Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Арсенид галлия. Получение, свойства и применение

.pdf
Скачиваний:
44
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
18.36 Mб
Скачать

300 И З Л У Ч А Т Е Л Ь Н А Я Р Е К О М Е 1 Ш А Ц И Я [ГЛ. 6

легировании ограничивается недостатком информации о свойствах примесных зон прп сильном легировании и об энергетическ м спектре примесей в арсениде галлия.

Зависимость интенсивности излучения от концентра­ ции при 77 и 300 ° К для кристаллов п- и р-тппа имеет вид кривой с максимумом. Спад интенсивности рекомбннациоиного излучения прп больших концентрациях объясняется увеличением доли безызлучателыюй рекомбинации через несовершенства кристалла, которые возникают при боль­ ших уровнях легирования. Интересен тот факт, что макси­

мум

интенсивности

нзлучательной рекомбинации при

3000

К наблюдается

тогда, когда концентрация акцепто­

ров существенно больше оптимальной концентрации для

излучателыюй рекомбинации

прп

77 ° К (р^ 2• 101 0

см-3).

Существует такая область NA(p

6

• 101 8 —1 • 101 в см~3),

в ко­

торой квантовый выход нзлучательной рекомбинации прп 300 0 К и при 77 ° К одинаков.

Прп возбуждении электронным пучком возможно ползг чнть стимулированное излучение. Стимулированное из­ лучение сначала было получено иа кристаллах р-тппа [39], а позже на кристаллах га-тппа [45], причем пороги генера­ ции в кристаллах п- п р-тнпа приблизительно совпадают.

Из вышесказанного впдно, что результаты по рекомбинацпонному излучению кристаллов п- и р-типа с различ­ ной концентрацией носителей; при возбуждешш светом и электронным пучком находятся в хорошем согласии и несут в себе информацию о характере механизма нзлучательной рекомбинации при различных уровнях легирования.

6.3. Фотолюминесценция кристаллов, легированных кремнием и германием

6.3.1. Кремний. Ранее указывалось, что основной при­ месью-спутником в арсениде галлия является кремний. Во многих случаях присутствие атомов кремния в кристал­ лах является нежелательным — невозможно получить и исследовать чистый арсенид галлия и трудно исследовать поведение других специально вводимых прнмесен.

Однако кремний является и благоприятной примесью.

Так, электронно-дырочные структуры арсенида

галлия,

у которых п- и р-области были получены путем

легирова-

В.З] Ф О Т О Л Ю М И Н Е С Ц Е Н Ц И Я . Л Е Г И Р О В А Н Н Ы Х К Р И С Т А Л Л О В 301

пия кремнием, являются самыми высокоэффективными пре­ образователями электрического тока в спонтанное излу­ чение при комнатной температуре [68, 69]. По этим двум причинам необходимо всестороннее изучение поведения атомов кремния в арсениде галлия и их проявления в раз­ личных процессах, и, прежде всего, в излучательной ре­ комбинации. Однако изучение роли атомов кремния в ар­ сениде галлия, помимо указанных выше трудностей, ос­ ложняется еще и тем, что трудно получить кристаллы с различной концентрацией атомов кремния, начиная от малых концентраций и до предельно возможных.

Фотолюминесценция арсенида галлня, легированного кремнием, изучалась в работах [15, 70, 72—76], кристал­

лы

га-типа

изучались в работах [15, 51, 70, 72], р-типа

в

работах

[51, 73,

74].

 

 

 

 

 

Во всех

этих работах фотолюминесценция

изучалась

в основном при 77° К, данные при комнатной

температуре

чмеются только в работах [73, 74].

 

 

во

Энергия

максимума

краевой

полосы излучения hvm

всех работах (за исключением [70]) меньше

ширины

запрещенной

зоны

нелегированного арсенида

галлня.

В

работе [70] при

концентрации

электронов

4 - 1 0 1 8 с л 1 - 3

hvm>sg

(77° К).

 

краевого излучения монокристалл

 

Типичные спектры

лов га-типа, по-разному легировапных кремнием и получен-* ных методом горизонтальной направленной кристаллиза­ ции, представлены на рис. 6.11.

При 77 ° К в

спектре краевого излучения монокристал­

ла с наибольшей

концентрацией электронов (?г=3,5- 101 Э см3)

обнаруживается два максимума А и Ах с энергией hvMA~ «*1,52 эв и kvmA^l ,43 эв. При концентрации электронов порядка 101 8 см~3 донорные уровни кремния слиты в при­ месную зону, которая в свою очередь слита с зоной прово­ димости, и электронный газ вырожден. Поэтому можно сделать вывод, что как полоса А, так и полоса Аг обсуловлены излучательиыми переходами с одних и тех же состоя­ ний в зоне проводимости. Разность hvmA (1,52 эв) hvMAT (1,49 эв) =0,030 эв, т. е. приблизительно равна SA (Si) [15, 73, 77]. Это дает основание думать, что излучение по­ лосы А обусловлено переходами зона проводимости — валентная зона, а полосы Ах — переходами зона проводи­ мости — акцепторные уровнн кремния.

