- •Первый билет
- •1.Электрические свойства веществ. Полупроводники. Подвижные носители заряда в полупроводниках. Неподвижные заряды.
- •16.Свойства МДП структуры. Пороговое напряжение.
- •31.Классификация интегральных схем (по типу сигналов на входе и выходе, по технологии изготовления, по типу используемых элементов, по назначению)
- •46.Логические элементы на комплементарных МДП транзисторах.
- •Второй билет
- •2. Энергетические диаграммы собственного и примесного полупроводника.
- •17. МДП транзисторы с индуцированным и встроенным каналом.
- •32. Изготовление подложек интегральных схем.
- •47. Логические элементы на биполярных транзисторах (ТТЛ элемент).
- •Схема простейшего двухвходового ТТЛ-элемента И-НЕ
- •Третий билет
- •3. Электропроводность собственного и примесного полупроводника. Зависимость электропроводности от температуры
- •18. Статические характеристики МДП транзисторов. Параметры МДП-транзисторов: пороговое напряжение, удельная крутизна, паразитные ёмкости
- •33. Фотолитография. Факторы, ограничивающие минимальный топологический размер
- •48. Принципы построения интегральных схем запоминающих устройств
- •Четвертый билет
- •4. Концентрация носителей заряда в собственном и примесном полупроводнике.
- •19. МДП транзистор с плавающим затвором. Арсенид-галлиевый полевой транзистор
- •34. Диффузия примесей, эпитаксия, напыление.
- •49. Ячейки памяти интегральных схем запоминающих устройств
- •Пятый билет
- •5. Диффузионный и дрейфовый ток
- •20. Биполярный транзистор. Схемы включения. Режимы
- •35. Устройство и изготовление интегрального МДП транзистора.
- •50. Особенности схемотехники аналоговых интегральных схем.
- •Шестой билет
- •6. Контакты и структуры, используемые в электронике. M-n переход, p-n переход, МДП структура, n-p-n и p-n-p структуры.
- •21. Схема с общей базой, схема с общим эмиттером. Соотношения токов, параметры и статические характеристики.
- •36. Устройство и изготовление интегрального биполярного транзистора.
- •51. Генератор стабильного тока, токовое зеркало, цепь сдвига уровня.
- •Седьмой билет
- •7. Контактная разность потенциалов, токи в контактах веществ в отсутствие внешнего напряжения. Равновесное состояние.
- •22. Инерционные свойства МДП и биполярных транзисторов. Уменьшение инерционности: выбор типа полупроводника и размеров структур.
- •37. Устройство и изготовление интегральных схем на комплементарных МДП транзисторах.
- •52. Дифференциальный усилительный каскад. Дифференциальная и синфазная составляющие входного сигнала.
- •Восьмой билет
- •8. Барьерная и диффузионная ёмкость.
- •23. Импульсные свойства МДП и биполярных транзисторов. Временные диаграммы.
- •38. Пассивные элементы интегральных схем.
- •53. Операционный усилитель. Коэффициент усиления, входное и выходное сопротивление, частотные характеристики.
- •Девятый билет
- •9. Электрический и тепловой пробой в контактах и структурах.
- •24. Частотные свойства МДП и биполярных транзисторов. Частотные характеристики.
- •39. Роль и методы изоляции элементов интегральных схем.
- •54. Операционный усилитель с обратной связью. Формула Блэка.
- •Десятый билет
- •10. Контакт металл-полупроводник. Диоды Шотки
- •25. Контакт проводник – вакуум. Термоэлектронная эмиссия. Электронные лампы.
- •40. Корреляция параметров элементов интегральных схем.
- •55. Примеры решающих схем на ОУ (сумматор, вычитатель, интегратор, дифференциатор, нелинейные операции).
- •Одиннадцатый билет
- •26. Шумы электронных приборов.
- •41. Особенности схемотехники цифровых интегральных схем.
- •56. Аналого-цифровые интегральные схемы. АЦП и ЦАП.
- •Двенадцатый билет
- •12. P-n переход: контактная разность потенциалов, толщина, напряжение пробоя, ёмкость p-n перехода.
- •27. Компьютерное моделирование диодов и транзисторов.
- •42. Ключ на МДП транзисторах с одинаковым каналом.
- •57. Приборы с зарядовой связью. Матрицы для фототехники.
- •Тринадцатый билет
- •13. Идеализированная и реальная вольтамперная характеристика m-n и p-n диодов.
- •28. Основные задачи электроники. Интегральные схемы. Наноэлектроника.
- •43. Ключ на комплементарных МДП транзисторах.
- •58. Жидкостно-кристаллические экраны.
- •Четырнадцатый билет
- •14. Мощный выпрямительный диод, импульсные и высокочастотные диоды, стабилитрон, варикап. Свето- и фотодиоды. Солнечные батареи.
- •29. Основные понятия и числовые характеристики надёжности.
- •44. Ключи интегральных схем: среднее время переключения, средняя потребляемая мощность, средняя работа переключения.
- •59. Интегральные схемы на переключаемых конденсаторах.
- •Пятнадцатый билет
- •15. Влияние выбора типа полупроводника, размеров, концентрации примесей и температуры на свойства диодов.
- •30. Основные принципы современной электроники. Закон Мура.
- •45. Логические элементы НЕ, И, ИЛИ, принципы их построения.
Девятый билет
9. Электрический и тепловой пробой в контактах и структурах.
