- •1.1 Классы устройств вм и систем
- •1.2 Операционные устройства (оу)
- •1.3 Операционный и управляющий автоматы.
- •1.4 Структурная организация оа
- •1.2 Функциональная организация вм и системы (Архитектура системы)
- •1.2.1 Устройство управления (уу). Принцип программного управления
- •1.2.2 Защита информации
- •1.2.3 Страничная адресация
- •1.2.3 Защита информации при страничной адресации
- •1.3 Структуры вычислительных и информационных систем
- •1.3.1 Перспективы совершенствования архитектуры вм и вс
- •Контрольные вопросы
- •2.1 Логические основы вм и информационных систем
- •2.1.1 Комбинационные схемы и цифровые автоматы
- •2.1.2 Функционально полный набор логических элементов
- •2.2 Минимизация переключательных функций
- •2.3 Методы получения сокращенной днф из сднф
- •2.3.1 Метод Квайна-Мак-Класки (алгебраический метод)
- •Метод Квайна (метод импликантных матриц)
- •2.3.3 Метод Квайна – Мак-Класки (с использованием числового представления функций алгебры логики)
- •2.3.4 Минимизация переключательных функций с помощью диаграмм Карно-Вейча
- •2.3.5 Синтез комбинационных и накапливающих схем в базисах и, или, не; и-не; или-не
- •2.3.6 Метод синтеза дискретных схем на базе программируемых логических матриц (плм ) с помощью эволюционных вычислений
- •Контрольные вопросы
- •3.1. Синхронные и асинхронные триггерные схемы на потенциальных элементах
- •Триггер d-типа, dv-типа
- •Триггеры т-типа
- •Схемные варианты триггеров
- •Помехозащищенные триггеры
- •Применение триггерных схем
- •Подавление дребезга контактов
- •Логические состояния и «иголки» («мерцания»)
- •3.2 Контрольные вопросы
- •3.3 Счетчики
- •3.4 Счетчики со сквозным переносом
- •3.5 Синтез счетчиков с модулем счета к≠2n.
- •Вычисление логических условий
- •3.6.1 Схемы сравнения слов с константами
- •3.6.2 Схемы сравнения на равенство
- •Схемы сравнения на больше-меньше
- •Контрольные вопросы
- •4.1 Абстрактная модель цифрового автомата (ца).
- •4.2 Способы задания автоматов. Автоматы Мили и Мура.
- •4.3 Минимизация абстрактных автоматов (аа)
- •4.4 Структурный автомат (са). Канонический метод структурного синтеза автоматов.
- •4.5 Пример канонического метода структурного синтеза автоматов на т-триггерах
- •4.6 Функционирование автоматов во времени
- •4.7 Синтез автоматов Мили и Мура по граф-схеме алгоритма (гса)
- •4.8 Синтез автомата Мура на d-триггерах
- •5.1 Классификация элементов эвм
- •5.2 Характеристики логических элементов
- •Статические параметры логических элементов
- •Динамические параметры логических элементов
- •Диодно-транзисторная логика
- •Транзисторно-транзисторные логические элементы.
- •5.4.1 Транзисторно-транзисторные логические элементы с простым инвертором
- •5.4.2 Транзисторно-транзисторные логические элементы со сложным инвертором
- •5.4.3 Транзисторно-транзисторные логические элементы с диодами Шотки
- •Транзисторные логические элементы, связанные эмиттерами (эсл-элементы, элементы с эмиттерными связями).
- •5.5.1 Электрические схемы и принцип работы логических элементов эсл
- •5.5.2 Основные характеристики и параметры элементов эсл
- •Инжекционная интегральная схемотехника
- •Логические элементы на полевых транзисторах
- •5.7.1 Статические характеристики мдп-транзисторов с индуцированным
- •Инвертор с линейной нагрузкой
- •5.7.4 Инвертор на мдп-транзисторах с нелинейной нагрузкой
- •Инверторы с квазилинейной и токостабилизирующей нагрузками
- •5.7.5 Инверторы на кмдп–транзисторах
- •5.7.6 Логические элементы на полевых мдп-транзисторах с одним типом проводимости
- •5.7.7 Логические элементы на комплементарных кмдп-транзисторах.
- •Физические основы использования элементов информационных систем в оптическом диапазоне
- •Полупроводниковые источники излучения
- •5.8.2 Полупроводниковые приемники излучения
- •5.8.3 Фоторезисторы
- •5.8.4 Фотодиоды
- •5.8.5 Фототранзисторы
- •Оптроны и оптоэлектронные микросхемы.