302

И З Л У Ч А Т Е Л Ь Н А Я Р Е К О М Б И Н А Ц И Я

[ГЛ. 6

При меньших концентрациях электронов спектры кра­ евого излучения при 77° К состоят пз одной широкой по­ лосы без структуры (кривые 1 и 2 ) . Вероятно, что спектры краевого излучения этих кристаллов, обусловлены теми

Энергия дюшЭнзЗ, гв

Рис. 6.11. Спектры краевого излучения кристаллов л-типа, леги­ рованных кремнием.

К о н ц е н т р а ц и я э л е к т р о н о в : 1 — 1 1 0 " ; 2 — 2,4-10"; 3 3,510" ; 4 — I X

Х 1 0 " с и - 3 ( н е л е г и р о в а н н ы й n - G a A s ) . •

же переходами, что н спектр более сильно легированного

кристалла (кривая 3), но из-за

сильного перекрытия пере­

ходы невозможно разделить.

 

 

Для сравнения иа рис. 6.11

представлен спектр

краево­

го излучения нелегированного

кристалла (п =1 • i0ie

см~~а),

который был получен из расплава стехиометрического со-

е.з] Ф О Т О Л Ю М И Н Е С Ц Е Н Ц И Я Л Е Г И Р О В А Н Н Ы Х К Р И С Т А Л Л О В ЗОЬ1

става и содержал -лишь примеси-спутники (в основном кремний). Спектр излучения этого кристалла (кривая 4)

имеет одну симметричную полосу

с hvm =1,508 эв, полу­

ширина

которой

составляет

0,015 эв. Так как разность

ег (1,514

ae) — hvm

(1,508 + 0,002 эв) =0,006±0,002 эв, т. е.

близка к энергии ионизации

кремния в доиорном состоя­

нии, то

можно

полагать,

что

излучение полосы с

A v m = 1,508 эв связано с переходами доиорные уровни крем­ ния — валентная зона.

При 295° К спектры краевого излучения этих же леги­ рованных кристаллов состоят из одной полосы без струк­

туры. При этом энергия максимума этих полос

больше

значения ширины запрещенной зоны и hvm

тем

больше,

чем больше концентрация электронов (hvm

1,436

эв при

л = 1 . 1 0 1 8 с л 1 - 8 и Avm =1,466 эв при п =3,5-101 4 ал-3),

т. е.

чем выше уровень Ферми в зоне проводимости. Поскольку имеется вырождение электронного газа в этих кристаллах и hvm > &g, то, следовательно, имеют место переходы зона проводимости — валентная зона. Однако вследствие того, что полосы являются широкими (полуширина полос со­ ставляет —0,1 эв, т. е. 6^> кТ), вероятно, имеют место и

переходы зона проводимости — акцепторные

уровни

кремния.

 

На рпс. 6.12 представлены спектры излучения

эпптакси­

альных слоев арсенида галлия «-типа (кривые 1—4), получеиных'прп выращивании из раствора GaAs—Ga с добавле­ нием различного количества кремния.

При 77 °К спектр краевого излучения эпптаксиальных слоев, полученных при добавлении 0,001 вес. % Si в ра­ створ GaAs—Ga, представляет одну полосу В с Ытв = = 1,508 эв (кривая!), и излучение этой полосы вызвано пе­ реходами доиорные уровни кремния — валентная зона. Спектр излучения эпитаксиальных слоев, содержащих

0,005

вес.

%

Si в

растворе

GaAs — Ga

(кривая

2),

в отлпчие

от

спектра, представленного кривой

!,^имеет

структуру:

энергия

основного

максимума

С

с

hvmc

=

= 1,482 эв и энергия

перегиба коротковолновой

ступеньки

равна

энергии

максимума

полосы В с hvmB

 

=1,508

эв.

Если учесть, что разность hvms

(1,508 эв)hvmc

(1,482 эв) =

=0,026 эв, т. е. совпадает

с еА

(Si), то можно сделать вы­

вод, что излучение полосы С обусловлено переходами донорные уровни кремния — акцепторные уровни кремнпя.

301 И З Л У Ч А Т Е Л Ь Н А Я Р Е К О М Б И Н А Ц И Я (ГЛ. 6

Расположение атомов кремния в обоих подрешетках уве­ личивает вероятность донорно-акцепторных переходов, т. е. увеличивается эффективность излучения полосы С

по сравнению с полосой В.

j

На длинноволновой стороне спектров излучения эпи-

такспалг.пого арсенпда галлия ?г-типа имеется

ступенька

Энергия ротонов, эв

Рис. 6.12. Спектры фотолюминесценции эпитаксиальпых слоеп л-тппа, легированных кремнием.

