Григорев Газоразрядные детекторы елементарных частиц 2012
.pdfМинистерство образования и науки Российской Федерации
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
В.А. Григорьев
ГАЗОРАЗРЯДНЫЕ ДЕТЕКТОРЫ ЭЛЕМЕНТАРНЫХ ЧАСТИЦ
Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений
Москва 2012
УДК 539.1.074.2(075)
ББК 22.382 я 7 Г 83
Григорьев В.А. Газоразрядные детекторы элементарных частиц: Учебное пособие. – М.: НИЯУ МИФИ, 2012. — 112 с.
Настоящее пособие предназначено для студентов старших курсов, а также аспирантов, проходящих подготовку по специальности «Ядерная физика и технологии». Целью его написания явилось желание автора, читающего в НИЯУ МИФИ курс «Детекторы элементарных частиц», восполнить образовавшийся в последние десятилетия пробел в учебной литературе по современным (созданным
впоследние два десятилетия) газоразрядным детекторам излучения,
внастоящее время широко применяемых в разнообразных физических экспериментах.
Рецензент Фомушкин Э.Ф. (вед. науч. сотр. Института ядерных и радиационных исследований РФЯЦ ВНИИЭФ).
Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ.
ISBN 978–5–7262–1697–3
© Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2012
ОГЛАВЛЕНИЕ
Введение………………………………………………… . …………. 4
Глава 1. Взаимодействие заряженных и нейтральных частиц с веществом ……………………………………5
1.1.Взаимодействие заряженных частиц с веществом………… 5
1.2.Взаимодействие гамма-квантов и нейтронов с веществом...16
Глава 2. Газоразрядные детекторы ……………………………25
2.1.Ионизационная камера………………………………………. 26
2.2.Пропорциональный счетчик……………………………….…34
2.3.Счетчики (камеры) с резистивными электродами………....44
2.4.Многопроволочная пропорциональная камера……………...55
2.5.Дрейфовая камера…………………………………………… 66
2.6.Время-проекционная камера………………………………….78
Глава 3. Микроструктурные газоразрядные детекторы……..86
3.1.Микростриповая газовая камера……………………………...86
3.2.Микромегас…………………………………………………….90
3.3.Газовые электронные умножители………………………….. 93
Глава 4. Двухтрековое разрешение газовых детекторов…….99
Глава 5. Эффекты радиационного старения в газовых детекторах………………………………………………102
Заключение………….…………………………………………….. 109
Список литературы……… ……………………………………….109
3
ВВЕДЕНИЕ
Экспериментальная ядерная физика использует практически весь арсенал методов и средств детектирования элементарных частиц, их идентификации и измерения их параметров (зарядов, масс, импульсов, энергий и т.п.). Набор детекторов элементарных частиц, используемых в современной ядерной физике, весьма обширен. Сами детекторы отличаются друг от друга как физикой процессов, используемых для детектирования частиц, так и внутри каждого детектора очень широким спектром конструктивных особенностей, в зависимости от требований конкретного эксперимента.
Детальное изложение физических процессов, используемых в настоящее время в различных детекторах, анализ их возможностей и параметров требует написания отдельной монографии, значительно превосходящей по объему настоящее пособие. Поэтому настоящее пособие посвящено лишь сравнительно небольшой части детекторов – в которых в качестве рабочего вещества используется газ или смесь газов с различными свойствами. Эти детекторы широко используются в настоящее время в самых разных и самых современных экспериментах. Описание физики процессов и основных параметров детекторов разного типа можно найти в литературе [1, 2, 3]. К сожалению, эти книги были изданы довольно давно, и в них не нашли отражения детекторы, появившиеся после выхода в свет упомянутых учебных пособий. Автор ставил перед собой задачу прежде всего восполнить этот пробел. Поэтому в настоящем пособии именно эти детекторы рассмотрены более подробно, с учетом того, что литература на русском языке по многим из них либо полностью отсутствует, либо малодоступна и частично устарела. Полностью отсутствует информация о таких детекторах, как пропорциональные счетчики с резистивными электродами, а также о так называемых микроструктурных детекторах – микрострипо-
4
вых газовых камерах, камерах микромегас и газовых электронных усилителях. Информация о некоторых, более ранних детекторах (пропорциональных, дрейфовых и время-проекционных камерах), имеется в относительно недавно изданных переводных книгах [4,5], имеющихся в библиотеке НИЯУ МИФИ в единичных экземплярах.
