Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Григорев Газоразрядные детекторы елементарных частиц 2012

.pdf
Скачиваний:
17
Добавлен:
12.11.2022
Размер:
3.28 Mб
Скачать

Министерство образования и науки Российской Федерации

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

В.А. Григорьев

ГАЗОРАЗРЯДНЫЕ ДЕТЕКТОРЫ ЭЛЕМЕНТАРНЫХ ЧАСТИЦ

Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений

Москва 2012

УДК 539.1.074.2(075)

ББК 22.382 я 7 Г 83

Григорьев В.А. Газоразрядные детекторы элементарных частиц: Учебное пособие. – М.: НИЯУ МИФИ, 2012. — 112 с.

Настоящее пособие предназначено для студентов старших курсов, а также аспирантов, проходящих подготовку по специальности «Ядерная физика и технологии». Целью его написания явилось желание автора, читающего в НИЯУ МИФИ курс «Детекторы элементарных частиц», восполнить образовавшийся в последние десятилетия пробел в учебной литературе по современным (созданным

впоследние два десятилетия) газоразрядным детекторам излучения,

внастоящее время широко применяемых в разнообразных физических экспериментах.

Рецензент Фомушкин Э.Ф. (вед. науч. сотр. Института ядерных и радиационных исследований РФЯЦ ВНИИЭФ).

Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ.

ISBN 978–5–7262–1697–3

© Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2012

ОГЛАВЛЕНИЕ

Введение………………………………………………… . …………. 4

Глава 1. Взаимодействие заряженных и нейтральных частиц с веществом ……………………………………5

1.1.Взаимодействие заряженных частиц с веществом………… 5

1.2.Взаимодействие гамма-квантов и нейтронов с веществом...16

Глава 2. Газоразрядные детекторы ……………………………25

2.1.Ионизационная камера………………………………………. 26

2.2.Пропорциональный счетчик……………………………….…34

2.3.Счетчики (камеры) с резистивными электродами………....44

2.4.Многопроволочная пропорциональная камера……………...55

2.5.Дрейфовая камера…………………………………………… 66

2.6.Время-проекционная камера………………………………….78

Глава 3. Микроструктурные газоразрядные детекторы……..86

3.1.Микростриповая газовая камера……………………………...86

3.2.Микромегас…………………………………………………….90

3.3.Газовые электронные умножители………………………….. 93

Глава 4. Двухтрековое разрешение газовых детекторов…….99

Глава 5. Эффекты радиационного старения в газовых детекторах………………………………………………102

Заключение………….…………………………………………….. 109

Список литературы……… ……………………………………….109

3

ВВЕДЕНИЕ

Экспериментальная ядерная физика использует практически весь арсенал методов и средств детектирования элементарных частиц, их идентификации и измерения их параметров (зарядов, масс, импульсов, энергий и т.п.). Набор детекторов элементарных частиц, используемых в современной ядерной физике, весьма обширен. Сами детекторы отличаются друг от друга как физикой процессов, используемых для детектирования частиц, так и внутри каждого детектора очень широким спектром конструктивных особенностей, в зависимости от требований конкретного эксперимента.

Детальное изложение физических процессов, используемых в настоящее время в различных детекторах, анализ их возможностей и параметров требует написания отдельной монографии, значительно превосходящей по объему настоящее пособие. Поэтому настоящее пособие посвящено лишь сравнительно небольшой части детекторов – в которых в качестве рабочего вещества используется газ или смесь газов с различными свойствами. Эти детекторы широко используются в настоящее время в самых разных и самых современных экспериментах. Описание физики процессов и основных параметров детекторов разного типа можно найти в литературе [1, 2, 3]. К сожалению, эти книги были изданы довольно давно, и в них не нашли отражения детекторы, появившиеся после выхода в свет упомянутых учебных пособий. Автор ставил перед собой задачу прежде всего восполнить этот пробел. Поэтому в настоящем пособии именно эти детекторы рассмотрены более подробно, с учетом того, что литература на русском языке по многим из них либо полностью отсутствует, либо малодоступна и частично устарела. Полностью отсутствует информация о таких детекторах, как пропорциональные счетчики с резистивными электродами, а также о так называемых микроструктурных детекторах – микрострипо-

4

вых газовых камерах, камерах микромегас и газовых электронных усилителях. Информация о некоторых, более ранних детекторах (пропорциональных, дрейфовых и время-проекционных камерах), имеется в относительно недавно изданных переводных книгах [4,5], имеющихся в библиотеке НИЯУ МИФИ в единичных экземплярах.