К о п ц е и т р а ц и я атомов к р е м н и я в растворе - . GaAs

— Ga : l — 0,001; 2 — 0,005;

3 0,01; 4 0,05 вес .

% .

D, эволюция которой четко связана с концентрацией ато­ мов кремния в растворе GaAs—Ga при легировании (кри­ вые 2, 3, 4). По мере увеличения концентрации атомов кремния в жидком растворе арсенида галлия в галлии концентрация электронов в эпитаксиальпом слое слабо увеличивается от 101 7 до 1 • J О1 8 см~3, а интенсивность по­ лос В к С уменьшается и начинает увеличиваться интеп»

С.З] Ф О Т О Л Ю М И Н Е С Ц Е Н Ц И Я Л Е Г И Р О В А Н Н Ы Х К Р И С Т А Л Л О В 305

снвность полосы D. При этом положение максимума по­ лосы D сдвигается в длинноволновую область. Однако энергетическую модель переходов, которые ответственны за излучение полосы D, пока создать невозможно.

При комнатной температуре спектры краевого излуче­ ния этих же эиитаксиальиых слоев ?г-типа состоят из од­ ной полосы С. Энергия максимума этой полосы становит­

ся тем меньше, чем больше концентрация

атомов

кремния

в растворе (hvmC'

=1,423 эв при 0,001 вес. % Si и

Avm C ' =

—1,39 эв при

0,05 вес. % Si в растворе GaAs—Ga). Так как

uvm C .< Ед и

hvmC'

(1,423 эв)^ее—ьА

(Si), а

kT^>ED

(Si), то можно утверждать, что излучение полосы С" выз­ вано переходами зона проводимости — акцепторные уров­ ни кремния. Интенсивность излучения полосы С для ле­ гированных кремнием эпитакснальных слоев га-типа пре­ вышает интенсивность этой же полосы для нелегировапного эпитаксиальпого слоя га-типа более чем на порядок.

Из сравнения результатов исследования спектров излу­ чения монокристаллов и слоев га-типа обращают на себя внимание два обстоятельства.

1. Энергия максимума самой коротковолновой полосы излучения слоев, полученных эпитаксиальиым наращива­ нием из раствора нестехиометрпческого состава, несмотря на большую концентрацию атомов кремния и электронов, всегда меньше ширины запрещенной зоны нелегирован­ ного материала, тогда как hvm монокристаллов ra-GaAs, полученных из расплава стехиометрического состава, при большой концентрации атомов кремния больше, как и для кристаллов, легированных теллуром.

2. С увеличением концентрации атомов кремния посте­ пенно исчезают переходы типа В и С в спектрах излуче­ ния эиитаксиальиых слоев и все больше увеличивается интенсивность переходов типа D и kvmn смещается в длин­ новолновую область, аналогично тому, как это происхо­ дит для краевой полосы излучения p-GaAs при увеличе­ нии концентрации атомов цпика в области сильного ле­ гирования [66, 67].

При увеличении концентрации атомов кремния в жид­ ком растворе GaAs—Ga, начиная от 0,1 вес. % Si в раст­ воре, эпитаксиальиые слои становятся р-типа. При этом

концентрация дырок

увеличивается о т 1 - 1 0 1 8 д о З - 1 0 1 9 с л 1 _ 3

при 8,0 вес. % Si в

растворе.

20 Арсеннд галлия

306

И З Л У Ч А Т Е Л Ь Н А Я Р Е К О М Б И Н А Ц И Й

[ГЛ. 6

Спектры

краевого излучения эпитакспальных

слоев

р-типа имеют одну широкую полосу

как при 77 °К, так

и при 300° К

(рис. 6.13). Максимумы

этих полос

сдвига­

ются в длинноволновую область спектра с ростом кон­ центрации дырок аналогично тому, как это происходит для p-GaAs, легированного цинком [66, 67].

Энергия максимума коротковолновой полосы всегда меньше ширины запрещенной зоны и с ростом концентра­ ции дырок от 101 8 до 3-101 0 см~3 уменьшается от 1,39 до 1,36 эв (77 °К) и от 1,38 до 1,35 эв (300 °К).

Энергетическая модель излучательных переходов, ко­ торые обусловливают краевое излучение эпитаксиального

С.З]

Ф О Т О Л Ю М И Н Е С Ц Е Н Ц И Я Л Е Г И Р О В А Н Н Ы Х К Р И С Т А Л Л О В

307

сильно легированного кремнием арсенида галлпя р-типа, имеет сложный характер и установить ее в деталях пока не представляется возможным, так как неизвестны свой­ ства акцепторной примесной зоны кремния и свойства ва­ лентной зоны арсенида галлия при сильном легировании атомами кремния.