При обратном смещении поле p-n перехода увеличивается и может достигнуть предела электрической прочности материала, после чего наблюдается быстрый рост обратного тока. Так возникает электрический (обратимый) пробой, который бывает двух видов - лавинный и туннельный.
Кинетическая энергия приобретаемая свободными носителями заряда на длине свободного пробега при лавинном пробое, становиться достаточной для ударной ионизации атомов полупроводника. СНЗ лавинообразно размножаются и, с ростом обратного напряжения, быстро растет обратный ток. Лавинный пробой характерен для p-n переходов с большой толщиной области пространственного заряда («широкий» p-n переход).
В«узких» p-n переходах электрический пробой наступает при малых напряжениях и имеет туннельную природу. Для кремниевых диодов напряжение туннельного пробоя 6 В и меньше.
Воснове туннельного пробоя лежит туннельный эффект, связанный с переходом электронов через тонкий потенциальный барьер без изменений энергии. Необходимым условием туннельного пробоя перехода электронов является наличие занятых энергетических состояний в валентной p-области и свободных состояний с теми же значениями энергии в n-области.
При достаточно большом обратном токе I и напряжении U, в p-n переходе может возникнуть положительная обратная связь (ПОС) по температуре, при которой, происходят следующие процессы: выделение тепла Q = U·I → рост температуры → рост концентрации снз → рост тока и так далее. Рост тока и тепловыделения стимулируют друг друга. В результате такого теплового необратимого пробоя материал перегревается и происходит деструкция материала.
24. Частотные свойства МДП и биполярных транзисторов. Частотные характеристики.
МДП:
Частотные свойства полевых транзисторов определяются временем пролета носителей в канале и паразитными ёмкостями.
Частотные свойства полевых транзисторов определяются постоянной времени RC - цепи затвора. Применение МДП-транзисторов в усилительных каскадах с большим входным сопротивлением возможно в диапазоне частот, не превышающих сотен килогерц - единиц мегагерц.
При работе в переключающих схемах скорость переключения полностью определяется постоянной времени RC - цепи затвора. У полевых транзисторов с изолированным затвором входная емкость значительно меньше, поэтому их частотные свойства намного лучше, чем у полевых транзисторов с р-п - переходом.
Биполярный транзистор:
При изменении частоты сигнала или при подаче импульсных сигналов на работу транзистора и на его параметры могут существенно влиять инерционные процессы, обусловленные наличием реактивностей (в основном паразитных емкостей переходов) и конечным временем переноса носителей через область транзистора.
Инерционные свойства транзистора определяют возможности его использования в конкретных электрических схемах, особенно в усилительных и генераторных устройствах, работающих на высоких частотах.
39. Роль и методы изоляции элементов интегральных схем.
Роль:
Монолитная интегральная схема представляет собой небольшой кристалл полупроводника, чаще всего кремния, на котором размещается множество транзисторов и других элементов, которые необходимо изолировать друг от друга.
Методы изоляции:
1. Изоляция обратно смещенным p–n-переходом.
Весь эпитаксиальный слой разбивается на отдельные n-области, изолированные посредством р-областей. Для надежной изоляции необходимо, чтобы р-n-переход между диффузионным р-слоем и
n-эпитаксиальным слоем был смещен в обратном направлении. Однако эта изоляция не идеальна, так как между изолированными n-областями и р-подложкой существует ток утечки и паразитная барьерная емкость.
2. Изоляция диэлектриком.
Принципиально возможна и диэлектрическая изоляция элементов ИС. Примером такой изоляции являются ИС «кремний на сапфире».
Синтетический сапфир, в отличие от драгоценного природного сапфира, относительно недорог и довольно часто применяется в различных технических устройствах. Он является кристаллическим диэлектриком, очень прочен, прозрачен, устойчив к самым разным воздействиям. Его отличительной особенностью является совпадение параметров кристаллической решётки с параметрами решётки кремния.
3. Изопланарная технология изоляции (комбинированный метод)
В ее основе лежит локальное сквозное прокисление тонкого эпитаксиального слоя кремния n-типа, который в результате оказывается разделенным на отдельные карманы n-типа аналогично разделительной диффузии, но с тем отличием, что боковые изолирующие слои являются не полупроводниковыми, а диэлектрическими.
Однако данные части карманов по-прежнему разделены встречно включенными р-n-переходами. Заполненные окислом области, отделяющие коллектор от эмиттера и базы, позволяют снизить емкость коллектор - подложка и повысить напряжение пробоя изолирующего р-n-перехода.
54. Операционный усилитель с обратной связью. Формула Блэка.
Обобщённая схема усилителя с обратной связью представлена на рис. 46.
Операционный усилитель (ОУ) – одна из наиболее распространённых АИС, которая применяется как самостоятельная ИС так и в составе ИС с большой степенью интеграции. На ОУ могут быть построены разнообразные усилители, фильтры, корректоры АЧХ и ФЧХ, преобразователи сигналов, генераторы сигналов различной формы.
Она содержит усилитель с коэффициентом усиления по напряжению Ku, часть выходного сигнала которого возвращается на вход через цепь обратной связи с коэффициентом передачи β. Если обратная связь положительная (ПОС), напряжение обратной связи Uoc во входном сумматоре складывается с входным напряжением Uвх. Если обратная связь отрицательная (ООС), эти напряжения вычитаются. Коэффициент усиления усилителя с обратной связью Kuoc определяется формулой Блэка:
Kuoc = Ku /(1 ± β Ku)
Здесь знак «+» соответствует ООС, знак «-» соответствует ПОС.
