- •Методы осаждения диэлектрических и проводящих слоев в полупроводниковой технологии
- •1. Термическое окисление кремния
- •1.1. Кинетика процесса и способы окисления
- •1.2. Свойства окисных пленок
- •2. Осаждение диэлектрических слоев из газовой фазы
- •2.1. Особенности технологии и оборудование
- •2.2. Модель процессов с лимитирующей гетерогенной стадией
- •2.3. Модель процессов с лимитирующей гомогенной стадией
- •2.4. Свойства реагентов, используемых для осаждения слоев
- •2.5. Требования к процессам и основные способы осаждения слоев в рпд
- •3. Плазмохимическое осаждение тонких слоев в реакторах пониженного давления
- •3.1. Особенности технологии и оборудование
- •3.2. Осаждение кремнийсодержащих слоев
- •4. Напыление тонких пленок
- •4.1. Требования к пленочным покрытиям и проблемы осаждения тонких пленок
- •4.2. Магнетронное напыление тонких пленок
- •4.3. Параметры процесса осаждения пленок
- •Толщина пленки, нм, рассчитывается по формуле
- •4.4. Особенности технологии и оборудование
- •Список литературы
- •Содержание
Список литературы
1. Аппаратура и методика осаждения слоев при пониженном давлении: В 2-х ч./Васильев В.Ю., Сухов М.С. – Обз. по электр. техн. Сер. 7. Техн., организ. произв. и оборуд. – М.: ЦНИИ "Электроника", 1985. – Вып. 3(1087), – 56 с. Вып. 4(1088), – 52 с.
2. Моделирование процессов осаждения диэлектрических слоев из газовой фазы при низком давлении/Васильева Л.Л., Васильев В.Ю., Попов В.П., Сухов М.С. – Обз. по электр. техн. Сер. 2. Полупроводниковые приборы. Вып. 8(1051). – М.: ЦНИИ "Электроника", 1984. – 26 с.
3. Плазмохимическое осаждение тонких слоев в реакторах пониженного давления: В 2-х ч./Шепелев С.Н., Васильев В.Ю., Попов В.П. – Обз. по электр. техн. Сер. 2. Полупроводниковые приборы. – М.: ЦНИИ "Электроника". – Ч.1. - Вып. 7(1242), 1986. – 53 с. – Ч.2. – Вып. 2(1332), 1988. – 63 с.
4. Травление и осаждение слоев с помощью химически активных частиц, создаваемых в плазме, отделенной от зоны обработки/Кузнецов В.И. – Обз. по электр. техн. Сер. 3. Микроэлектроника. Вып. 2(1668). – М.:ЦНИИ "Электрони-ка", 1992. – 104 с.
5. Магнетронные распылительные устройства (магратроны)/Минайчев В.Е., Одиноков В. В., Тюфаева Г. П. – Обз. по электр. техн. Сер. 7. Техн., организ. произв. и оборуд. Вып. 8(659). – М.: ЦНИИ "Электроника", 1979. – 56 с.
6. Устройства со скрещенными полями и перспектива их использования в технологии микроэлектроники/Данилин Б.С., Сырчин В.К. – Обз. по электр. техн. Сер. 3. Микроэлектроника. Вып. 2(1619). – М.: ЦНИИ "Электроника", 1991. – 92 с.
7. Плазменные устройства со скрещенными полями в технологии СБИС/ Данилин Б.С., Сырчин В.К. – Итоги науки и техники. Сер. Электроника. – М.: ВИНИТИ, 1990. – Т. 27. – С. 61–100.
Содержание
Воронежский государственный технический университет 1
Г.И.ЛИПАТОВ 1
В ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ТЕХНОЛОГИИ 1
УДК 621.382 2
Печатается по решению редакционно-издательского совета 2
Воронежского государственного технического университета 2
© Липатов Г.И., 2000 2
1. ТЕРМИЧЕСКОЕ ОКИСЛЕНИЕ КРЕМНИЯ 3
1.1. Кинетика процесса и способы окисления 4
1.2. Свойства окисных пленок 6
2. ОСАЖДЕНИЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СЛОЕВ ИЗ ГАЗОВОЙ ФАЗЫ 10
2.1. Особенности технологии и оборудование 11
2.2. Модель процессов с лимитирующей гетерогенной стадией 21
2.3. Модель процессов с лимитирующей гомогенной стадией 24
2.4. Свойства реагентов, используемых для осаждения слоев 27
2.5. Требования к процессам и основные способы осаждения слоев в РПД 29
3. ПЛАЗМОХИМИЧЕСКОЕ ОСАЖДЕНИЕ ТОНКИХ СЛОЕВ В РЕАКТОРАХ ПОНИЖЕННОГО ДАВЛЕНИЯ 32
3.1. Особенности технологии и оборудование 33
3.2. Осаждение кремнийсодержащих слоев 38
4. НАПЫЛЕНИЕ ТОНКИХ ПЛЕНОК 44
4.1. Требования к пленочным покрытиям и проблемы осаждения тонких пленок 44
4.2. Магнетронное напыление тонких пленок 47
4.3. Параметры процесса осаждения пленок 54
4.4. Особенности технологии и оборудование 62
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 67
СОДЕРЖАНИЕ 68
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 60
ЛР № 066815 от 25.08.99. Усл. печ. л. 3,8