
- •Учебно-методический комплекс
- •1 Классификация иэот по конструктивно-технологическим признакам -2 часа.
- •2. Пленочные элементыТонкопленочные резисторы (r). Виды, форма. Методы расчета. Материалы и требования, предъявляемые к ним. Способы корректировки номиналов.
- •2.1 Резисторы
- •2.2 Конденсаторы
- •2.3 Индуктивности
- •3 Резисторы и конденсаторы в «полупроводниковом» исполнении. Топологические решения. Методы расчета
- •3.1 Конденсаторы
- •3.2 Резисторы
- •4. Конструкционная основа для ис
- •Базовые технологические процессы изготовления ис.
- •5.1 Вакуумно-термическое испарение
- •Температуры плавления и испарения элементов Таблица 5.1.1
- •5.2. Типы и конструкции испарителей
- •5.3. Лазерное, электронно-лучевое, «взрывное» испарение
- •5.4. Катодное распыление
- •5.5 Высокочастотное распыление. Реактивное распыление
- •5.6 Получение пленок из газовой фазы
- •5.7 Хлоридные и силановый методы получения эпитаксиальных слоев
- •5.8 Легирование при эпитаксии
- •5.9. Термическое окисление Si
- •5.10. Пиролитическое получение пленок из газовой фазы при нормальном и пониженном давлении
- •5.11. Плазмохимическое осаждение
- •Формирование легированных слоев в технологии иэот.
- •6.1. Распределение примесей при диффузии и неограниченного и ограниченного источников.
- •6.2 Локальная диффузия
- •6.3 Многостадийная диффузия
- •6.4. Физико-химические основы ионного легирования
- •7. Методы формирования конфигурации элементов иэот
- •7.2 Контактная фотолитография
- •Позитивные и негативные фоторезисты
- •7.3.Фоторезисты (фр), виды, требования к ним, методы нанесения
- •7.4 Проекционная флг
- •7.5 Электрополитография
- •7.6 Рентгенолитиграфия
- •7.7 Ионнолитография
- •8 Сборочные процессы в технологии иэот
- •8.1 Методы разделения пластин и подложек
- •8.2 Методы установки кристаллов и плат в корпуса
- •8.2.1 Монтаж с использованием эвтектических сплавов
- •8.2.2 Монтаж с использованием клеев и компаундов
- •8.3 Виды выводов.
- •8.4 Термокомпрессионная, ультразвуковая и термозвуковая сварки
- •8.5 Методы и материалы для герметизации кристаллов и плат
- •9 Толстопленочная технология
- •9.1 Пасты для проводящих, резисторных и диэлектрических элементов, их характеристики. Технология нанесения и вжигания паст.
- •9.2 Методы формирования рисунка. Трафаретная печать.
- •10.2 Плазменные методы удаления материала с поверхности твердого тела. Сущность и классификация методов обработки поверхности
- •10.3 Очистка поверхности газовым травлением
- •11 Oсновные методы производства волоконных световодов
- •11.1 Одномодовые световоды. Многомодовые световоды с и ступенчатым профилем. Волоконные световоды со специальными свойствами. Полимерные световоды.
- •11.2 Модифицированный процесс evd (mcvd)
- •11.3 Принципы и особенности построения вопс (волоконно-оптической системы передач).
- •Практическое занятие n1 Определение профилей распределения примесей при термической диффузии
- •Определение режимов диффузии на основании заданных параметров распределения примеси. 1.1. Одностадийная диффузия.
- •II. Расчет дозы облучения для получения заданной концентрации примеси
- •- Линейный закон роста (кинетический контроль); (17)
- •2. Определение Rk к эпитаксиапьным слоям на низкоомной подложке
- •3. Определение Rk no распределению потенциалов вдоль образца.
- •Значения Фm некоторых металлов.
БЕЛОРУССКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИНФОРМАТИКИ И РАДИОЭЛЕКТРОНИКИ
Учебно-методический комплекс
по дисциплине
“ТЕХНОЛОГИЯ ИЗДЕЛИЙ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКОЙ ТЕХНИКИ”
для студентов специальности Т 08.03.00
«Электронно-оптические системы и технологии»
Факультет - компьютерного проектирования
Кафедра - ЭТТ
Курс - 4
Семестр - 8
Лекций - 64 час.
Лабораторные занятия - 32 час.
Практические занятия - 16 час.
