
- •3. Виды электрической проводимости и их характеристики.
- •4. Основные методы измерения удельного сопротивления. Условия приприменимое методом Ван-дер-Пау.
- •5. Основные методы измерения удельного сопротивления. Измерение удельного сопротивления двухзондовым методом.
- •6. Основные методы измерения удельного сопротивления. Метод измерения удельного сопротивления.
- •7. Основные методы измерения удельного сопротивления. Условия применения четырехзондовым методом.
- •8. Бесконтактный метод удельного сопротивления.
- •9. Измерение подвижности и концентрации подвижности носителей заряда.
- •10. Эффект Холла.
- •11. Измерение эдс Холла. Эффекты, вызывающие погрешность.
- •12. Измерение эдс Холла метода Ван-дерПа.
- •13. Измерение тока Холла
- •14. Измерение подвижности методом магнитного сопротивления.
- •15. Виды диэлектриков и диэлектрическая проницаемость различных веществ.
- •16. Измерение диэлектрической проницаемости методом баллистического гальванометра.
- •17. Измерение диэлектрической проницаемости мостовым методом.
- •18. Измерение диэлектрической проницаемости жидкостным методом.
- •19. Измерение диэлектрической проницаемости жидкости абсолютным методом.
- •20. Измерение диэлектрической проницаемости порошков.
- •21. Измерение диэлектрической проницаемости порошков прямого измерения.
- •22. Измерение диэлектрической проницаемости в твердых материалах.
- •23. Термоэлектрические эффекты.
- •24. Эффект Зеебека и его практическое применение.
- •25. Эффект Пельтье и его практическое применение.
- •26. Определение коэффициента теплопроводности абсолютным методом.
- •27. Определение коэффициента теплопроводности относительным методом.
- •28. Схемы при интегральной и дифференциальной термо эдс.
- •29. Устройство и принцип работы жиромеров.
- •30. Электрохимические преобразователи и их виды.
- •32. Радиоактивные преобразовательные с термоэлектронной эмиссией и параллельно ионизационный преобразователь.
- •33. Химические сенсоры, область применения, принцип работы.
- •34. Сенсоры на основе твердых электролитов. Область применения, принцип работы.
- •35. Тепловые сенсоры. Область применения, принцип работы.
- •36. Массочувствительные сенсоры. Область применения.
- •37. Устройство, принцип действия асцилографов.
- •39. Цифровые измерительные приборы. Основные принципы построения, структурная схема.
- •40. Устройство и принцип работы электродинамических измерительных механизмов.
- •41. Устройство и принцип действия магнитно-электрических измерительных механизмов.
- •42. Устройство и принцип действия электромагнитных измерительных механизмов.
- •43. Устройство и принцип действия электростатического измерительного механизма.
- •44. Принцип действия индукционного вибрационного, биметаллического и теплового измерительных приборов.
- •45. Измерение температуры терморезисторами и термопарами.
- •46. Измерение электропроводности растворов электролитов. Понятие удельная, эквивалентная электропроводность. Закон Кольрауша. Факторы влияющие на точность измерения электропроводности растворов.
8. Бесконтактный метод удельного сопротивления.
Это неразрушающий метод измерения, т.к. не нужно изготавливать образцы специальной формы, не нужно наносить контакты. Наиболее часто применяют индуктивный и емкостной методы.
Индуктивный метод. Используют катушку индуктивности, по которой пропускают переменный ток, а также регистрирующее устройство, позволяющее определить значение и фазу этого тока. При измерениях, в зависимости от типа катушки, образец помещают либо внутрь её, либо катушку прижимают к образцу. Исследуемый образец влияет на электрические параметры катушки и в результате протекающий через неё ток изменяется. По изменению тока можно судить о удельному сопротивлению образца. Изменение параметров катушки при её взаимодействии с образцом определяют следующим образом: активное сопротивление катушки возрастает:
Индуктивное сопротивление катушки уменьшится:
Где R1 – сопротивление катушки
R2 – сопротивление образца
M – коэффициент взаимной индукции
L1 – индуктивность катушка
L2 – индуктивность образца
Активное и индуктивное сопротивление катушки зависят от эквивалентного сопротивления образца, которое связано с его удельным сопротивлением. Эта зависимость даёт возможность, измеряя изменение активного и индуктивного сопротивления катушки по заранее полученным калибровочным зависимостям, определять сопротивление образца. Диапазон измерений от 10-4 до 2 Ом*см.
