с)

Рис. 11. Модель шарообразной полости.

а - параметры дефекта, б - формулы для расчета поля вне полости, с - формулы для расчета поля внутри полости

4.Выполнение работы

1.Соберите устройство (Рис. 1). Рассчитайте ток намагничивания. Примите решение о возможности контроля способом остаточной намагниченности по уровню чувствительности А.

2.Проверьте однородность намагничивания контролируемого образца в области дефекта. Для этого установите образец на электромагнит дефектами вниз, ориентируя протяженный дефект вдоль намагничивающего поля. В

соответствии с заданием (Таб. 5) проведите регистрацию Hz , Hx и Hy с шагом в 1 мм. Контролируйте расстояние датчик от поверхности образца. Постройте графики Hz , Hx , Hy и используйте полученные результаты

для корректировки.

3. Установите образец на электромагнит дефектами вверх. Выберите ориентацию дефектов в соответствии с задачей их наилучшего обнаружения. Проведите регистрацию топологии магнитного поля дефекта в соответ-

22

ствии с заданием (Таб. 5). Размер исследуемой области должен превышать размер дефекта в 3 – 4 раза. Зарегистрируйте составляющие магнитного поля с шагом 100мкм, а в зоне дефекта – с шагом 50мкм. Результаты измерений занесите в таблицу.

Таб. 5. Задание на лабораторную работу

4.По результатам измерений постройте графики составляющих магнитного поля с учетом среднего значения напряженности магнитного поля ОК.

5.Рассчитайте кривые полей рассеивания над дефектом. Сравните характер распределения экспериментальных и теоретических кривых. Зафиксируйте это в выводе по работе.

5.Содержание отчета

Отчет должен содержать:

1.Расчет магнитной цепи лабораторной работы. (Ток намагничивания I =

3А).

2.Обоснованное доказательство возможности / невозможности контроля образца способом остаточной намагниченности;

3.Результаты исследования однородности намагничивающего поля (Ток намагничивания I = 3А).

4.Результаты регистрации магнитного поля дефекта (Ток намагничивания I = 3А).

5.Рассчитанные кривые полей рассеянья над дефектом.

6.Сравнительный анализ поведения кривых полей рассеянья.

6. Контрольные вопросы

1.Какова технология магнитопорошковой дефектоскопии?

2.Как выбрать способ намагничивания объектов контроля?

3.Сравните виды магнитных преобразователей.

4.Опишите преобразователь Холла.

5.Сравните топологию магнитного поля прямоугольного дефекта и топологию магнитного поля шарообразного дефекта.

6.Рассчитайте магнитную цепь Ш - образного магнитопровода.

23

7. Как на расчет магнитной цепи лабораторной работы повлияет появление зазора между деталью и полюсом П – образного магнитопровода?

8. Почему оптимально обнаруживаются дефекты, направление которых совпадает с направлением тока намагничивания?

9.Оцените влияние величины зазора на получаемую величину поля в магнитной цепи П – образного магнитопровода.

10.Оцените влияние размера сечения П – образного магнитопровода на получаемую величину поля в магнитной цепи.

11.Оцените влияние длины магнитной линии П – образного магнитопровода на получаемую величину поля в магнитной цепи.

12.Как подготовить П – образный приставной магнитопровод к работе с цилиндрическими объектами контроля.

7. Список литературы

1.Зацепин Н.Н., Коржова Л.В. Магнитная дефектоскопия. Минск: Наука

итехника, 1981.-208 с.

2.Неразрушающий контроль: справочник в 8 томах под редакцией В.В.Клюева.- т.6. М.: Машиностроение 2004.-828 с.

3.Неразрушающий контроль и диагностика: Справочник под редакцией В.В.Клюева. М.: Машиностроение, 2005.-656 с.

4.Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий: справочник под редакцией В.В.Клюева.- кн.2. М.: Машиностроение, 1976.-352 с.

24