Экзамен
Всего: 96 часов
Минск 2007
СОДЕРЖАНИЕ
Рабочая программа……………………………………………………………………………………………………….…….3
Классификация ИЭОТ по конструктивно-технологическим признакам……………………………………………….….14
2. Пленочные элементы…………………………………………………………………………………………………..……16
2.1 Резисторы……………………………………………...…………………………………………………………..16
2.2 Конденсаторы…………………………………………………………...……………………………………..….19
2.3 Индуктивности……………………………………………………………………...…………………………….22
3 Резисторы и конденсаторы в «полупроводниковом» исполнении………………………………………………….24
3.1 Конденсаторы………………………………………………………………………..……………………………24
3.2 Резисторы……….…………………………………………………………………….…………………………..26
4. Конструкционная основа для ИС…………………………………………………………………………………………..32
5. Базовые технологические процессы изготовления ИС…………………………………………………………………...34
5.2. Типы и конструкции испарителей........................................................................................................................37
5.3. Лазерное, электронно-лучевое, «взрывное» испарение…………………………………………………..…...41
5.4. КАТОДНОЕ РАСПЫЛЕНИЕ………………………………………………………………………………..….44
5.5 Высокочастотное распыление. Реактивное распыление…………………………..…………………………...45
5.6 ПОЛУЧЕНИЕ ПЛЕНОК ИЗ ГАЗОВОЙ ФАЗЫ……………………………………….……………………….46
5.7 Хлоридные и силановый методы получения эпитаксиальных слоев…………………..………………..47
5.8 Легирование при эпитаксии………………………………………………………………………..………….…49
5.9. Термическое окисление Si…..………………………………………………………………………..…………52
5.10. Пиролитическое получение пленок из газовой фазы при нормальном и пониженном давлении…...…...54
5.11. ПЛАЗМОХИМИЧЕСКОЕ ОСАЖДЕНИЕ….……………………………………………………….….…….55
6. Формирование легированных слоев в технологии ИЭОТ….…………………………………………………..…..…….56
6.1. Распределение примесей при диффузии и неограниченного и ограниченного источников…………..……56
6.2 Локальная диффузия………………………………………………………………………………………….....57
6.3 Многостадийная диффузия…..…………………………………………………………………………………..58
6.4. ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ИОННОГО ЛЕГИРОВАНИЯ…..……………………..……………..60
7. МЕТОДЫ ФОРМИРОВАНИЯ КОНФИГУРАЦИИ ЭЛЕМЕНТОВ ИЭОТ…..…………………………………………62
7.1 Масочные методы. Метод свободных масок. Классификация масок и методы получения……………..….62
7.2 Контактная фотолитография …………………………………………………………………………………....65
7.3.Фоторезисты (ФР), виды, требования к ним, методы нанесение………..……………………………………67
7.4 Проекционная ФЛГ …….…………………………………………………….……………………………….…79
7.5 Электрополитография ………………………………………………………….………………………………..84
7.6 Рентгенолитиграфия……………………………………………………………..……………………………….88
7.7 Ионнолитография………………………………………………………………….……………………………..90
8 Сборочные процессы в технологии ИЭОТ…………………………………………………………………………………91
8.1 Методы разделения пластин и подложек…..……………………………………………..…………………….91
8.2 Методы установки кристаллов и плат в корпуса…..……………………………………….………………….96
8.2.1 Монтаж с использованием эвтектических сплавов….……………………………………………...96
8.2.2 Монтаж с использованием клеев и компаундов…………………………………………………….97
8.3 Виды выводов……………………………………………………………………………………….…………....98
8.4 Термокомпрессионная, ультразвуковая и термозвуковая сварки…….……………………………..……….100
8.5 Методы и материалы для герметизации кристаллов и плат……..…………………………………..……….104
9 Толстопленочная технология………………………………………………………………………………………………106
9.1 Пасты для проводящих, резисторных и диэлектрических элементов, их характеристики. Технология нанесения и вжигания паст…………………………………………………………………………………………………..106
9.2 Методы формирования рисунка. Трафаретная печать………………….…………………………………….107
10. Технология очистки………………………………………………………………………………………………………109
11 Oсновные методы производства волоконных световодов……………………………………………………………...114
11.1 Одномодовые световоды. Многомодовые световоды с и ступенчатым профилем…...…………………..114
11.2 Модифицированный процесс EVD (MCVD)… ……………………………………………………………..115
11.3 Принципы и особенности построения ВОПС (волоконно-оптической системы передач)… ……………118