Для понимания процессов регистрации частиц, не требующего привлечения дополнительной литературы, в начале пособия кратко упомянуты основные процессы взаимодействия заряженных и нейтральных частиц с веществом, приводящие к их регистрации в рассматриваемых детекторах.

Глава 1. ВЗАИМОДЕЙСТВИЕ ЗАРЯЖЕННЫХ

ИНЕЙТРАЛЬНЫХ ЧАСТИЦ С ВЕЩЕСТВОМ

1.1.Взаимодействие заряженных частиц с веществом

Воснове работы любого детектора излучения лежит энергетический процесс – регистрируемая частица должна тем или иным образом передать часть или всю свою энергию рабочему веществу детектора. Эта переданная энергия далее трансформируется в веществе таким образом, чтобы ее выделение можно было зарегистрировать в виде электрического сигнала, в виде световой вспышки,

ввиде дефекта кристаллической решетки и т.п.

Заряженные и нейтральные частицы взаимодействуют с веществом принципиально по-разному.

Заряженные частицы теряют свою энергию путем электромагнитного взаимодействия с атомами или молекулами среды по трем основным каналам:

потери на ионизацию и возбуждение атомов или молекул вещества, объединенные в общий канал потерь – ионизационные потери;

потери на тормозное излучение; потери на черенковское излучение.

5

Ионизационные потери. При движении заряженной частицы через вещество независимо от агрегатного состояния вещества (газ, жидкость, твердое тело) кулоновское взаимодействие электрического заряда частицы с атомами или молекулами вещества приводит к ионизации этих атомов или молекул, или их возбуждению. Для описания этих потерь энергии вводится суммарная характеристика (dE/dx)ион – удельные ионизационные потери. Удельные ионизационные потери измеряются в МэВ/см или в МэВ·см2/г. Последняя величина получается путем деления (dE/dx)ион в Мэв/см на плотность вещества ρ в г/см3 и удобна тем, что, например, для газов она не зависит от давления газа.

Проведем сравнительно простой расчет удельных ионизационных потерь для нерелятивистской частицы с массой, превосходящей массу электрона (рис. 1.1).

Пусть частица с массой М и зарядом z движется со скоростью V снизу вверх. Рассмотрим взаимодействие электрического поля этой частицы с отдельным электроном среды, где Z – заряд одного атома (молекулы) среды, N – плотность атомов в единице объема, b – прицельный параметр (минимальное расстояние, на которое частица приближается к атому). Среду полагаем невзаимодействующей и неупорядоченной. Последнее замечание применимо практически к любой среде, поскольку направление движения частицы носит случайный характер, а энергия взаимодействия атомов или молекул в любой среде мала по сравнению с энергией частицы.

Особый случай составляет лишь сфокусированное движение частицы вдоль кристаллической оси кристалла, что может быть достигнуто в специально поставленных экспериментах. Итак, при сформулированных условиях сила взаимодействия между электрическим полем частицы и отдельным электроном атома среды равна

F = ze2/b2 ,

(1.1)

где е – заряд электрона.

За время взаимодействия, равное по порядку величины dt = =2b/V, электрон среды получит (а частица, соответственно, потеряет) импульс, равный dp = F·dt = 2ze2/bV, что соответствует

6

Частица М – масса z – заряд

V – скорость

b

Атом

Z – заряд

b – прицельный параметр N – плотность атомов среды

Рис. 1.1. Взаимодействие заряженной частицы с атомом среды

приобретенной электроном (и потерянной частицей) энергии dE = = (dp)2/2m, где m – масса электрона.

Таким образом

 

dE=2z2e4/b2mV2.

(1.2)

В кольцевом слое радиусом b, шириной db и толщиной dx содер-

жится электронов Ne = ZN·b·db·dx.

