Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
372.doc
Скачиваний:
11
Добавлен:
30.04.2022
Размер:
3.11 Mб
Скачать

12.3. Рабочее задание Определение длины волны различных цветов

Установите перед объективом зрительной трубы дифракционную решетку с известной постоянной.

Измерьте положения максимумов 1-го и 2-го порядков для красного, желтого, зеленого, синего и фиолетового участков спектра и запишите их в табл. 12.1.

По формуле (12.6) рассчитайте углы . Затем по формуле (12.5) рассчитайте длину волны по 1-му и 2-му порядку изучаемых цветов спектра.

Таблица 12.1

Определение длин волн различных цветов

m

Цвет

Nл

Nnp



1

Красный

Желтый

Зеленый

Синий

Фиолетовый

2

Красный

Желтый

Зеленый

Синий

Фиолетовый

.

Найдите среднее значение длин волн для красного, желтого, зе­леного, синего и фиолетового цветов.

Оцените точность ваших измерений.

Определение периода неизвестной дифракционной решетки

Поставьте неизвестную дифракционную решетку перед объективом зрительной трубы.

Измерьте положения максимумов 1-го, 2-го и 3-го порядков для красных и фиолетовых участков спектра. Данные занесите и табл. 12.2.

По формуле (12.5) найдите период d дифракционной решетки.

Найдите среднее значение d.

Таблица 12.2

Определение периода неизвестной дифракционной решетки

т

Цвет

Nл

Nпр

d

d

1

Красный

Фиолетовый

2

Красный

Фиолетовый

3

Красный

Фиолетовый

12.4. Выводы

Что такое дифракция и когда она наблюдается?

Что такое дифракционная решетка? Что называется периодом дифракционной решетки?

Рассчитайте положения максимумов при дифракции света на дифракционной решетке.

Литература: [9 – гл. 1], [10 – раздел 4].

Работа 13. ЗНАКОМСТВО С ОСНОВАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ

13.1. Цель работы

  • Овладеть теоретическими знаниями о микроскопических методах исследования.

  • Освоить основы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ).

  • Изучить принцип работы и конструкцию прибора NanoEducator и приобрести навыки работы на данном оборудовании.

13.2. Общие теоретические сведения

Традиционные методы исследования поверхности, такие как рентгеновская или ионная дифракция, дифракция медленных электронов, электронная оже-спектроскопия, позволяют получать усредненную по поверхности образца картину расположения атомов, но не дают возможности своими глазами увидеть атомную структуру. Все эти методы, работающие только в вакууме, позволяют детализировать объекты нанометрового масштаба, но при этом возможно повреждение образца пучком высокоэнергетических частиц. Кроме того, они не позволяют непосредственно получать информацию о высоте поверхностных деталей.

Частично эти проблемы удалось решить с помощью сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). В начале 1980-х годов с помощью СТМ были получены первые экспериментальные изображения поверхности кремния с атомным разрешением. Однако новые, практически неограниченные возможности открылись с изобретением атомного силового микроскопа (АСМ), с помощью которого стало возможным изучать рельеф не только проводящих, но и диэлектрических материалов. С тех пор области применения сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) значительно расширились.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]