Рис. 6.14. Спектры ф о т о л ю м и н е с ц е н ц и

и

п р и 77 и 295° К к р и с т а л л о в

л - т п п а , л е г и р о в а н н ы х

г е р м а н и е м .

Концентрация электронов: 1—4,3•

101 в ; 2 — 2-Ю1 5 см~*.

6.3.2. Германий. Типичные спектры краевого излуче­ ния монокристаллов n-тнпа, по-разному легированных германием в процессе выращивания по методу Чохральского, представлены на рис. 6.14. При 77° К и при слабом

20*

308

И З Л У Ч Л Т Е Л Ы - I А П P E K O М Е И И А Ц И Я

[ГЛ. 6

легировании (п ^

4

-101 0 см—3)

в спектрах

краевого

излу­

чения

наблюдаются

три коротковолновые

полосы

В,

С

и Е

с энергиями

максимумов

/п>,п в~1,509 эв, hvmC

.^а

£id,474—1,470 эв н Avm t'~l,410—1,416 эв.

В длинноволно­

вой области спектра

также наблюдаются

три полосы М,

N и К с энергиями

максимумов /iv m j l x^l,171 эв, hvm^^

«*0,97 и ftvmjc«^0,85 эв (кривая 7). Интенсивность излучения

полос В и С, как правило,

существенно меньше, чем ин­

тенсивность

полосы Е; полосы

Вп С наблюдаются в виде

ступенек

на коротковолновом

спаде полосы

Е.

 

С ростом

концентрации

атомов германия,

начиная

от

т г ^ > 4 - 1 0 1 6

см"3, полоса В

не

проявляется,

а при п

>

^>101 7 см~3

не проявляется п полоса С. В интервале концент­

раций электронов от 1 • 101 7

до 5 • 101 8 см~3 спектр фотолюми­

несценции, как правило, состоит при 77° К из двух полос- Е я М с JiVmE =1,43—1,44 эв и hvmM =1,18—1,185 эв. По­ лосы N и К не проявляются и наблюдается лишь пологий длинноволновый хвост полосы М (кривая 2).

Спектры фотолюминесценции этих же слаболегировапных кристаллов при 295° К имеют одну коротковолновую полосу С с hvmC> =1,423 эв и три длипноволиовые полосы М', N' и К' с энергиями максимумов / i v m M ' = l,08—1,10 эв, hvmN> =0,96—0,975 эв и hv^' =0,83—0,85 эв (кривая 1). При 295 °К спектр излучения сильно легированного кри­ сталла га-типа аналогичен спектру слаболегированного кристалла (кривая 2). Однако при больших концентрациях носителей полоса С сдвинута в сторону больших энергий, полосы N' и М' часто сливаются в одну полосу N' с hvmN' =0,99—1,001 эв.

В работе [51] сообщалось, что в спектрах краевого из­ лучения арсенида галлия (пт! • 101 8 см~3), легированного германием в процессе выращивания из расплава, наблюдалась полоса излучения с энергией максимума вблизи 1,41—1,42 эв при 77 °К, что совпадает с полосой Е. Одна­ ко из исследований спектров фотолюминесценции сильно компенсированного кристалла гс-тппа [78], который был слабо легирован германием в процессе выращивания по методу Бриджмена, видно, что при 77 °К в спектрах крае­ вого излучения проявляются очень слабо лишь две полосы с энергией максимумов -—1,51 и —1,49 эв. Вероятно, изза очень плохого разрешения аппаратуры или сильного загрязнения материала кремнием автору [78] не удалось

б.З] Ф О Т О Л Ю М И Н Е С Ц Е Н Ц И Я Л Е Г И Р О В А Н Н Ы Х К Р И С Т А Л Л О В 309

наблюдать еще и полосу с энергией максимума вблизи 1,41 эв.

Следует подчеркнуть, что полосы В, С и Е также наб­ людаются в спектрах излучения эпитаксиальных слоев и-типа, легированных германием в процессе выращпваиия

Энергия фстонов, сЗ

Рис. 6.15. Спектры краевого излучения при 77 и 300° К эпитакспальных слоев л-типа, легированных германием.

Концентрация германия в растворе: 1—0,001; 2—0,005; 3—0,1 вес % •

методом жидкостной эпитаксии в закрытой системе (рис.6.15).При 77° К во всех спектрах наблюдаются одновре­ менно полосы В, С, Е, а на кривой 3 (iVGe =0,l вес. %) наблюдаются одновременно полосы В, С, Е и полоса D

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