Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
відповіді17-33.docx
Скачиваний:
19
Добавлен:
07.02.2015
Размер:
143.75 Кб
Скачать

20. Когерентне і некогерентне розсіювання.

РОЗСІЯННЯ СВІТЛА — зміна характеристик потоку світла (інтенсивності, частотного спектра, поляризації світла), що відбувається при його взаємодії з речовиною і сприймається як невласне світіння речовини.

Когере́нтність — це властивість хвилі зберігати свої частотні, поляризаційні й фазові характеристики.

Р. с. є когерентним, якщо фаза розсіяної хвилі однозначно визначається фазою падаючої хвилі, в інших випадках Р. с. є некогерентним.

21. Структурний фактор. Умови погасання для кристалів кубічної сингонії.

СТРУКТУРНИЙ ФАКТОР (структурна амплітуда) - величина, що характеризує здатність однієї елементарної комірки кристала когерентно розсіювати рентгенівське випромінювання в залежності від числа N атомів в комірці, їх координат xj, уj, zj і атомних факторів fj. С. ф. Fhkl визначається як сума атомних факторів fj з урахуванням наявних просторових зрушень фаз між хвилями, розсіяними різними атомами: . (i=, h, k, l-индексы Миллера;

Із виразу видно, що структурна амплітуда для

кристалічних граток, які містять один атом в комірці рівна f (S). Якщо елементарна комірка містить декілька атомів, то в залежності від значень вираз може дорівнювати ±1, що приведе до того, що структурний фактор для деяких індексів hkl буде рівний нулю, виникає так зване погасання. Знаючи координати базисних атомів в елементарній комірці можна встановити правила погасання для будь-якого типу кристалічної гратки. Так, наприклад, для об’ємоцентрованої гратки координати атомів такі: Коли гратка складається з однакових атомів, то .. Для гранецентрованої кубічної гратки дифракційні рефлекси будуть існувати тоді, коли індекси hkl будуть всі парні, або всі непарні. Аналогічні правила погасання існують для інших типів кристалічної гратки.

23. Якісний рентгенофазний аналіз та його використання при дослідженні діаграм стану.

Якісний рентгенофазового аналіз полягає в ідентифікації кристалічних фаз на основі притаманних їм значень міжплощинних відстаней d (hkl) і відповідних інтенсивностей ліній I (hkl) рентгенівського спектра. Основним методом рентгенофазового аналізу служить метод порошку (метод Дебая - Шеррера ), коли монохроматичний пучок рентгенівських променів направляють на полікристалічний зразок. Так як кристали, з яких складається зразок, дуже малі, то в досліджуваному обсязі зразка їх виявляються десятки мільйонів. Отже, завжди є їх будь орієнттації по відношенню до променя, в тому числі й ті, які задовольняють закону Вульфа – Брегга, що встановлює залежність між довжиною хвилі рентгенівських променів (A), міжплощинними відстанями ( d ) і кутом ковзання пучка рентгенівських променів ( 0 ) по відношенню до відображає площині : 2dsinθ = nX . У результаті інтерференції з відображених різними кристалами променів утворюються конуси , які дають на фотоплівці систему дифракційних максимумів різної інтенсивності. Розрахувавши отриману таким шляхом рентгенограму , отримують знання про міжплощинні відстані в кристалі. Значення міжплощинних відстаней для кожної речовини строго індивідуально, тому рентгенограма однозначно характеризує досліджувану речовину .