- •Оптоэлектронные микросхемы
- •6.1 Назначение, основные виды запоминающих устройств (зу)
- •6.2 Структура памяти универсальной эвм
- •6.3 Иерархическая структура зу
- •6.3.1 Оперативная память
- •6.3.2 Регистровая кэш-память
- •6.4 Запоминающие утройства на интегральных микросхемах (имс)
- •Классификация интегральных микросхем памяти
- •6.4.2 Зу на интегральных микросхемах
- •6.4.3 Статическое зу на биполярных транзисторах
- •6.4.4 Запоминающие элементы на моп-структурах
- •6.5 Организация оперативной памяти (оп)
- •6.5.1 Многоблочная оп
- •6.5.2 Оп с многоканальным доступом
- •6.5.3 Оп с расслоением сообщений
- •6.5.4 Включение модулей пзу в адресное пространство оп
- •6.5.5 Переключаемые банки памяти
- •6.6 Буферные (сверхоперативные) зу, кэш-память.
- •6.7 Бзу с прямой адресацией
- •6.8 Зу с стековой адресацией
- •6.9 Зу с магазинной организацией
- •6.10 Буферные зу с ассоциативной адресацией
- •6.11 Постоянные запоминающие устройства (пзу)
- •6.11.1 Пзу с масочным программированием (пзу)
- •6.11.2 Программируемые пзу (ппзу)
- •6.11.3 Программируемые логические матрицы (плм)
- •6.11.4 Логическое проектирование с использованием плм
- •7.1 Устройства и системы цифро-аналогового и аналого-цифрового преобразования сигналов
- •Дискретизация сигналов. Теорема в.А. Котельникова.
- •Узлы цифро-аналоговых средств сопряжения
- •Основные характеристики цап и ацп
- •7.4.1 Схема выборки-хранения
- •7.4.2 Цап с двоично-взвешенными сопротивлениями
- •7.4.3 Цап на основе резистивной матрицы r-2r
- •Аналого-цифровые преобразователи (ацп) последовательного преобразования. Ацп поразрядного уравновешивания. Ацп двойного интегрирования
- •Ацп последовательного преобразования
- •7.5.2 Ацп двойного интегрирования
- •7.5.3 Ацп поразрядного уравновешивания
- •Ацп параллельного преобразования
- •8 Датчики электронных информационных систем безопасности. Организация шин
- •8.2.1. Термометры на рn-переходах
- •Резистивные термометры
- •Принципы работы тензодатчика
- •Полупроводниковые тензодатчики
- •Мостовые схемы
- •Компрессионные акселерометры
- •Сдвиговые акселерометры
- •Калибровка
- •Вибростенды
- •8.9. Преобразователи давления
- •Применения
- •8.10. Датчики смещения
- •8.11. Датчики потока
- •Тепловые измерители потока
- •Механические измерители потока
- •Гидродинамические (аэродинамические) измерители потока
- •Электромагнитные измерители потока
- •Ультразвуковые датчики потока
- •Шина процессор - память
- •Шина ввода/вывода
- •Системная шина
5.8.4 Фотодиоды
В качестве фотодиода используется полупроводниковый диод с ЭДП, смещенном в обратном направлении внешним источником питания. В отличие от обычного в корпусе фотодиода имеется специальная линза, через которую внешний световой поток направляется перпендикулярно плоскости p-n-перехода (рис.5.37а). При отсутствии освещения на границе p- и n- областей возникает диффузионное электрическое поле, создаваемое неподвижными положительными (в n-области) и отрицательными (в p-области) ионами. В результате между p- и n- областями образуется контактная разность потенциалов Uк (потенциальный барьер), уравновешивающая ток дрейфа и ток диффузии подвижных носителей заряда, благодаря чему при отсутствии внешнего напряжения ток через ЭДП равен нулю, а p- и n- области остаются электрически нейтральными.
Условное обозначение фотодиода показано на рис. 5.37б.
Если к диоду приложить обратное напряжение от внешнего источника питания, то произойдет увеличение объемного заряда на границе p- и n- областей, в результате чего увеличивается разность потенциалов между p- и n- областями и через диод будет протекать незначительный обратный ток, обусловленный дрейфом неосновных носителей. При освещении диода часть валентных электронов p- и n- областей а также области объемного заряда (запирающего слоя, или p-n-перехода) приобретает энергию, достаточную для их перехода в зону проводимости. В результате концентрация неосновных (а также и основных) подвижных носителей заряда в обеих областях фотодиода и в областях объемного заряда увеличится, что приведет к увеличению обратного тока, протекающего через фотодиод (рис. 5.37в). Чем больше световой поток Ф, тем большее значение будет иметь обратный ток. Если в электрическую цепь с фотодиодом включить резистор нагрузки Rн (рис. 5.37г), то изменение освещенности фотодиода будет приводить к изменению напряжения на этом резисторе.
