- •Электроника и схемотехника
- •Аналоговых электронных
- •Устройств
- •Учебное пособие
- •1. Полупроводниковые приборы
- •1.1. Полупроводниковые диоды
- •1.1.1. Устройство и классификация полупроводниковых диодов
- •1.1.2. Физические процессы в p-n-переходе
- •1.1.3. Работа диода при подключении внешнего обратного напряжения
- •1.1.3.1. Тепловой ток диода
- •1.1.3.2. Токи генерации и утечки в реальных диодах
- •1.1.4. Работа диода при подключении внешнего прямого напряжения
- •1.1.5. Основные параметры диодов
- •1.1.5.1. Сопротивления диода
- •1.1.5.2. Емкости диода
- •1.1.6. Типы полупроводниковых диодов
- •1.1.6.1. Выпрямительные диоды
- •1.1.6.2. Стабилитроны
- •1.1.6.3. Варикапы
- •1.1.6.3.1. Вольт-фарадная характеристика варикапа
- •1.1.6.3.2. Добротность варикапа
- •1.1.6.4. Туннельный диод
- •1.1.6.4.1. Принцип квантово-механического туннелирования
- •1.1.6.4.2. Вольт-амперная характеристика туннельного диода
- •1.1.6.5. Импульсные диоды
- •1.1.6.6. Диоды с накоплением заряда
- •1.1.6.7. Диоды с барьером Шоттки
- •1.1.6.8. Лавинно пролетные диоды
- •1.1.6.9. Фотодиод
- •Рассмотрим общие характеристики фотодиодов.
- •1.2. Биполярные транзисторы
- •1.2.1. Устройство и режимы работы транзистора
- •1.2.2. Физические процессы, протекающие в транзисторе, работающем в активном режиме
- •1.2.3. Схемы включения, основные характеристики и параметры транзисторов
- •1.2.3.1. Схема включения транзистора с общей базой (об)
- •1.2.3.2. Основные параметры транзистора с об
- •1.2.3.3. Схема включения транзистора с общим эмиттером (оэ)
- •1.2.3.4. Выходные и входные характеристики транзистора , включенного по схеме с оэ
- •1.2.3.5. Параметры транзистора, включенного по схеме с оэ
- •1.2.3.6. Схема включения транзистора с общим коллектором (ок)
- •1.2.3.7. Параметры транзистора с ок
- •1.2.4. Эквивалентные схемы транзисторов
- •1.2.4.1. Эквивалентная схема транзистора в виде модели Эберса-Молла
- •1.2.4.2. Дифференциальные параметры и малосигнальные эквивалентные схемы транзистора
- •1.2.4.3. Эквивалентная схема транзистора в h-параметрах
- •1.2.4.5. Эквивалентная схема транзистора в y-параметрах
- •1.2.5. Инерционные свойства биполярного транзистора. Зависимость параметров биполярного транзистора от частоты.
- •1.2.5.1. Процессы в схеме с общей базой
- •1.2.5.2. Процессы в схеме с оэ
- •1.3. Полевые транзисторы
- •1.3.1. Транзисторы с управляющим p-n-переходом.
- •1.3.1.1. Устройство и принцип работы полевого транзистора с управляющим p-n-переходом
- •1.3.2. Полевой транзистор, включенный по схеме с ои а) с n-каналом,
- •1.3.2. Дифференциальные параметры.
- •1.3.3. Полевые транзисторы с изолированным затвором.
- •1.4. Тиристоры
- •1.5. Интегральные схемы
- •1.6. Полупроводниковые датчики и индикаторные приборы
- •1.6.1. Полупроводниковые датчики температуры
- •1.6.2. Магнитополупроводниковые приборы
- •1.6.3. Приборы с зарядовой связью
- •1.6.4. Фотоэлектрические приборы. Понятие об оптоэлектронных приборах.
1.1.5. Основные параметры диодов
1.1.5.1. Сопротивления диода
ВАХ полупроводникового диода представляет собой нелинейную зависимость между током и напряжением. В общем случае к диоду может быть приложено как постоянное напряжение, определяющее рабочую точку на его характеристике, так и переменное напряжение, амплитуда которого определяет траекторию рабочей точки. Поэтому для полупроводниковых диодов используются, кроме параметров приборов на постоянном токе также дифференциальные параметры - параметры прибора на переменном токе.
Дифференциальное сопротивление определяет изменение тока через диод при изменении напряжения вблизи некоторого значения , заданного рабочей точкой.
, (1.1.15)
где и - масштабы осей напряжения и тока
Ч
Рис. 1.1.8. Определение
по ВАХ диода
противление находится из выражения:
(1.1.16)
При , сопротивление велико: от нескольких кОм до сотен МОм.
Статическое сопротивление численно равно отношению напряжения на элементе к протекающему через него току
. (1.1.17)
Это сопротивление равно котангенсу угла наклона прямой, проведенной из начала координат через заданную рабочую точку. В зависимости от того, на каком участке ВАХ расположена заданная рабочая точка, значение может быть меньше, равно или больше . Для реальных диодов, как правило, и .
1.1.5.2. Емкости диода
При работе на высоких частотах и в импульсных режимах начинает играть роль емкость диода , измеряемая между выводами диода при заданных значениях напряжения и частоты. Эта емкость включает емкость перехода , образованную диффузионной и зарядной (барьерной) емкостями, и емкость корпуса .
(1.1.18)
Диффузионная емкость возникает в приконтактном слое p-n-перехода за счет изменения количества диффундируемых дырок и электронов, т.е. за счет изменения заряда, вызванного изменением прямого напряжения. Зависимость от значения прямого тока имеет вид:
, (1.1.19)
где время жизни дырок в базе диода n-типа.
Диффузионная емкость будет тем больше, чем больше прямой ток через переход и чем больше время жизни неосновных носителей заряда для области базы диода. Из (1.1.19) следует, что при диффузионная емкость обращается в ноль.
Барьерная емкость возникает при обратном напряжении на переходе и обусловлена изменением в нем объемного заряда:
. (1.1.20)
Барьерная емкость зависит от площади запирающего слоя , относительной диэлектрической проницаемости , высоты потенциального барьера , толщины запирающего слоя и приложенного напряжения .
P-n-переход с барьерной емкостью используется как конденсатор переменной емкости. При обратном напряжении на его зажимах толщина запирающего слоя возрастает, емкость уменьшается; при прямом напряжении, наоборот, емкость резко возрастает и может достигать нескольких сотен пФ.