
- •Твердое тело дальний и ближний порядок. Решетка и базис кристалл-лической структуры.
- •Вектор трансляции, векторы основных трансляций: кристалл-лографическая система координат.
- •Элементарная ячейка, ее параметры. Типы кристаллических решеток.
- •Обратная решетка Бравэ.
- •Искажения кристаллической решетки (дефекты, дислокации)
- •Распределение Ферми-Дирака. Энергия Ферми.
- •Динамика электронов в кристаллической решетки. Эффективная масса электронов в кристалле.
- •Физическое обоснование дырки.
- •Собственный полупроводник.
- •Примесный полупроводник –донор.
- •Примесные полупроводники
- •Примесные полупроводники – акцептор.
- •Концентрация носителей зарядов в собственном и примесном полупроводниках.
- •Диаграмма энергетических зон примесных полупроводников.
- •Донорные и акцепторные полупроводники
- •Процессы генерации и рекомбинации. Внутреннее электрическое поле.
-
Физическое обоснование дырки.
В физике твёрдого тела, ды́рка — это отсутствие электрона в электронной оболочке. В некоторых случаях, поведение дырки внутри кристаллической решётки полупроводника сравнимо с поведением пузыря в полной бутылке с водой[1]. Дырочная проводимость может быть объяснена следующим образом: представьте себе ряд людей сидящих в аудитории, где нет запасных стульев. Если кто-нибудь из середины ряда хочет уйти, он прыгает через спинку стула в пустой ряд и уходит. Здесь пустой ряд — аналогия зоны проводимости, а ушедшего человека можно сравнить с свободным электроном. Теперь представим, что ещё кто-то хочет прийти и сесть. В пустом проходе неудобно находиться, и он хочет сесть. Тогда зритель, сидящий возле пустого места пересаживается туда, и это повторяют все его соседи. Таким образом, пустое место как бы двигается к краю ряда. Когда вакантное место окажется рядом с новым зрителем, он сможет сесть в освободившееся место. В этом процессе каждый сидящий передвинулся вдоль ряда. Если представить, что зрители это отрицательно заряженные электроны, такое движение можно было бы назвать электрической проводимостью, тогда вакантные места обладают положительным зарядом. Это простая модель, показывающая как дырочная проводимость работает. Однако в реальности, из-за свойств кристаллической решётки, дырка не локализована в определённом месте, как описано выше, а размазана на площади многих сотен кристаллических решеток.
Для создания дырок в полупроводниках используется легирование кристаллов акцепторными примесями. Кроме того, дырки могут возникать и в результате внешних воздействий: теплового возбуждения электронов из валентной зоны в зону проводимости, освещения светом.
В случае кулоновского взаимодействия дырки с электроном из зоны проводимости образуется связанное состояние, называемое экситоном.
Тяжелые дырки — название одной из ветвей энергетического спектра валентной зоны кристалла.
--------------------------------------------
Еще один вид носителя зарядов это так называемые дырки. Они существуют в полупроводниках. Это вид носителя зарядов называется квазичастицей. Так как он как бы не существует, как частица, но при этом обладает всеми ее свойствами. Дырка это атом полупроводника, у которого в валентной зоне отсутствует электрон. То есть существует вакансия, которую мажет занять другой электрон.
Рисунок — 3 образование дырки в кристаллической решетки кремния
Атом с вакансией сам не перемещается внутри полупроводника. Так как он привязан к кристаллической решётке. Но вот вакансия может перемещаться по решётке полупроводника. Происходит это так. Вакансия в данном атоме занимается электронном из валентной зоны соседнего атома. Таки образом дырка перемещается из данного атома в соседний. В целом создается видимость, будто перемещается дырка, то есть атом с вакансией, хотя на самом деле движется только электрон.
-
Собственный полупроводник.
Собственные полупроводники - это полупроводники, электропроводность которых определяется собственными носителями заряда, появившимися в результате перехода носителей под действием температуры из валентной зоны в зону проводимости полупроводника. Механизм собственной проводимости характерен для сверхчистых полупроводниковых материалов, в которых концентрация примесей не превышает 1016...1024 м-3. Однако собственная проводимость наблюдается в полупроводниках также в том случае, когда примеси не оказывают заметного влияния на электропроводность при данной температуре.
Зонная диаграмма собственного полупроводника имеет вид, показанный на рис. 1.24, где Wc - нижний энергетический уровень зоны проводимости (дно зоны проводимости), Wv - верхний энергетический уровень валентной зоны (потолок валентной зоны), DWg=Wc-Wv - ширина запрещенной зоны, значение которой для различных полупроводниковых материалов находится в пределах 0,05...3 эВ.
Вместо энергии электрона W в ряде случаев при построении зонных диаграмм пользуются значениями энергетического потенциала j, который определяется из соотношения
,
В, (1.40)
где W - энергия электрона, эВ; e - заряд электрона, принятый за -1.
В этом случае, как показано на рис. 1.24, границам зон соответствуют энергетические потенциалы: jc - энергетический потенциал дна зоны проводимости и jv - энергетический потенциал потолка валентной зоны. Ширина запрещенной зоны Djg определяется разностью jc-jv.
Зонные диаграммы, построенные в координатах энергетических потенциалов j, удобно использовать при анализе контактных явлений в полупроводниках (в p-n переходах, переходах типа металл-диэлектрик-полупроводник и др.), для которых характерно наличие внутренних электрических полей. При этом значения энергетического потенциала j возрастают в направлении электрического поля.
Проведем
анализ зонной диаграммы
собственного
полупроводника,
представленной на рис. 1.24. Как уже
отмечалось, в собственном
полупроводнике при Т=0
валентная зона полностью
заполнена электронами,
а зона проводимости
абсолютно свободна.
В этих условиях полупроводник
ведет себя подобно
идеальному
диэлектрику, то
есть не
проводит электрический
ток.
При температуре Т >0 имеется вероятность того, что некоторые из электронов за счет тепловых колебаний решетки преодолевают потенциальный барьер DWg и "окажутся" в зоне проводимости. Такой переход, соответствующий генерации свободных носителей заряда, обозначен на рис. 1.24 стрелкой, направленной вверх. Одновременно в полупроводнике наблюдается процесс рекомбинации носителей заряда, обозначенный на рис. 1.24 стрелкой, направленной вниз. При установившейся температуре полупроводника скорости процессов генерации и рекомбинации равны.
При приложении к полупроводнику внешнего электрического поля Е электроны зоны проводимости переходят на близлежащие свободные уровни энергии в зоне проводимости и принимают участие в процессе электропроводности.
В результате перехода электрона в зону проводимости, в валентной зоне полупроводника остается свободное энергетическое состояние, представляющее дырку. Вследствие этого валентная зона оказывается не полностью заполненной электронами. Благодаря наличию незанятых состояний электроны валентной зоны также принимают участие в процессе электропроводности за счет эстафетных переходов под действием электрического поля на более высокие освободившиеся энергетические уровни. Совокупное поведение электронов валентной зоны можно представить как движение дырок, обладающих положительным зарядом q и эффективной массой m*.