только будучи растворенной в нем в атомарном (ионизированном) состоянии или в виде комплексов. Легирование в количествах, превышающих предел растворимости и вызывающих образование дополнительных фаз, как правило, отрицательно влияет на основные свойства полупроводников.
36. Применение кремния. Кремний является базовым материалом при изготовлении интегральных схем. Несмотря на интенсивное развитие интегральной микроэлектроники, в общем объеме выпуска полупроводниковых изделий значительную долю составляют кремниевые дискретные приборы. Из него изготавливают выпрямительные, импульсные, СВЧ-диоды, низкочастотные и высокочастотные, мощные и маломощные биполярные транзисторы, полевые транзисторы, приборы с зарядовой связью. Из кремния изготавливают большинство стабилитронов и тиристоров.
Кремний широко применяется для производства фоточувствительных приборов: фотодиодов и фототранзисторов. Спектр фоточувствительности кремниевых фотодетекторов хорошо согласуется со спектром излучения многих полупроводниковых источников света.
Кроме того, Si используется для изготовления солнечных батарей, детекторов радиоактивного излучения, датчиков Холла и тенэодатчиков.