
- •Конспект лекций по дисциплине «Физическая химия твердого тела» Направление подготовки
- •240100 Химическая технология
- •Магистерская программа
- •1. Введение. Основные цели и задачи физической химии твердого тела.
- •2. Кристаллография
- •Координаты точек и линий в элементарной ячейке.
- •Симметрия элементарной ячейки.
- •3. Кристаллохимия.
- •Основные виды гексагональных структур.
- •4.Дефекты кристаллической решетки. Точечные дефекты (дефекты I рода).
- •Температурные дефекты.
- •Структуры разрыхления. Дефекты по Шотки.
- •Структуры смещения. Дефекты по Френкелю.
- •Протяженные дефекты (дефекты II рода).
- •Дислокации. Дислокацией называется область дефектов решетки, простирающейся вдоль некоторой линии (линии дислокации). Краевые дислокации.
- •Винтовые диислокации.
- •Расчет дефектности.
- •Определение объема приходящегося на дефекты I и II рода.
- •Взаимодействие точечных и протяженных дефектов.
- •Источник Франка – Рида.
- •5. Методы исследования твердого тела Рентгенофазовый анализ
- •Возникновение непрерывного и линейчатого (атомного) спектра.
- •Закон Мозели.
- •Четыре квантовых числа.
- •Принцип Паули.
- •Основные сведения по физике рентгеновских лучей. Спектры испускания лучей.
- •Спектры поглощения рентгеновских лучей.
- •Рассеяние свободным электроном.
- •Эффект Комптона.
- •Фотоэффект.
- •Суммарное поглощение рентгеновского излучения веществом.
- •Спектры поглощения рентгеновского излучения.
- •Дифракция рентгновских лучей
- •Вывод уравнения Лауэ.
- •Вывод уравнения Вульфа – Брэгга.
- •Аппаратура для рентгененофазового анализа Принципиальная схема рентгеновской установки типа дрон.
- •Выбор основных параметров съемки дифрактограмм на рентгеновской установк типа дрон.
- •Приготовление образцов для проведения рентгенофазового анализа.
- •Съемка дифрактограмм. Метод Брентано.
- •Съемка рентгенограмм в монохроматическом излучении
- •Идентифкация вещества по межплоскостным расстояниям.
- •Индицирование рентгенограмм порошка.
- •Критерии правильности индицирования рентгенограмм.
- •Обратная решетка.
- •Индицирование рентгенограмм порошка. Индицирование рентгенограмм кубических веществ. Закон погасания.
- •Индицирование рентгенограмм в случае средних сингоний.
- •Аналитический метод индицирования рентгенограмм ромбических кристаллов (метод Хесса - Липсона).
- •Индицирование дебаеграмм методом Ито.
- •Метод подбора изоструктурного соединения.
- •Метод гомологии расшифровки рентгенограмм.
- •Переход от кубической ячейки к гексагональной.
- •Политипия. Интерпретация рентгенограмм слоистых структур со сложным характером чередования связей.
- •Источники ошибок в определении межплоскостных расстояний.
- •Зависимость точности в определении межплоскостного расстояния d от угла отражения .
- •Поправка на преломление.
- •Определение размеров кристаллитов и микронапряжений.
- •Метод определения областей когерентного рассеяния (окр).
- •Растровая электронная микроскопия (рэм, сэм) и рентгеноспектральный микроанализ (рсма).
- •Физические основы растровой электронной микроскопии
- •Формирование изображения в рэм.
- •Сканируемая область в зависимости от увеличения.
- •Глубина фокуса
- •Передача изобажения в цифровой форме и их обработка
- •Контраст
- •Контраст зависящий от атомного номера (контраст от состава, сигнал отраженных электронов)
- •Контраст от состава образца (режим вторичных электронов)
- •Компоненты контраста.
- •Ограничения разрешения.
- •Рентгеноспектральный микроанализ Физические основы рентгеноспектрального микороанализа
- •Устройство и работа рентгеноспектрального микроанализатора
- •Подготовка объектов для исследований и особые требования к ним
- •Технические возможности рентгеноспектрального микроанализатора
- •Технические возможности сканирующего туннельного микроскопа
- •Требования к объектам исследования и методы их подготовки
- •Области использования сканирующей туннельной микроскопии
- •Развитие микроскопии ближнего поля и расширение области её применения
- •Программное обеспечение. Форма сохранения и выдачи информации
- •Термический анализ.