 

Тогда полная передача энергии на кольцевой слой будет равна:

 

(dE/dx) = (z2e4ZN/mV2)·(db/b).

(1.3)

7

 

Откуда удельные ионизационные потери энергии заряженной частицы на единицу пути dx будут равны

dE/dx =

dE/dx =

z2e2NZ bmax db

,

 

mV

2

b

 

 

bmin

 

 

 

 

 

 

 

z2e4NZ

ln(bmax/bmin).

(1.4)

mV 2

 

 

 

 

Каков физический смысл пределов интегрирования bmax и bmin?

При упругом взаимодействии тяжелой частицы с электроном максимально возможная передача энергии от тяжелой частицы к электрону из кинематических соображений равна Emax = 2mV2, что соответствует минимальному прицельному параметру bmin. Максимальному прицельному параметру обычно ставят в соответствие некоторую среднюю передачу энергии от частицы к атому, которая носит название «средний ионизационный потенциал». Средний ионизационный потенциал обычно обозначается как I с черточкой: «Ī». Он примерно равен kZ, где k ~ 10 эВ.

Учитывая, что (dE/dx) ~ (db/b), заменим bmax/bmin на Emax./Emin.

Таким образом, окончательно формула для удельных ионизационных потерь для нерелятивистских частиц тяжелее электрона выглядит следующим образом:

(dE/dx)ион =

z2e4NZ

ln(2mV2/ Ī),

(1.5)

mV 2

 

 

 

где Ī — средний ионизационный потенциал (эмпирическая величина, берется из справочников). Следует подчеркнуть, что средний ионизационный потенциал Ī – это эмпирическая подгоночная величина, не имеющая ничего общего с потенциалом ионизации атома Iион , значение которого является конкретной физической вели-

8

чиной, равной энергии, необходимой для удаления валентного электрона атома на бесконечность.

Согласно формуле (1.5), удельные ионизационные потери зависят от заряда и скорости частицы как z2/V2 (пренебрегая логарифмической зависимостью) и не зависят от массы частицы. Они также зависят от заряда вещества Z и от плотности вещества N.

Особо обращает на себя внимание тот факт, что удельные ионизационные потери не зависят от массы частицы, и, следовательно, все однозарядные частицы, летящие с одинаковой скоростью, будут иметь одинаковые удельные ионизационные потери независимо от их масс.

Однако надо иметь в виду, что привычной шкалой по оси абсцисс обычно является не шкала скоростей, а шкала энергий, и частицы равных энергий будут иметь тем большие потери, чем больше их масса.

В релятивистском случае формула для ионизационных потерь выглядит несколько сложнее. В нее добавляются дополнительные члены, приводящие к медленному росту (dE/dx)ион с увеличением скорости частицы из-за лоренцова сокращения электрического поля частицы вдоль направления ее движения и вытягивания поля поперек направления движения. С увеличением скорости частицы в области релятивистских скоростей релятивистский рост замедляется (но не прекращается) из-за экранировки далеко отстоящих от траектории частицы атомов более близко расположенными (эффект плотности), поэтому в более плотных средах рост происходит медленнее, чем в менее плотных.

Для всех частиц и во всех средах значение ионизационных потерь в минимуме (при кинетической энергии, примерно равной массе покоя частицы) мало чем отличается.

Вид полной зависимости (dE/dx)ион от энергии частицы для частиц разной массы приведен на рис.1.2.

9

Рис. 1.2. Удельные потери энергии различных частиц в зависимости от их энергии

Здесь важно отметить, что при v с следует различать энергию, потерянную частицей в слое вещества толщиной dx, и энергию, поглощенную в том же слое. Если первая, как отмечено выше, неограниченно растет со скоростью частицы, то вторая выходит на насыщение. Выход на насыщение связан с тем, что энергия, потерянная частицей в слое dx уносится из этого слоя быстрыми вторичными электронами [6]. Это обстоятельство очень важно, так как ограничивает возможность измерения скорости частицы по величине удельных ионизационных потерь в релятивистской области сравнительно небольшим диапазоном скоростей.

10