Добавил:
ivanov666
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз:
Предмет:
Файл:Протонная микроскопия в радиографических методах исследования вещества. Учебное пособие
.pdf
11
Рис. 5. Схема ионно-оптической системы для радиографической
установки на пучке 9 ГэВ и огибающие пучка
Рис. 6. Траекторный анализ пучка с энергией 9 ГэВ в первой схеме
микроскопа с помощью программного пакета COSY Infinity
На рис. 7 и 8 изображены альтернативная схема микроскопа
“дублет + квадруплет” и результаты траекторного анализа пучка в
программе G4Beamline [15]. Особенностью пакета G4Beamline
является возможность расчета траекторий с учетом
взаимодействия частиц пучка с элементами канала (линзами,
стенками, коллиматорами, окнами и т.д.), так как пакет
подключается к программе Geant4 и ее библиотекам. Траекторный

12
анализ для второй схемы проведен с теми же параметрами пучка,
что и для первой схемы (см. параметры пучка на с. 9).
Рис. 7. Схема микроскопа в альтернативной компоновке
для моделирования в пакете G4Beamline
Коэффициент преобразования изображения в обеих
рассмотренных схемах был выбран равным “-1”, что связано с
габаритными ограничениями экспериментальной установки.
Оценим пространственное разрешение микроскопов в обеих
предложенных схемах. Пространственное разрешение
ионно-оптической системы вычисляется с помощью
коэффициентов транспортных матриц, соответствующих системам
линз, по методу, предложенному в [7].

13
Рис. 8. Результаты трассировки пучка в пакете G4Beamline
Хроматические аберрационные коэффициенты системы линз
определяют ошибку в конечной координате транспортируемой
частицы пучка. В первом порядке приближения по
для частицы пучка с начальными координатами (x, θ) конечная
координата может быть выражена следующим образом [7]:
'
,θθ
DRDRxDRRxRx
12
(*)
-
где
'
f
R
ij
'
и
R
ij
элементы транспортной матрицы;
-
111211
'
12
среднеквадратичное значение угла многократного кулоновского
рассеяния в исследуемом объекте. В рассматриваемом случае в
качестве
Влияние фактора
берется угловой аксептанс установки.
'
11
'
DRxDR θ
12
на разрешение
радиографической системы исключается из формулы (*), исходя
из условия согласования пучка системой линз. В нашем случае
условия согласования пучка обеспечивают квадрупольные линзы
формирующего дублета:
'
'
11
./θ
xRR
12
С учетом выполнения согласования выражение (*) можно
переписать в виде
pdpD /

14
'
.θ
DRRxRx
f
121211
Для обеих предложенных ионно-оптических схем
0,1
RR
, что соответствует зеркальному и перевернутому
1211
изображению объекта. Коэффициент транспортной матрицы
'
характеризует хроматические аберрации ионно-оптической
R
12
системы или хроматическую длину системы.
Для первой схемы микроскопа рассчитанная хроматическая
длина составляет 13,71 м, для второй-19,96 м. Соответствующие
величины аксептанса оцениваются как 6 и 5 мрад. Таким образом,
ожидаемые величины пространственного разрешения,
составляют 8 и 10 мкм для первой и второй схем соответственно.
Выбор схемы для экспериментальной установки является
предметом компромиса. Оптические решения схемы выбираются
исходя из габаритных размеров экспериментального зала,
характеристик имеющегося оборудования (линзы, коллиматоры,
диагностический инструментарий), при этом оптическая система с
минимальной длиной соответствует наилучшему
пространственному разрешению микроскопа [4, 16]. В реальном
физическом эксперименте оптимальное расстояние между
элементами микроскопа определяется исходя из характеристик
полей линз и параметров диагностического оборудования, а также
с учетом необходимости применения системы коллиматоров. На
рис. 9 показаны расчетные пространственные распределения
магнитного поля в квадрупольной линзе типа МЛ-15. Краевые
поля линз при достаточно близком расположении линз друг к
другу способны перекрываться, что может оказывать влияние на
динамику пучка.

15
3.
ПРОТОННЫЙ
МИКРОСКОП
НА
ЭНЕРГИЮ
1
ГэВ
реализован на синхроциклотроне SC-1000 Петербургского
института ядерной физики (Гатчина) для экспериментов по физике
высокой плотности энергии в веществе, а также для
протонолучевой диагностики, изображена на рис. 10. Эта схема
отличается от схем, рассмотренных ранее, формирующей
оптической системой [17].
Рис. 9. Распределение поля вдоль оси линзы (вверху) и вдоль полюса (внизу)
ДЛЯ СИНХРОЦИКЛОТРОНА ПИЯФ
Схема протонного микроскопа, который может быть

16
Рис. 10. Схема протонного микроскопа на энергию 1 ГэВ
с формирующим триплетом
В формирующей оптической схеме микроскопа применен
триплет электромагнитных линз с градиентом 8 Тл/м, что
увеличивает длину микроскопа, однако несколько улучшает
условия формирования “поля зрения” на мишени. Измерительная
часть микроскопа формируется оптикой в конфигурации “Русский
квадруплет”. Первоначально предполагалось использовать для
оптики измерительной части постоянные магниты, способные при
малых линейных размерах обеспечить высокий градиент поля.
Однако экспериментальные исследования в Лос-Аламосе показали,
что протонный микроскоп с линзами на постоянных магнитах
обладает нестабильностью чувствительности. Причиной быстрого
ухудшения пространственного разрешения микроскопа со
временем является деградация поля линз в условиях радиационной
нагрузки магнитов измерительной части микроскопа [18]. В
отличие от линз на постоянных магнитах, электромагнитные
линзы не имеют явной зависимости параметров поля от
радиационной нагрузки, не требуют ремагнитизации и обладают
высокой гибкостью в управлении и подстройке. В связи с этим в
окончательном варианте схемы микроскопа для SC-1000
формирующая часть разработана на электромагнитных линзах.