- •Термогравиметрический анализ (тга).
- •Дифференциально – термический анализ (дта).
- •Применение дта и тга.
- •Пример разложения каолина Al4(Si4o10)(oh)8.
- •Изучение стеклообразования методом дта.
- •Некоторые особые области применения дта.
- •Спектральные методы исследования твердых тел
- •Спектроскопия видимого излучения и уф – спектроскопия.
- •Спектроскопия ямр (ядерно-магнитного резонанса).
- •Спектроскопия эпр(электронный парамагнитный резонанс).
- •Электронная спектроскопия эсха, рфс, уфс, Оже-спектроскопия, схпээ.
- •Ядерная - резонансная (Мессбауэровская ) спектроскопия.
- •Спектроскопия комбинационного рассеяния света (кр, крс, Раммановская спектроскопия).
- •Рассеяние света.
- •Колебания, модуляции, спекры.
- •Комбинационное рассеяние и поглощение света.
- •Основные параметры линий комбинационного рассеяния.
- •Применение комбинационного рассеяния в химии.
- •Установление химического строения молекул.
- •Исследование микроскопических образцов методом крс.
- •Основы зонной теории твердых тел Классификация твердых тел по величине электропроводности Твердое тело
- •Металлический кремний (Si) – 103 – 10-5 10-10 Ом-1см-1,
- •Уравнение Шредингера для твердого тела
- •Одноэлекторонное приближение
- •Функции Блоха
- •Свойства волнового вектора электрона в кристалле. Зоны Бриллюэна.
- •Построение зон Бриллюэна в простой кубической решетке с параметром а
- •Заполнение зон электронами. Металлы, диэлектрики, полупроводники
- •Физические свойства кристаллов и методвы их определения Электрические свойства тел. Основные свойства металлов. Электропроводность.
- •Температурная зависимость электропроводности
- •Влияние примесей и дефектов
- •Сверхпроводимость
- •Электропроводность металлов
- •Электрон в кристалле всегда подчиняется функции Блоха
- •Собственная проводимость полупроводников.
- •Концентрация носителей
- •Равновесная концентрация дырок в валентной зоне
- •Концентрация дырок, с учетом всех выкладок, будет равна
- •Подвижность в собственном полупроводнике
- •Проводимость примесных полупроводников
- •Концентрация носителей
- •Подвижность
- •Электропроводность диэлектриков.
Метод гомологии расшифровки рентгенограмм.
Сложные структуры можно рассматривать искажение более простых структур с высокой симметрией. При этом следует иногда изменить направление и величину векторов решетки, что приводит к изменению индексов на рентгенограмме. Та же задача возникает при описании одной и той же решетки в разных установках.
Если вектора новой ячейки a, b, c связаны с векторами исходной ячейки a0, b0, c0, то они связаны соотношениями
Плоскости с индексами h0k0l0 в первой ячейке будут соответствовать индексы hkl вычисляемые по соотношениям
Переходя на матрицу
Величина определителя матрицы показывает, во сколько раз изменяется объем ячейки при выборе новых векторов.
Переход от кубической ячейки к гексагональной.
Этот переход возможен, поскольку в кубической ячейке имеются оси третьего порядка. Их направления совпадают с направлениями объемных диагоналей. Кратчайшими перпендикулярами к оси 3 трансляциями будут трансляции по диагоналям граней кубической ячейки. Так как, три направления в гексагональной ячейке равноценны, обозначим их а1, a2, а3 (рис.)
Иногда
в гексагональной ячейке положение
плоскостей задается четырьмя индексами
hkil
,
отсюда
Для вычисления индексов плоскостей в гексагональной упаковке записывается матрица перехода
Линия
hk0 (в кубической ячейке)
на рентгенограмме является суммой линий
hk0, h0l,
0kl различающихся порядком и знаками
индексов, это очень важно при определении
индексов той же линии в гексагональной
установке. При этом плоскости, отличающиеся
только порядком индексов и значениями
l, будут иметь одно и тоже
расстояние d, и отражения
от семейств этих плоскостей на
рентгенограмме будут сливаться (плоскости
hkil и
).