При емкостном методе измерения удельного сопротивления измеряют импеданс образца, т.е. активное сопротивление и ёмкость. Связь образца с измерительной схемой осуществляется с помощью U-образных или кольцевых контактов, отделяемых от образца слоем диэлектрика. Металлический контакт и поверхность образца составляют ёмкость. Образец с контактами можно представить как последовательно включённые ёмкости и сопротивления части образца, заключённого между контактами.
Измерения основаны на принципе вариации параметров данного колебательного контура, при этом, как и в случае индуктивного метода, необязательно фиксировать само изменение импеданса, можно регистрировать функционально связанные с ним характеристики, например добротность. Метод требует предварительной калибровки. Диапазон измерений 10-4-103 Ом*см.
9. Измерение подвижности и концентрации подвижности носителей заряда.
Т Для определения концентрации и подвижности носителей заряда необходимо измерить проводимость образца и постоянную Холла. Измерения обычно проводят следующим образом: на верхней грани образца размещают два зонда 1 и 2 вдоль направления линий тока, а со стороны нижней грани устанавливают зонд 3, встречный одному из них. С помощью зондов 1 и 2 измеряют проводимость образца по двухзондовому методу, а зонды 1 и 3 служат для измерения холловской разности потенциалов.
Ez=Uн/b – холловское электрическое поле
j=I/S=I/bd – плотность тока
Холловская разность потенциалов:
Uн/b=Rн*I*B/bd Uн=Rн*IB/d Rн=Uн*d/IB
По измеренному значению Rн находится конц-ция носителей n, а затем из соотношения μ= Rн*σ вычисляется холловская подвижность. Если материал содержит 2 типа носителей заряда, определить их конц-wb. И подвижность с помощью эффекта Холла невозможно. Носители заряда, движущиеся со средней скоростью, не испытывают влияния силы Лоренца вследствие компенсирующего воздействия поля Холла, поэтому траектория их движения в магнитном поле остается неизменной. Но носители, скорость которых больше или меньше средней, будут отклоняться в разные стороны, скорость их движения вдоль продольного поля уменьшится, что эквивалентно возрастанию удельного сопротивления образца. Этот эффект называется поперечным магнитосопротивлением.Однако наибольшую погрешность в измерения обычно вносит напряжение неэквипотенциальности, причина появления которого: если зонды 1 и 3 расположены точно друг напротив друга, то при отсутствии магнитного поля они находятся на одной экви потенциальной поверхности и напряжение между ними равно нулю. Если между ними есть некоторое смещение δ, то они находятся на разных эквипотенциальных поверхностях и даже в отсутствие магнитного поля между ними есть некоторое напряжение неэквипотенциальности Uδ:
Uδ(B=0)=1/σ*Iδ/Ld, причем Uδ зависит от В.
Если образцы имеют произвольную форму либо пленочные образцы, то используют метод Ван-Дер-Пау, для реализации которого используются однородные по толщине образцы, имеющие 4 точечных контакта, расположенных по периметру образца.
Постоянная Холла:
μ= Rн/ρ – подвижность, где ρ-удельное сопрот-ние
Для измерения подвижности применяют метод геометрического магнитосопротивления, когда использование других методов невозможно.
Магниторезистивный эффект возникает вследствие искривления пути носителей заряда в магнитном поле и отклонения направления их движения от направления продольного электрического поля. На магниторезистивном эффекте основан метод измерения подвижности носителей заряда по геометрическому магнитосопротивлению.Сущность этого эффекта : в центральной части короткого и широкого образца магнитное поле уменьшает удельную проводимость в (1+μ2*B2) раз.Метод магнитосопротивления: на исслед. образец наносятся омические контакты большой площади и через ник протекают электрический ток Ix (вдоль оси х). В поперечном магнитном поле (вдоль оси z) в образце возникает холловский ток Iy. В данном случае холловский ток не компенсируется холловской разностью потенциалов, так как при геометрии образца, когда d/L<<1, токовые контакты закорачивают холловское поле.
L
+
Результирующий ток в образце будет направлен под некоторым углом к току Iх, что приведет к изменению сопротивления μ образца вдоль оси х.
μm=1/B*
- магниторезистивная подвижность
где В – индукция магнитного поля; R(B) - изменение сопротивление образца, вызванное магнитным полем с индукцией В; R(0) – сопротивление образца.
Для того чтобы метод геом. магнитосопротивления обеспечивал высокую точность измерений, сопротивление контактов должно быть минимальным и пренибрежимо малы по сравнению с сопротивлением исследуемого образца.