- •3.Основные законы геометрической оптики. Принцип Ферма.
- •14Интерференция в тонких пленках.Полосы равного наклона. Условия максимумов интерференции.Применение интерференции света.
- •16.Дифракция света. Принцип Гюйгенса-Френеля. Метод зон Френеля. Прямолинейность
- •17.Дифракция Френеля на круглом отверстии, на сплошном диске.Пятно Пуассона. Радиус зоны Френеля.
- •18.Дифракция Фраунгофера на одной щели,на двух щелях. Ширина дифракционного максимума.
- •20.Разрешающая способность дифракционной решетки. Критерий Релея.
- •21. Дифракция рентгеновских лучей. Рентгеноструктурный анализ. Формула Вульфа-Брэггов.
- •22. Взаимодействие света с веществом. Дисперсия,нормальная и анормальная.Закон Бугера.
- •23.Классическое объснение явления дисперсии.
- •24.Эффект Доплера для электромагнитный волн.
- •25. Эффект Черенкова,качественное объяснение.
- •26.Тепловое равновесное излучение. Излучательная и поглощательная способность. Закон Кирхгофа.Законы
- •27. Закон Рэлея-Джинса.Ультраф.Катастрофа.Гипотеза планка.
- •28.Фотоэффект.Уравнение Эйнштейна. Красная граница фотоэффекта.
- •II. Максимальная начальная скорость (максимальная начальная кинетическая энергия) фотоэлектронов не зависит от интенсивности падающего света, а определяется только его частотой .
- •29. Эффект Компотона,его объяснение из законов сохранения энергии и импульса.Энергия фотона и импульс
- •2 2 P c m c e
- •30 Волна вероятности.Опыт Джермера и Дэвинссона. Олна де Бройля. Корпускулярно-волновой дуализм.
- •2 4 2 2
- •0 M c p c
- •31. Волновая функция.Уравнение Шредингера.Стационарное уравнение.
- •I t I e t e e ( / )
- •I e t e ( / )
- •36. Туннельный эффект, его применения.
- •38. Излучение и поглощение света. Спонтанные переходы, резонансное поглощение, вынужденное излучение. Закон Бугера – Ламберта – Фабриканта.
- •39.Инверсная населенность. Отрицательное поглощение света. Лазеры и мазеры.
- •40.Устройство лазера. Рубиновый лазер, гелий–неонный лазер. Свойства лазерного излучения.
- •48.Нейтрон, открытие нейтрона. Сечение взаимодействия нейтрона с ядром.
- •49.Ядерные реакции. Искусственная радиоактивность.
- •50.Деление ядер. Альфа-распад. Альфа-активность.
- •51.Бета-распад. Бета-активность.
- •52. Термоядерные реакции. Термоядерный синтез.
- •54.Тормозное излучение. Коротковолновая граница сплошного рентгеновского излучения. Рентгеновская трубка.
- •59. Постулаты Эйнштейна. Замедление времени. Преобразования Лоренца.
- •60.Энергия и импульс в релятивистском случае. Связь массы и энергии. Инвариант в релятивистском случае.
20.Разрешающая способность дифракционной решетки. Критерий Релея.
Разрешающей способностью спектрального прибора принято называть отношение
(3.9)
где – минимальный интервал между двумя близкими спектральными линиями, при котором они могут быть разрешены, то есть отделены одна от другой. В качестве критерия разрешения используется обычно критерий разрешения Рэлея. Спектральные линии с близкими значениями и считаются разрешенными, если главный максимум дифракционной картины для одной спектральной линии совпадает по своему положению с первым дифракционным минимумом для другой спектральной линии. Рис. 3.4. поясняет критерий Рэлея.
Рисунок ___________3.4.
Кретерий спектрального разрешения Рэлея.
Так как спектральные линии, изображенные на рис. 3.4, некогерентны, результирующая интенсивность равна сумме интенсивностей (сплошная кривая на рис. 3.4). Наличие провала в центре кривой распределения интенсивности указывает на условный характер критерия Рэлея.
Для разрешающей способности дифракционной решетки легко получить из выражения
Таким образом, разрешающая способность дифракционной решетки пропорциональна порядку m спектра и числу N щелей, т. е. при заданном числе щелей увеличивается при переходе к большим значениям порядка m интерференции. Современные дифракционные решетки обладают довольно высокой разрешающей способностью (до 2105).
21.Дифракция рентгеновских лучей. Ренгеноструктурный анализ. Формула Вульфа-Бреггов.Простой метод расчета дифракции рентгеновского излучения от кристаллической решетки предложен независимо друг от друга Г. В. Вульфом (1863—1925) и английскими физиками Г. и Л. Брэггами (отец (1862—1942) и сын (1890—1971)). Они предположили, что дифракция рентгеновского излучения является результатом его отражения от системы параллельных кристаллографических плоскостей (плоскостей, в которых лежат узлы (атомы) кристаллической решетки).
Пучок параллельных монохроматических рентгеновских лучей (1, 2) падает под углом скольжения (угол между направлением падающих лучей и кристаллографической плоскостью) и возбуждает атомы кристаллической решетки, которые становятся источниками когерентных вторичных волн 1' и 2', интерферирующих между собой, подобно вторичным волнам, от щелей дифракционной решетки. Максимумы интенсивности (дифракционные максимумы) наблюдаются в тех направлениях, в которых все отраженные атомными плоскостями волны будут находиться в одинаковой фазе. Эти направления удовлетворяют формуле Вульфа — Брэггов
т. е. при разности хода между двумя лучами, отраженными от соседних кристаллографических плоскостей, кратной целому числу длин волн А, наблюдается дифракционный максимум.
Формула Вульфа — Брэггов используется при решении двух важных задач:
1. Наблюдая дифракцию рентгеновских лучей известной длины волны на кристаллической структуре неизвестного строения и измеряя и т, можно найти межплоскостное расстояние (d), т.е. определить структуру вещества. Этот метод лежит в основе рентгеноструктурного анализа. Формула Вульфа — Брэггов остается справедливой и при дифракции электронов и нейтронов. Методы исследования структуры вещества, основанные на дифракции электронов и нейтронов, называются соответственно электронографией и нейтронографией.
2. Наблюдая дифракцию рентгеновских лучей неизвестной длины волны на кристаллической структуре при известном d и измеряя и т, можно найти длину волны падающего рентгеновского излучения. Этот метод лежит в основе рентгеновской спектроскопии.