но отражающих слоев) и А (коэффициент поглощения фильтра) следующим соотношениями:

Следовательно, при наличии измеренных значений λмакс, Δλп.ш. и Т можно рассчитать конструкционные параметры R и А по формулам (5.1) и (5.2).

Изготовление интерференционных фильтров

Металлические пленки Al, Ag или Au наносятся на прозрачное основание или методом термического напыления в вакууме, или методом катодного распыления соответствующих мишеней. Многослойные диэлектрические пленки типа ZnO, ZnS, SiO2 наносятся методом катодного распыления.

5.3. Приборы и материалы

Измерения λмакс, Δλп.ш, и Т осуществляются с помощью спектрофотометра типа СФ-46 со встроенной микроЭВМ. Внешний вид спектрофотометра приведен на рис. 5.1.

Рис. 5.1. Спектрофотометр типа СФ-46

36

Принцип действия и схема спектрофотометра

Спектрофотометра СФ-46 измеряет отношение двух световых потоков: потока, прошедшего через исследуемый образец, и потока, падающего на исследуемый образец (или прошедшего через контрольный образец).

Структурная схема спектрофотометра представлена на рис. 5.2.

Рис. 5.2. Структурная схема спектрофотометра

Световой поток из осветителя попадает в монохроматор через входную щель и разлагается дифракционной решеткой в спектр. В монохроматический поток излучения, поступающий из выходной щели в кюветное отделение, поочередно вводятся контрольный и исследуемый образцы. Излучение, прошедшее через образец, попадает на катод фотоэлемента в приемно-усилительном блоке. Электрическое напряжение на резисторе Rн, включенном в анодную цепь фотоэлемента, пропорционально потоку излучения, падающего на фотокатод.

Усилитель постоянного тока с коэффициентом усиления, близким к единице, обеспечивает передачу сигналов на вход микропроцессорной схемы (в дальнейшем – МПС). Микропрцессорная схема поочередно измеряет и запоминает напряжения, пропорциональные темновому току фотоэлемента (Uт), току, прошедшему через контрольный образец (U0), и току, прошедшему через исследуемый образец U. После измерения напряжений, микропроцессорная схема рассчитывает коэффициент пропускания исследуемого образца по формуле:

37