Когда ячейка, которая является исходной,
не искажена, переход к другой установке
сопровождается увеличением количества
индексов, которые могут быть приписаны
линиям рентгенограммы. При искажении
решетки эти линии могут иметь различные
d и место одиночных линий,
на рентгенограмме неискаженной структуры,
появляется группа линий. В зависимости
от типа искажения решетки и индексов
исходной линии, число этих линий может
быть различным, что позволяет решать
обратную задачу: установить тип искажения
решетки по числу линий, образующихся
вместо одиночных линий исходного
вещества. В.И. Михеевым были составлены
соответствующие таблицы расщепления
линий при искажении для кубических
(ГЦК, ОЦК, примитивная) и гексагональной
решеток (таблица 1-4).
Таблица 1
Расщепления линий на рентгенограммах при искажении
кубической ГЦК – решетки.
-
№ типа
искажения
Сингония
Число линий на дебаеграмме
111
200
220
311
222
400
1
Тетрагональная
1
2
2
2
1
2
2
Тригональная
2
1
2
3
2
1
3
Ромбическая
2
2
3
4
3
2
4
Ромбическая
1
3
3
3
1
3
5
Моноклинная
2
3
4
6
2
3
6
Моноклинная
3
2
4
7
3
2
7
Триклинная
4
3
6
12
4
3
Таблица 1
Расщепления линий на рентгенограммах при искажении
кубической ОЦК – решетки.
-
№ типа
искажения
Сингония
Число линий на дебаеграмме
110
200
211
220
310
222
1
Тетрагональная
2
2
2
2
3
1
2
Тригональная
2
1
3
2
2
2
3
Ромбическая
3
3
3
3
4
1
4
Ромбическая
3
2
4
3
4
3
5
Моноклинная
4
3
6
4
8
2
6
Моноклинная
4
2
7
4
6
3
7
Триклинная
6
3
12
6
12
4
Таблица 3
Расщепления линий на рентгенограммах при искажении
кубической примитивной решетки.
-
№ типа
искажения
Сингония
Число линий на дебаеграмме
100
110
111
200
210
211
1
Тетрагональная
2
2
1
2
3
2
2
Тригональная
1
2
2
1
2
3
3
Ромбическая
3
3
1
3
6
3
4
Ромбическая
2
3
2
2
4
4
5
Моноклинная
3
4
2
3
8
6
6
Моноклинная
2
4
3
2
6
7
7
Триклинная
3
6
4
3
12
12
Таблица 4
Расщепления линий на рентгенограммах при искажении
гексагональной решетки (двуслойная плотнейшая упаковка).
-
№ типа
искажения
Сингония
Число линий на дебаеграмме
1012
1
Ромбическая
2
1
2
2
2
2
2
2
2
Моноклинная
2
1
3
3
2
3
2
4
3
Моноклинная
2
1
4
4
2
4
2
3
4
Моноклинная
3
1
3
3
3
3
3
3
5
Триклинная
3
1
6
6
3
6
3
6
Индицирование методом гомологии можно разбить на несколько этапов:
подбор исходной решетки
определение типа искажения исходной решетки
проверка типа искажения и индицирование основных линий рентгенограммы
поиски линий сверхструктуры
При подборе исходной решетки, особенно для иных случаев, чем рассмотренные, целесообразно воспользоваться правилами подбора изоструктурного соединения. Если искажение невелико, то определение типа исходной структуры достаточно однозначно. В противном случае возникают трудности при отнесении линий к той или иной структуре (особенно если ячейка гексагональная или ГЦК).
Искажение структуры может сопровождаться (вследствие смещения атомов) появлением слабых дополнительных линий, отсутствующих на рентгенограмме вещества с исходной структурой. На первой стадии индицирования их не принимают во внимание. Только после определения параметров ячейки по основным линиям делается попытка индицирования слабых линий с увеличением одного или нескольких параметров решетки в целое число раз, а иногда и с выбором ориентации осей.