- •Содержание
- •Введение
- •Основная часть
- •1 Применение обратного пространства к анализу электронограмм
- •1.1 Понятие обратной решетки и ее связь с электронограммой
- •2 Примеры построения моделей обратных решеток
- •2.1 Модель обратной решетки оцк кристалла
- •2.2 Модель обратной решетки гцк кристалла
- •Список используемой литературы
- •Заключение
Заключение
Взаимосвязь структуры и свойств материалов – основной вопрос материаловедения. Метод электронной микроскопии остается наиболее информативным и простым для получения полной информации о структуре образца. Освоив основные методики изучения структуры образца с помощью просвечивающего электронного микроскопа и приемы работы на данном оборудовании, будущий специалист приобретет необходимые навыки для дальнейшей профессиональной деятельности. Работа современного инженера-материаловеда без знания основных методик невозможна.
Список используемой литературы
1. Рентгенографический и электронно-оптический анализ: учеб. пособие для вузов / С.С. Горелик, Ю.А. Скаков, Л.Н. Расторгуев. – 3-е изд., доп. и перераб. – М.: МИСИС, 1994. – 328 с.
2. Рентгенофазовый анализ: методические указания по дисциплине «Физико-химические методы исследования» / Сост. Л.Н. Пименова. – Томск: Изд-во Том. архит.-строит. ун-та, 2005. – 14 с.
3. Рентгеновский фазовый анализ: учебное электронное текстовое издание / А.К. Штольц, А.И. Медведев, Л.В. Курбатов. – Екатеринбург: Изд-во УГТУ-УПИ, 2005.
4. Геометрическая теория рассеяния ускоренных электронов на кристаллах. Описание лабораторной работы / Сост. Р.В. Кудрявцева, Д.А. Павлов, П.А. Шиляев. – Н. Новгород: Нижегородский государственный университет, 2003. – 37 с.