17
Предварительное моделирование в пакете G4Beamline, результаты
которого представлены на рис. 11, показало возможность
достижения пространственного разрешения 20 мкм. Для
корректной оценки влияния аберраций оптической схемы расчеты
проводились с уточнением распределения полей линз с помощью
пакета CST Studio (рис. 12). При этом было установлено, что в
предложенной схеме микроскопа влиянием краевых полей можно
пренебречь [17].
Рис. 11. Траекторный анализ в G4Beamline пучка протонов
с энергией 1 ГэВ

18
Рис.12. Распределение магнитного поля в электромагнитной линзе,
рассчитанное в CST Studio
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Протонная радиография является перспективным методом в
комплексе радиографических исследований вещества в
конденсированной и плазменной фазах. Пространственное
разрешение метода может достигать единиц микрон при
использовании пучков протонов с энергией в области
гигаэлектронвольт. Хроматические и геометрические аберрации
оптических систем микроскопов ограничивают пространственное
разрешение метода снизу. Стабильность чувствительности
протонографических установок определяется различными
факторами, в том числе правильным выбором схемы микроскопа,
в частности применением электромагнитных линз для его
формирующей и измерительной части. Выбор оптимальной схемы
микроскопа диктуется условиями конкретного физического
эксперимента, техническими возможностями и стоимостью
реализации проекта.

19
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ И ИНТЕРНЕТ-ИСТОЧНИКОВ
1.
LANL
1997
Tech.
rep.
LA-UR-974172.
2.
Schippers
J.M.,
Lomax
A.J.
Emerging
technologies
in
proton
3.
Depauw
N.,Seco
J.
Sensitivity
study
of
proton
radiography
and
4.
Barminova
H.Y.,
Turtikov
V.I.
Proton
microscope
design
for
5.
Barminova
H.Y.
Optical
scheme
development
for
ITEP
proton
6.
Garnett
R.W.
et
al.AConceptual
3-GeV
LANSCE
Linac
7.
Mottershead
C.T.,Zumbro
J.D.
Magnetic
optics
for
proton
8.
Morris
C.L.etal.
Flash
radiography
with24GeV/c
protons
//
9.
Sharkov
B.,Varentsov
D.
Experiments
on
extreme
states
of
10.
Antipov
Y.M.
et
al.Aradiographic
facility
for
the70GeV
11.
Maksimov
A.V.,
Tyurin
N.E.,
Fedotov
Y.S.
Optical
system
of
12.
Dymnikov
A.D.,
Yavor
S.Y.
Quadrupole
lenses
analogous
to
13.
Moliere
G.
Theorie
der
Streuung
schneller
geladener
Teilchen
II.
therapy // Acta Oncologica. 2011. V. 50. P. 838.
comparison with kV and MV x-ray imaging using GEANT4 Monte
Carlo simulations // Physics in Medicine and Biology. 2011.
V. 56. P. 2407.
9 GeV pRad facility // Journal of . Instrumentation. 2016. V. 11.
Art. P05021.
microscope based on a beam with 9 GeV energy. In Proceedings of the
2014 IEEE 20th Int. Workshop on beam dynamics and optimization
BDO’14. Saint-Petersburg, Russia. July 2014. P. 30.
Upgrade for Enhanced Proton Radiography. In Proceedings of the
IPAC’12. 2012. New Orleans, U.S.A. P. 4130.
radiography. In Proceedings of the 1997 IEEE Particle Acceleration
Conference. 1997. V. 2. P. 1397.
Journal of Applied Physics. 2011. V. 109. Art. 104905.
matter towards HIF at FAIR // Nuclear Instruments and Methods in
Physics Research Section A. 2014. V. 733. P. 238.
proton accelerator of the Institute of High Energy Physics //
Instruments and Experiment Technique. 2010. V. 53. P. 319.
the proton bombarding setup on the U-70 accelerator at the institute for
high energy physics // Technical Physics. 2014. V. 59. P. 1393.
axially symmetric system // Soviet Technical Physics. 1963. V. 33.
P. 851.
Mehrfach und Vielfachstreuung // Z. Naturforsch. 1948. V. 3a. P. 78.

20
14.
www.bt.pa.msu.edu/index_cosy.htm
15.
Roberts
T.J.etal.
G4Beamline
Program
for
Radiation
Simulations. In Proceedings of the EPAC’08. Genoa, Italy. 2008.
16.
Barminova
H.Y.
Peculiarities
of
proton
microscope
17.
Барминова
Е.Е.Протонная
радиография
для
диагностики
18.
Danly
C.R.,
Merrill
F.E.,
Barlow
D.,
Mariam
F.G.
Nonuniform
P. 2776.
development for the aims of proton radiography // Journal of Physics:
Conference Series. 2016. V. 747. Art. 012004.
плотной плазмы // Ядерная физика и инжиниринг. 2016. Т. 7.
Вып. 5. С. 408.
radiation damage in permanent magnet quadrupoles // Review of
Scientific Instruments. 2014. V. 85. Art. 083305.
Подписано в печать 14.05.2018. Формат 60х84 1/16.
Уч.-изд. л. 1,25. Печ. л. 1,25. Изд. № 005-1.
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ».
115409, Москва, Каширское ш., 31.
Редактор М.В. Макарова
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]
