
- •1. Системы физическиз единиц сгс и си
- •2. Магнитное поле (суть явления, основные характеристики и способы генерации)
- •3. Формы записи и физический смысл законов Лоренца и Ампера
- •4.Формы записи и физический смысл законов Био-Савара-Лапласса, Гаусса
- •5. Закон электромагнитной индукции
- •6. Уравнения Максвелла. Интегральная и дифференциальная форма записей; физический смысл; система материальных уравнений Максвелла
- •7. Движение заряженных частиц в магнитном поле
- •8. Атомный магнетизм с точки зрения моделей атомов Резерфорда и Бора
- •9. Понятие «спина». Основные квантовые числа
- •10. Природа атомного магнетизма
- •11. Диамагнетизм
- •12. Парамагнетизм (природа происхождения)
- •13. Законы Кюри и Кюри-Вейсса
- •14. Ферромагнетизм
- •15. Свойства ферромагнетиков
- •16. Петли гистерезиса( классификация, основные характеристики)
- •17. Свойства магнитных материалов, используемых в цепях переменного тока
- •18. Антиферромагнетизм
- •19. Ферримагнетизм
- •20. Спиновые стекла; сперромагнетизм; асперромагнетизм; гелимагнетизм; сперимагнетизм; миктомагнетизм
- •21. Магнитотвёрдые материалы
- •22. Магнитомягкие материалы
- •23. Магнитострикционные материалы
- •24. Магнитооптические материалы
- •25. Термомагнитные материалы. Эффект Риги-Ледюка
- •26. Магнитные материалы с ппг
- •27. Эффект Холла
- •28. Эффект Гаусса
- •29. Физический и геометрический эффекты магнитосопротивления
- •30. Магниторезисторы ( определение, основные характеристики и способы реализации)
- •31. Диск Корбино ( определение, основные характеристики)
- •32. Вольтова чувствительность магниторезисторов
- •33. Шумы магниторезисторов
- •34. Тонкие магнитные пленки; магнитные эффекты в тонких магнитных пленках
- •35. Гигантский магниторезистивный эффект
- •36. Спин-зависимое туннелирование
- •37. Анизотропный магниторезистивный эффект
- •38. Мостовые схемы включения первичных магниторезистивных измерительных преобразователей
- •39. Структура магниторезистивного датчика. Утилитарные устройства магниторезистивных преобразователей и их основные параметры
- •40. Методика управления магниторезистивным преобразователем на основе амр-эффекта
- •41. Магнитное экранирование витка с током при частоте равной нулю
- •42. Зависимость экранирования витка с током от частоты
- •43. Эффективность экранирования элементарного магнитного диполя шаровым экраном
- •44.Расчет эффективности магнитного экранирования замкнутого излучателя реальным экраном
40. Методика управления магниторезистивным преобразователем на основе амр-эффекта
Эффективность регистрации параметров магнитного поля, по средствам рассмотренных выше устройств во многом зависит от выбора методики управления сенсорным модулем и варианта схемотехнической реализации непосредственно систем управления подмагничиванием и компенсации постоянной составляющей помех.
Рассмотрим методику управления магниторезистивным измерительным преобразователем на примере сенсора, построенного на базе АМР-эффекта.
Считая, что максимальная мощность рассеяния элемента подмагничивания известна, очевидно, что реализуя импульсный режим его возбуждения, при условии соблюдения условия (6.13), кратковременно допустимы значительно большие значения тока, нежели в случае возбуждения постоянным током.
(6.13)
где T – период подмагничивающего токового импульса; Iи(t) – функция тока подмагничивающего импульса от времени; I – максимально допустимый постоянный ток возбуждения катушки подмагничивания.
На рис. 6.9 представлена методика, посредством которой предлагается осуществлять управление работой АМР-датчика [26].
Рис. 6.9. Методика управления работой АМР-измерительным преобразователем
Далее, приведем некоторые разъяснения по сути данной методики с физической точки зрения.
В исходном состоянии, при условии отсутствия внешнего магнитного поля, ориентация магнитных моментов АМР-элемента хаотична (рис. 6.10, а) и его суммарный магнитный момент равен нулю. При воздействии на элемент внешнего магнитного поля, параметры которого стремимся измерить, магнитные домены пермаллоя приобретают преимущественную ориентацию, в целом, совпадающую с направлением индукции внешнего поля (рис. 6.10, б).
В результате протекания через подмагничивающую катушку токового импульса Iset, генерируется импульсное поле B0, эффект воздействия которого на магниторезистивный элемент продемонстрирован на рис. 6.10, в.
Рис. 6.10. Изменение магнитного состояния АМР пленки в процессе измерения магнитной индукции внешнего поля B
После считывания и регистрации отклика магниторезисторов, соединенных по мостовой схеме, следует генерация токового импульса противоположной полярности, в результате чего магнитные домены принимают соответствующую ориентацию. И далее, аналогично предыдущему воздействию, фиксируем отклик измерительной диагонали моста, после чего производим расчет среднего значения отклика моста в соответствии с выражением (6.14).
(6.14)
Согласно выражению (6.15) определяем значение напряжения U0(B), пропорциональное в конечном итоге индукции исследуемого магнитно поля.
(6.15)
Имея численное значение эквивалента напряжения, и зная функцию соответствия выхода датчика к внешнему воздействию U0(B) (выражение (5.13)), не представляет затруднений рассчитать параметр магнитной индукции исследуемого поля.