Такой режим фотодиода называют режимом фотопреобразователя.
В отличие от обычных диодов фотодиод может работать также и в режиме фотогенератора, в котором фотодиод является источником электрической энергии. Сущность этого режима заключается в следующем.
В неосвещенном фотодиоде, как было отмечено, процессы дрейфа неосновных носителей и диффузии основных носителей заряда
у
равновешиваются
контактной разностью потенциалов,
образованной на границе p-
и n-
областей, благодаря чему эти области
остаются электрически
Рисунок 5.37. Принцип действия фотодиода
нейтральными. При освещении фотодиода фотоны света, воздействуя на валентные электроны полупроводника, сообщают им дополнительную энергию, благодаря которой часть валентных электронов отрывается от атомов и становятся свободными, т. е. переходят в зону проводимости. Иными словами, происходит «дополнительная» генерация пар электрон-дырка и ионизация примесных атомов в p- и n- областях.
/
На рис. 5.37д показана энергетическая диаграмма фотодиода. Электроны обозначены жирными точками, дырки – маленькими кружками, а положительные и отрицательные ионы – большими кружками со знаками «+» и «-» соответственно. Середины запрещенных зон имеют энергетический уровень Wi, а уровни Ферми областей p и n обозначены соответственно как Wфp и Wфn.
Образовавшиеся дополнительные электроны в области объемного заряда под действием диффузионного поля Едиф, созданного контактной разностью потенциалов, переходят в n-область, а дырки – в p-область. Кроме того происходит переход дополнительно образовавшихся дырок (неосновных носителей) n-области, попавших в зону действия диффузионного поля, в p-область, и дополнительно образовавшихся электронов из р-области в n-область. В результате n-область получает дополнительный отрицательный заряд, а p-область – дополнительный положительный заряд, т.е. между p- и n- областями образуется разность потенциалов, называемая фото-э.д.с. Значение фото-э.д.с. составляет десятые доли вольта. Так, у селеновых и кремниевых фотодиодов фото-э.д.с. достигает 0,5…0,6 В, у фотодиодов из арсенида галлия – 0,87 В.
Фото-э.д.с. можно определить по характеристикам, приведенным на рис. 5.37в. Например, при освещении фотодиода световым потоком Ф2 фото-э.д.с. будет соответствовать отрезку 0а.
Если освещенный фотодиод подключить к резистору нагрузки (рис. 7.5е), то в цепи появится электрический ток, значение которого зависит от фото-э.д.с. и сопротивления резистора.
Фотодиоды, работающие в режиме фотогенератора, используются в качестве источников питания, преобразующих энергию солнечного излучения в электрическую (солнечные элементы). Для увеличения напряжения и тока солнечные элементы объединяются в батареи. Важным технологическим параметром солнечных батарей является отношение их выходной мощности к массе и площади, занимаемой солнечной батареей. Эти параметры достигают значений 200 Вт/кг и 1 кВт/м2 соответственно.
Свойства фотодиодов можно характеризовать параметрами и характеристиками, аналогичными параметрам и характеристикам фоторезисторов. В отличие от фоторезисторов интегральная чувствительность фотодиодов не зависит от приложенного обратного напряжения и определяется как отношение S = Iф/Ф. У селеновых фотодиодов S = (0,3…0,75) мА/лм, у кремниевых – 3 мА/лм, у германиевых – до 20 мА/лм, у серно-серебряных – S = (10…15) мА/лм.
Другой особенностью фотодиодов является малая инерционность, что обеспечивает их преимущество перед фоторезисторами.
Темновой ток фотодиодов, так же как и фоторезисторов, ограничивает минимальное значение измеряемого светового потока.
У германиевых фотодиодов Iт = (10…30) мкА, у кремниевых – (1…3) мкА.
Спектральные характеристики фотодиодов зависят от используемого в них материала.
У селеновых фотодиодов она близка к спектральной зависимости чувствительности человеческого глаза, а у германиевых и кремниевых располагается как в видимой, так и в инфракрасной частях спектра излучения.
Существенным недостатком фотодиодов является зависимость их параметров от температуры: при повышении температуры на 10ОС темновой ток возрастает почти в два раза.
Помимо фотодиодов с p-n-переходом имеются фотодиоды с поверхностным барьером Шотки, образуемым при контакте металла с полупроводником, а также лавинные фотодиоды, имеющие очень малую инерционность и способные работать в диапазоне СВЧ.
Ф
отодиоды
имеют буквенный код ФД и цифру, определяющую
Рисунок 5.38. Принцип действия фототранзистора
порядковый номер разработки (например, ФД-3).