Для понимания процессов регистрации частиц, не требующего привлечения дополнительной литературы, в начале пособия кратко упомянуты основные процессы взаимодействия заряженных и нейтральных частиц с веществом, приводящие к их регистрации в рассматриваемых детекторах.
Глава 1. ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ ЗАРЯЖЕННЫХ
ИНЕЙТРАЛЬНЫХ ЧАСТИЦ С ВЕЩЕСТВОМ
1.1.Взаимодействие заряженных частиц с веществом
Воснове работы любого детектора излучения лежит энергетический процесс – регистрируемая частица должна тем или иным образом передать часть или всю свою энергию рабочему веществу детектора. Эта переданная энергия далее трансформируется в веществе таким образом, чтобы ее выделение можно было зарегистрировать в виде электрического сигнала, в виде световой вспышки,
ввиде дефекта кристаллической решетки и т.п.
Заряженные и нейтральные частицы взаимодействуют с веществом принципиально по-разному.
Заряженные частицы теряют свою энергию путем электромагнитного взаимодействия с атомами или молекулами среды по трем основным каналам:
потери на ионизацию и возбуждение атомов или молекул вещества, объединенные в общий канал потерь – ионизационные потери;
потери на тормозное излучение; потери на черенковское излучение.
5
Ионизационные потери. При движении заряженной частицы через вещество независимо от агрегатного состояния вещества (газ, жидкость, твердое тело) кулоновское взаимодействие электрического заряда частицы с атомами или молекулами вещества приводит к ионизации этих атомов или молекул, или их возбуждению. Для описания этих потерь энергии вводится суммарная характеристика (dE/dx)ион – удельные ионизационные потери. Удельные ионизационные потери измеряются в МэВ/см или в МэВ·см2/г. Последняя величина получается путем деления (dE/dx)ион в Мэв/см на плотность вещества ρ в г/см3 и удобна тем, что, например, для газов она не зависит от давления газа.
Проведем сравнительно простой расчет удельных ионизационных потерь для нерелятивистской частицы с массой, превосходящей массу электрона (рис. 1.1).
Пусть частица с массой М и зарядом z движется со скоростью V снизу вверх. Рассмотрим взаимодействие электрического поля этой частицы с отдельным электроном среды, где Z – заряд одного атома (молекулы) среды, N – плотность атомов в единице объема, b – прицельный параметр (минимальное расстояние, на которое частица приближается к атому). Среду полагаем невзаимодействующей и неупорядоченной. Последнее замечание применимо практически к любой среде, поскольку направление движения частицы носит случайный характер, а энергия взаимодействия атомов или молекул в любой среде мала по сравнению с энергией частицы.
Особый случай составляет лишь сфокусированное движение частицы вдоль кристаллической оси кристалла, что может быть достигнуто в специально поставленных экспериментах. Итак, при сформулированных условиях сила взаимодействия между электрическим полем частицы и отдельным электроном атома среды равна
F = ze2/b2 , |
(1.1) |
где е – заряд электрона.
За время взаимодействия, равное по порядку величины dt = =2b/V, электрон среды получит (а частица, соответственно, потеряет) импульс, равный dp = F·dt = 2ze2/bV, что соответствует
6
Частица М – масса z – заряд
V – скорость
b
Атом
Z – заряд
b – прицельный параметр N – плотность атомов среды
Рис. 1.1. Взаимодействие заряженной частицы с атомом среды
приобретенной электроном (и потерянной частицей) энергии dE = = (dp)2/2m, где m – масса электрона.
