
1. Введение
Электрон-фононное взаимодействие (ЭФВ) в металлах является объектом интенсивного теоретического и экспериментального исследования. Интерес к этой проблеме связан с ролью электрон-фононного взаимодействия в описании таких фундаментальных физических явлений, как сверхпроводимость и процессы переноса в металлах. К настоящему времени существует последовательная многочастичная теория ЭФВ, описывающая как нормальное, так и сверхпроводящее состояния металла. В рамках этого подхода все эффекты,связанные с ЭФВ, выражаются в конечном итоге через так называемые спектральные плотности ЭФВ. Одна из них, а именно функция Элиашберга, описывающая изменение одночастичных свойств электронов в нормальном состоянии и фононный вклад в сверхпроводимость, может быть определена экспериментально. Эта функция восстанавливается из экспериментальных данных о зависимости туннельного тока между нормальным металлом и сверхпроводником от приложенного напряжения. Функция Элиашберга может быть определена лишь в металлах, являющихся сверхпроводниками. Более того, ее определение существенно затруднено для анизотропных сверхпроводников и сверхпроводников с малой длиной когерентности.
Было бы желательно попытаться вычислить спектральные плотности ЭФВ в рамках последовательного микроскопического подхода. Такие попытки уже предпринимались ранее и были во многих отношениях весьма непоследовательны. Для расчета спектральных плотностей ЭФВ необходимо знать электронный и фононный спектры возбуждений, а также матричный элемент ЭФВ. Во многих предыдущих попытках микроскопических расчетов ЭФВ фононные спектры металлов не вычислялись из первых принципов. Вместо этого для их определения использовались различные феноменологические модели типа модели силовых постоянных Борна-Кармана. Матричные элементы ЭФВ также вычислялись с использованием различных упрощенных подходов типа модели жесткого ячеечного потенциала. Но, пожалуй, наиболее существенным вопросом, практически необсуждавшимся ранее, является вопрос о том, какой электронный спектр должен использоваться в этих расчетах.
В большинстве работ по вычислению ЭФВ в качестве электронного спектра использовался спектр, возникающий в рамках метода функционала плотности. Как известно, метод функционала плотности (МФП) в его стандартной форме предназначен для описания свойств основного состояния взаимодействующих систем. В этом плане возможность использования МФП для расчета фононных спектров не вызывает сомнения. Дело в том, что в рамках адиабатического приближения для расчета фононов необходимо вычислить энергию основного состояния электронной подсистемы как функцию ионных координат. С этой целью в рамках МФП созданы достаточно мощные и эффективные методы, основанные на использовании теории статического линейного отклика. Соответствующие расчеты фононов проведены для большого числа металлов и демонстрируют хорошее согласие с экспериментальными данными.
Иная ситуация существует для микроскопических расчетов электрон-фононного взаимодействия и обусловленных им эффектов таких, например, как электросопротивление и теплопроводность. Эти эффекты не являются свойством основного состояния. Существуют два возможных пути микроскопического расчета таких явлений. Можно воспользоваться разработанным в последние годы методом зависящего от времени функционала плотности. Формально система уравнений, описывающая поведение взаимодействующей системы электронов и ионов во внешнем поле, представляется достаточно просто. Фактически же до сих пор отсутствуют какие-либо точные, и даже модельные представления для зависимости обменно-корреляционной энергии от плотности ионов. А именно эта величина и определяет электрон-фононное взаимодействие и его влияние на свойства электронной системы. Другой путь состоит в использовании так называемого ферми-жидкостного подхода к описанию эффектов электрон-фононного взаимодействия. Содержание этого обзора может быть представлено кратко следующим образом. Мы представим результаты многочастичного рассмотрения эффектов электрон-фононного взаимодействия в рамках гамильтониана Фрелиха, а также напишем о возможности прямого изучения локального электрон-фононноговзаимодействия в полупроводниках. В заключение обсудим дальнейшие возможности развития методов расчета ЭФВ.