
- •1. Устройства управления лазерным излучением на основе эффекта наведенной анизотропии
- •2.Электрооптические модуляторы света
- •2.1Электрооптический эффект
- •2.3. Исследование модуляторов на кубических кристаллах
- •2.4.Исследование электрооптических модуляторов на кристаллах симметрии 3m
- •2.5.Исследование квадратичного электрооптического эффекта в цтсл
- •2.6. Описание лабораторной установки
2.6. Описание лабораторной установки
Лабораторный стенд предназначен для снятия СМХ различных образцов электрооптических материалов ( кристаллы Bi12GeO20, LiNbO3 и ЦТСЛ ) и определения полуволнового напряжения для этих образцов . Этот стенд позволяет наглядно сравнить различные виды электрооптических эффектов в этих материалах.
В лабораторной установке , состоящей из источника излучения (ГН-2П), столика с образцами, пластинки анализатора , фотоприемника (ФД-10К), микровольтметра (В7-28) и источника питания (ТВ-2) линейно поляризованное излучение лазера проходит через один из образцов, находящихся на столике, проходя пластинку анализатора попадает на фотоприемник и регистрируется микровольтметром. Изменяя напряжение источника питания и снимая показания микровольтметра, можно построить СМХ всех образцов.
Описание лабораторной установки
Управлять разностью фаз можно с помощью электрического поля (2.21), используя соответствующие среды (например ADP).
СМХ (2.23) , (2.24) для DKDP (ADP) и LTA можно построить , измерив пропускание модулятора в зависимости от прикладываемого напряжения в лабораторной установке, собранной по схеме рис.2.4.
Для этого эксперимента
лабораторный стенд, см. фото 1, содержит
источник напряжения драйвер (MODEL
3030C
или HVA-100K
300
В), модулятор - MODEL
28 (ADP)
или MODEL
13 (LTA),
Не-Ne
лазер с
мкм, приемник излучения и микроамперметр.
Дополнительных поляризаторов не
требуется для ADP,
т.к. излучение лазера линейно поляризовано,
а на корпусе модулятора после кристаллов
ADP
установлена поляризационная призма
MODEL
19. В случае
же LTA
модулятора
– призма Глана-Томсона (фото 1).
Порядок проведения работы
Установку для измерения СМХ включает преподаватель.
Измерение пропускания модуляторов ADP и LTA:
а) убедиться, что излучение лазера, проходящее через модулятор, попадает на фотодиод (см. Фото 1).
б) установить на источнике питания смещение 0 В по индикатору драйвера, затем:
- плавным вращением
ручки ручной регулировки смещения
выставить минимальное напряжение по
шкале вольтметра, подключенного к
усилителю и снять отсчет. Затем еще
увеличить напряжение и снять отсчет.
Занести ре Определяем полуволновое
напряжение: по микроамперметру фиксируем
минимальное и максимальное значение
сигнала с фотоприемника и отмечаем
соответствующие им напряжения смещения.
Umin
и Umax
. Разница Umax-
Umin=U
- разбиваем интервал U на 15 отсчетов и, изменяя напряжение на модуляторе от Umin до Umax с шагом U /15, записываем значения сигнала с приемника в таблицу:
-
N опыта
1
...
15
U ПРИЕМНИКА
U ADP
- затем, нормируя на максимальное значение сигнала (из табл.) и вычитая минимальное (фоновое), получаем значение =(Ui- Umin)/(Umax- Umin).
Далее строим график в координатах UМ = UADP, , примерный вид которого показан на графике рис. 2.14.
U
Рис. 2.14
После того, как опыт закончен, нужно вернуть все регуляторы и переключатели источника питания в первоначальное положение (убрать напряжение) и выключить прибор.
Через 3 минуты после выключения источника питания можно отключить высоковольтный разъем от измеряемого образца и подключить к следующему образцу.
Повторить п. 2-5 для ADP образца (фото 2), поставив фотодиод после соответствующего модулятора.