Таким образом |
|
dE=2z2e4/b2mV2. |
(1.2) |
В кольцевом слое радиусом b, шириной db и толщиной dx содер-
жится электронов Ne = ZN·2πb·db·dx. |
|
Тогда полная передача энергии на кольцевой слой будет равна: |
|
(dE/dx) = (4πz2e4ZN/mV2)·(db/b). |
(1.3) |
7 |
|
Откуда удельные ионизационные потери энергии заряженной частицы на единицу пути dx будут равны
dE/dx =
dE/dx =
4πz2e2NZ bmax db |
, |
|
||||
mV |
2 |
∫ |
b |
|
||
|
bmin |
|
|
|||
|
|
|
|
|
||
4πz2e4NZ |
ln(bmax/bmin). |
(1.4) |
||||
mV 2 |
||||||
|
|
|
|
Каков физический смысл пределов интегрирования bmax и bmin?
При упругом взаимодействии тяжелой частицы с электроном максимально возможная передача энергии от тяжелой частицы к электрону из кинематических соображений равна Emax = 2mV2, что соответствует минимальному прицельному параметру bmin. Максимальному прицельному параметру обычно ставят в соответствие некоторую среднюю передачу энергии от частицы к атому, которая носит название «средний ионизационный потенциал». Средний ионизационный потенциал обычно обозначается как I с черточкой: «Ī». Он примерно равен kZ, где k ~ 10 эВ.
Учитывая, что (dE/dx) ~ (db/b), заменим bmax/bmin на Emax./Emin.
Таким образом, окончательно формула для удельных ионизационных потерь для нерелятивистских частиц тяжелее электрона выглядит следующим образом:
(dE/dx)ион = |
4πz2e4NZ |
ln(2mV2/ Ī), |
(1.5) |
|
mV 2 |
||||
|
|
|
где Ī — средний ионизационный потенциал (эмпирическая величина, берется из справочников). Следует подчеркнуть, что средний ионизационный потенциал Ī – это эмпирическая подгоночная величина, не имеющая ничего общего с потенциалом ионизации атома Iион , значение которого является конкретной физической вели-
8
чиной, равной энергии, необходимой для удаления валентного электрона атома на бесконечность.
Согласно формуле (1.5), удельные ионизационные потери зависят от заряда и скорости частицы как z2/V2 (пренебрегая логарифмической зависимостью) и не зависят от массы частицы. Они также зависят от заряда вещества Z и от плотности вещества N.
Особо обращает на себя внимание тот факт, что удельные ионизационные потери не зависят от массы частицы, и, следовательно, все однозарядные частицы, летящие с одинаковой скоростью, будут иметь одинаковые удельные ионизационные потери независимо от их масс.
Однако надо иметь в виду, что привычной шкалой по оси абсцисс обычно является не шкала скоростей, а шкала энергий, и частицы равных энергий будут иметь тем большие потери, чем больше их масса.
В релятивистском случае формула для ионизационных потерь выглядит несколько сложнее. В нее добавляются дополнительные члены, приводящие к медленному росту (dE/dx)ион с увеличением скорости частицы из-за лоренцова сокращения электрического поля частицы вдоль направления ее движения и вытягивания поля поперек направления движения. С увеличением скорости частицы в области релятивистских скоростей релятивистский рост замедляется (но не прекращается) из-за экранировки далеко отстоящих от траектории частицы атомов более близко расположенными (эффект плотности), поэтому в более плотных средах рост происходит медленнее, чем в менее плотных.
Для всех частиц и во всех средах значение ионизационных потерь в минимуме (при кинетической энергии, примерно равной массе покоя частицы) мало чем отличается.
Вид полной зависимости (dE/dx)ион от энергии частицы для частиц разной массы приведен на рис.1.2.
9
Рис. 1.2. Удельные потери энергии различных частиц в зависимости от их энергии
Здесь важно отметить, что при v с следует различать энергию, потерянную частицей в слое вещества толщиной dx, и энергию, поглощенную в том же слое. Если первая, как отмечено выше, неограниченно растет со скоростью частицы, то вторая выходит на насыщение. Выход на насыщение связан с тем, что энергия, потерянная частицей в слое dx уносится из этого слоя быстрыми вторичными электронами [6]. Это обстоятельство очень важно, так как ограничивает возможность измерения скорости частицы по величине удельных ионизационных потерь в релятивистской области сравнительно небольшим диапазоном скоростей.
10