- •Тема: Элементы зонной теории твёрдых тел
- •Уравнение Шредингера для электрона в кристалле
- •2.Функция Блоха
- •3. Метод Кронига-Пенни
- •4. Первая зона Бриллюэна
- •5. Дисперсионные кривые
- •6. Поступательное движение электронов в кристалле
- •1. Равновесные и неравновесные носители заряда (определение)
- •7. Движение электрона в кристалле под действием внешней силы. Квазиимпульс электрона. Эффективная масса электрона
- •Тема: Неравновесные носители заряда в полупроводниках
- •2. Время жизни. Скорости генерации и рекомбинации
- •3. Уравнение непрерывности
- •4. Диффузия и дрейф неравновесных носителей
- •4.1. Введение
- •4.2. Эффективный коэффициент диффузии
- •4 .3. Стационарное распределение неравновесных носителей за слоем генерации
- •4.4. Максвелловское время релаксации
- •Тема: Оптические явления в полупроводниках
- •Поглощение света полупроводниками
- •Коэффициент поглощения света
- •1.2. Собственное поглощение
- •1.3. Экситоны
- •1.4. Поглощение света свободными носителями зарядов
- •1.5. Переходы между подзонами
- •1.6. Примесное поглощение
- •Тема: Эффект Ганна
- •1. Возникновение отрицательной дифференциальной проводимости в полупроводниках в сильных электрических полях
- •2. Отрицательная дифференциальная проводимость в сильном электрическом поле в арсениде галлия
- •3. Электростатистические домены в полупроводниках
- •Тема: Контакт металла с полупроводником
- •Запирающий слой
- •Энергитические уровни в полупроводнике и металле
- •Выпрямление на запирающем контакте металла и полупроводника
- •Тема: Полупроводниковые диоды
- •Способы получения p-n перехода
- •Равновестное состояние p-n-перехода
- •3. Барьерная ёмкость p-n-перехода
- •4. Токи, протекающие через p-n-переход
- •5. Импульсные и высокочастотные свойства p-n-перехода
- •5.1. Импульсные свойства
- •5.2. Диффузионная емкость p-n-перехода
- •5.3. Способы повышения быстродействия диодов
- •5.4. Высокочастотные свойства p-n-перехода
- •6. Пробой p-n-перехода
- •1) Тепловой пробой
- •2) Лавинный пробой
- •3) Туннельный пробой
- •4) Поверхностный пробой
- •7. Туннельные диоды
- •8. Лавинно-пролетные диоды
- •Тема: Физические принципы работы транзисторов
- •1. Принцип работы биполярного транзистора
- •2. Параметры и выходные характеристики транзисторов
- •2.1. Параметры транзисторов
- •Выходные характеристики транзистора
- •2.3. Схема с общим эмиттером
- •Физическая природа усиления тока в схеме с общим эмиттером
- •2.4. Пробой коллекторного перехода
- •3. Переходные процессы в транзисторах. Дрейфовые транзисторы
- •3.1. Переходные процессы в транзисторах
- •3.2. Дрейфовые транзисторы
- •3.3. Предельная частота усиления
- •5. Полевые (униполярные) транзисторы
- •5.1. Полевые транзисторы мдп-структуры (с изолированным затвором)
- •5.1.1. Структура металл-диэлектрик-полупроводник
- •5.1.2. Полевые транзисторы мдп-структуры
- •5.2. Полевые транзисторы с управляющим p-n-переходом
2. Время жизни. Скорости генерации и рекомбинации
Процесс генерации характеризуют скоростью генерации – числом носителей (или пар носителей), возбуждаемых в единицу времени в единице объема: g.
Процесс рекомбинации характеризуют скоростью рекомбинации – числом носителей (или пар носителей), рекомбинирующих в единицу времени в единице объема: R.
Каждый
свободный носитель, появившийся в
соответствующей зоне, проводит там (до
рекомбинации) в среднем некоторое время
– время
жизни
.
Скорость рекомбинации, время жизни и
концентрация носителей связаны между
собой соотношением:
– для электронов (5)
и
– для дырок. (6)
Здесь
,
,
,
– скорости рекомбинаций и времена жизни
для электронов и дырок, соответственно.
Если электроны и дырки рекомбинируют парами, то их скорости рекомбинации равны между собой:
. (7)
Отсюда с учетом (5) и (6) имеем:
. (8)
Из
(8) видно, что, если
,
как это имеет место в примесных
полупроводниках, то и
.
К примеру, в n-полупроводнике
и из (8) следует, что тогда и
.
Это означает, что время
жизни основных носителей больше,
чем неосновных
(!).
Вместе
с изменением концентрации неравновесных
носителей (
)
изменяются и времена жизни
и
.
Так, если, например,
,
то согласно (7) мы имеем:
. (9)
При
равенство (9) для различных
может быть удовлетворено только тогда,
когда
и
изменяются
вместе с изменением
.
Условимся
далее обозначать времена жизни равновесных
носителей нулевыми нижними индексами:
и
,
а времена жизни неравновесных носителей
без них:
и
.
3. Уравнение непрерывности
Помимо генерации и рекомбинации изменение концентрации свободных носителей заряда может происходить также за счет протекания токов.
Рассмотрим,
как изменяется число дырок
в некотором выделенном элементе объема
кристалла
при протекании через него дырочного
тока плотностью
.
Через
грань (1) в элемент объема dV
площадью
за время
войдет заряд:
(1)
то есть войдет дырок:
. (2)
За
то же самое время через грань (2) выйдет
дырок:
. (3)
Если
разность (
)
поделить на объем dV,
мы получим изменение концентрации дырок
около точки с координатами x,
y,
z:
. (4)
Если
дырок выйдет
больше, чем войдет
,
то будет убыль дырок. Поэтому
в правой части (4) стоит знак «–».
Аналогичные
вклады в изменение концентрации дырок
дадут другие компоненты дырочного тока
и
.
Суммируя их после деления на dt
и перехода к частным производным,
получим:
. (5)
Такое же уравнение мы можем записать для электронов:
. (6)
Если теперь учесть, что в изменение концентрации вносят еще вклад процессы генерации и рекомбинации, то получим:
. (7)
Эти уравнения называются уравнениями непрерывности.
Поскольку
равновесные скорости генерации и
рекомбинации равны между собой (
,
то в уравнениях непрерывности можно
учитывать только скорости генерации и
рекомбинации неравновесных
носителей.
Тогда с учетом того, что
(
)
и
(
),
система уравнений (7) перепишется:
,
(8)
где
и
– скорости генерации (скорости
дополнительной
генерации)
неравновесных электронов и дырок,
соответственно.
