- •«Орловский государственный аграрный университет» методические указания к лабораторным работам по физике
- •Работа № 3.1 изучение микроскопа и определение показателя преломления прозрачных пластинок при помощи микроскопа
- •Описание метода измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Измерение показателя преломления стеклянной пластинки
- •Контрольные вопросы
- •Работа№3.2 изучение рефрактометра и определение показателя преломления прозрачных веществ
- •Описание прибора и методика измерения
- •Порядок выполнения работы
- •Работа №3.3 измерение радиуса кривизны линзы и длин световых волн при помощи интерференционных колец ньютона
- •Введение
- •Порядок выполнения работы
- •Измерение радиуса кривизны линзы
- •Работа №3.4 изучение явления дифракции и определение длины волны света при помощи дифракционной решетки
- •Порядок выполнения работы
- •Определение полосы пропускания светофильтров с помощью дифракционной решетки
- •Описание прибора и метода измерения
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа№3.6 изучение явления поляризации света и проверка законов брюстера и малюса
- •Порядок выполнения работы
- •I. Изучение закона брюстера
- •II. Изучение закона малюса
- •Работа №3.7 исследование вращения плоскости поляризации света
- •Описание прибора и метода измерений
- •Порядок выполнения работы
- •Изучение законов излучения абсолютно черного тела и их применение к нечерным телам
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.9 изучение линейчатых спектров. Градуировка спектроскопа и определение постоянной ридберга по спектру гелия
- •Порядок выполнения работы
- •Градуировка спектроскопа по спектру водорода
- •Определение длин поли видимой части спектра гелия и вычисление постоянной Ридберга
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.10 изучение законов освещенности
- •Порядок выполнения работы
- •Зависимость освещенности от расстояния до источника света
- •Определение зависимости освещенности от угла падения лучей
- •Контрольные вопросы
- •Работа № 3.11 изучение фотоэлектрических свойств фоторезисторов
- •Описание установки
- •Некоторые параметры фоторезисторов
- •Порядок работы.
- •Зависимость фототока от напряжения при постоянном световом потоке
- •Зависимость фототока от светового потока при постоянном напряжении
- •Контрольные вопросы
- •Изучение явления внешнего фотоэффекта. Определение постоянной планка
- •Описание установки
- •Порядок работы
- •Определение постоянной Планка и работы выхода электрона из металла
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.13 исследование температурной зависимости сопротивления полупроводников
- •Описание установки
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Работа №3.14 снятие счетной характеристики счетчика по космическому излучению
- •Введение
- •Порядок выполнения работы
- •Работа № 3.15 изучение явления дифракции света от щели и нити.
- •Работа №3.16
- •Введение
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы Упражнение 1
- •Контрольные вопросы
- •Литература
- •Содержание
Описание установки
Работа выполняется на установке, схематическое устройство которой изображено на рис. 11.5 и 11.6.
Рис. 11.5
Здесь ФС – фоторезистор,
Д – ирисовая диафрагма,
Об – объектив,
Л – лампа накаливания.
Лампа накаливания помещается в фокус объектива, чтобы создать параллельный пучок света, равномерно освещающий исследуемый фоторезистор.
Ирисовая диафрагма ,позволяет изменять световой поток в заранее известном отношении. По краю диафрагмы стоят цифры, указывающие относительное изменение светового потока: 1, 2, 3, 4, 8, 16 и т. д. Это значит, что световой поток
1 — максимальный;
2 — уменьшен в 2 раза;
4 — уменьшен в 4 раза и т. д.
Электрические схемы включения приборов показаны на рис. 11.6.
Рис. 11.6
Здесь V — вольтметр постоянного тока с пределом измерения до 60 В,
μА — микроамперметр с пределом до 150 мкА,
R — потенциометр.
С помощью потенциометра R устанавливается необходимое напряжение. Ирисовая диафрагма позволяет менять световой поток.
Таблица 11.1
Некоторые параметры фоторезисторов
Тип фоторезистора |
Рабочее напряжение, В |
Удельная чувствительность, мкА/лмּВ |
Темновое сопротивление, кОм |
ФСК-4 |
15 |
500 |
3,3 |
ФСК-1 |
50 |
6000 |
3,3 |
ФСК-2 |
300 |
2500 |
3 |
Порядок работы.
1. Снять вольтамперные характеристики Iф = f(u) при Ф = const для фоторезистора ФСК-2. Снятие вольтамперных характеристик следует производить для двух значений светового потока Ф1 = 1/8 и Ф2 = 1/16 световых относительных единиц. Напряжение при этом следует менять в пределах от 0 до 10 В.
2. Снять три световые характеристики для фоторезистора ФСК-2 при U1 = 4В, U2 = 6В, U3 = 8В. Для светового потока брать все положения ирисовой диафрагмы. Определить темповой ток для трех значений Uj = 4В, U2 = 6В, U3 = 8В.
3. Построить на одном графике все вольтамперные характеристики фоторезистора.
4. Построить световые характеристики также на одном графике.
5. Рассчитать кратность изменения сопротивления для двух значений светового потока.
6. Рассчитать по закону Ома сопротивление фоторезистора при разных световых потоках при U = 50В, Ф = const. Построить зависимость R = f(Ф).
Таблица 11.2
Зависимость фототока от напряжения при постоянном световом потоке
Ф1 |
U1, В |
|
|
|
|
|
|
Iф, мкА |
|
|
|
|
|
| |
Ф2 |
U2, В |
|
|
|
|
|
|
Iф, мкА |
|
|
|
|
|
|
Таблица 11.3
Зависимость фототока от светового потока при постоянном напряжении
U1 |
Ф |
32 |
16 |
8 |
4 |
2 |
1 |
Iф, мкА |
|
|
|
|
|
| |
U2 |
Ф |
32 |
16 |
8 |
4 |
2 |
1 |
Iф, мкА |
|
|
|
|
|
|