4.Установить переключатель 7 в положение 3.
5.Нажать клавишу "τ(2)" и снять показание коэффициента
пропускания Т(λмакс) в %.
6. Измерить T = f(λ) с интервалом Δλ = 5 нм в диапазоне
Т(λ) = Т(λмакс) ~ 0,3Т(λмакс) с обеих сторон от максимума пропускания.
5.5. Обработка результатов измерений
Построить график зависимости Т(λ), с его помощью определить величину Δλп.ш.. Рассчитать по формулам (5.1) и (5.2) значения R и А, используя измеренные значения Т(λмакс) и λмакс.
5.6. Требования к отчету
Отчет должен содержать:
−описание принципа действия интерференционного фильтра на примере фильтра Фабри-Перо;
−краткое описание принципа действия спектрофотометра;
−структурную схему спектрофотометра;
−результаты эксперимента в виде табл. 5.1 и графика зависимости T(λ);
−результаты расчетов конструкционных параметров фильтра R и А.
|
|
|
|
Таблица 5.1 |
|
|
|
|
R |
λ, нм |
T |
Δλп.ш., нм |
A |
|
|
|
|
|
|
5.7.Контрольные вопросы и задания
1.Расскажите принцип действия интерференционного фильт-
ра (ИФ).
2.Опишите технологию изготовления ИФ с многослойными диэлектрическими зеркалами.
3.Опишите принцип действия дифракционного монохрома-
тора.
4.Опишите принцип действия вакуумного фотоэлемента.
39
5.Как зависит спектральная чувствительность фотоэлемента от свойств материала фотокатода?
6.Опишите технологию изготовления ИФ с металлическими зеркалами.
7.Опишите технологию напыления Al, Ag, Au методом термического напыления в вакууме.
8.Опишите технологию напыления Al методом катодного распыления.
5.8.Литература
1.ЗиС. Физика полупроводниковых приборов. – М: Мир, 1985.
2.Борн М., Вольф Э. Основы оптики – М: Наука, 1973.
40