
- •Раздел 1. Строение кристалла в геометрии кристаллической решётки.
- •§1.1.Классификация состояний твёрдого тела.
- •1.Кристаллические
- •§ 1.2. Кристаллическая решётка. Её свойства.
- •Б) кристаллическая структура (физическая реальность)
- •Вектор трансляции
- •§1.3.1. Элементарная ячейка.
- •2) Сложная ячейка
- •§1.3.2.Наиболее распространённые типы кристаллических структур.
- •§1.4. Симметрия кристалла.
- •§1.4.1.Виды симметрии.
- •§1.4.2. Элементы симметрии.
- •§1.5. Точечные и пространственные группы.
- •§1.6.Решётки Бравэ.
- •§1.7.Решётка Вигнера-Зейца.
- •§1.8. Задание узлов направлениями плоскостей в кристалле. Индексы Миллера.
- •Направления задаются двумя точками, но так как одна из них находится в начале
- •§1.9. Обратная решётка.
- •§1.10.Зона Бриллюэна.
- •§1.11. Определение атомной структуры кристалла.
- •§1.11.1.Особенности использования рентгеновского излучения для анализа кристаллической структуры.
- •§1.11.2.Особенности электронного излучения.
- •§1.11.3. Нейтронография.
- •§1.12.Основы геометрической теории дифракции.
- •Раздел II. Основные типы связи в твердых телах.
- •§2.1 Классификация твердых тел. Тип связи.
- •§2.2 Энергия связи.
- •§2.3 Молекулярные кристаллы.
- •§2.3.1 Происхождение сил Ван-дер-Ваальса.
- •§2.4 Ионные кристаллы.
- •§2.4.1 Механизм образования ионной связи в кристаллах.
- •§2.5. Ковалентные кристаллы.
- •§2.5.1 Механизм образования ковалентной связи.
- •§2.6 Металлы.
- •§2.6.1 Механизм образования металлической связи.
- •§2.7 Водородная связь.
- •§2.8 Сопоставление различных видов связи.
- •Раздел III. Дефекты в твердом теле.
- •§3.1. Классификация дефектов.
- •В зависимости от типа исследований различают статические и динамические дефекты.
- •По происхождению дефекта различают дефекты, возникающие в процессе роста и обработки кристалла, под влиянием радиации.
- •§3.2. Равновесная концентрация дефектов по Шоттки.
- •§3.3. Равновесная концентрация дефектов по Френкелю.
- •§3.4. Влияние колебательной энтропии на концентрацию дефектов.
- •§3.5. Вакансионные комплексы.
- •§3.6. Неравновесные дефекты.
- •§3.7. Миграция дефектов.
- •Раздел IV: динамика кристаллической решетки
- •§ 4.1. Гармоническое и адиабатическое приближение. Нормальные колебания.
- •§ 4.2. Колебания однородной струны.
- •§ 4.3. Колебания цепочки с одноатомным базисом.
- •§ 4.4. Колебания линейной цепочки с двухатомным базисом.
- •§ 4.5. Колебания в трёхмерной решетке.
- •§ 4.6. Энергия нормальных колебаний. Понятие о фононах.
- •§ 4.7. Тепловые свойства твердых тел.
- •Теплоемкость.
- •Тепловое расширение.
- •Основные выводы по разделу IV.
- •Раздел V: основы электронной теории.
- •§ 5.1. Классификация твердых тел по электропроводности.
- •§ 5.2. Уравнение Шредингера для кристалла.
- •§ 5.3. Свойства волнового вектора электронов в кристалле
- •1. Свободный электрон.
- •2. Электрон в кристалле.
- •§ 5.4. Закон дисперсии для электронов в кристалле.
- •§ 5.5. Заполнение энергетических зон электронами.
- •§ 5.6. Динамические свойства электрона в кристалле.
- •§ 5.7. Приближение эффективной массы.
- •1. Центр зоны Бриллюэна (энергетическое дно):
- •2. Область вблизи точки а:
- •3. Область вблизи границ зоны Бриллюэна (верх энергетической зоны):
- •§ 5.8. Распределение электронных состояний внутри энергетической зоны.
- •§ 5.9. Распределение электронов по энергиям. Энергия Ферми.
- •§ 5.10. Экспериментальные методы исследования электронной структуры кристалла.
§ 5.9. Распределение электронов по энергиям. Энергия Ферми.
Рассмотрим закономерности распределения электронов по энергетическим уровням на примере металлов. Для определения числа свободных носителей заряда нужно знать не только функцию плотности состояний, но и функцию вероятности заполнения электронами разрешенных состояний. Запишем следующее соотношение:
,
где (5.22.)
-
число электронов в интервале
;
N’ – число заполненных состояний;
g(E) – плотность разрешенных состояний;
f(E) – функция заполнения электроном разрешенного состояния; определяется природой самого кристалла.
Если число разрешенных состояний соизмеримо с числом частиц, занимающих эти состояния, то говорят о вырождении электронного газа. Это вырождение сильно выражено в металлах. Полупроводники могут быть вырожденными и невырожденными в зависимости от типа полупроводника и температуры.
В случае вырожденного электронного газа частицы подчиняются квантовой статистике Ферми – Дирака, а в случае не вырожденного – классической статистике Максвелла – Больцмана. Запишем функцию распределения Ферми – Дирака для сильно вырожденного электронного газа:
(5.23.)
В формуле (5.23.) EF – свободная энергия системы в пересчете на одну частицу; физически – это максимальная энергия, которую может иметь электрон в металле при температуре Т=0 К.
Графически зависимость f(E) при различных значениях температуры изображена на Рис.5.12.
Анизотропия кристаллов влияет на величину энергии Ферми. Для учета зависимостей энергии Ферми от направления существуют изоэнергетические поверхности Ферми в k-пространстве (Рис.5.14.)
В
общем случае уравнение поверхности
имеет вид:
.
Поверхность Ферми может иметь сложный вид, однако обладает симметрией кристалла и периодична в обратном k-пространстве с периодом обратной решетки. Многие электронные свойства кристалла определяются формой поверхности Ферми.
§ 5.10. Экспериментальные методы исследования электронной структуры кристалла.
Для исследования электронной структуры кристалла используются такие физические явления, как испускание и поглощение электромагнитных волн. Поскольку сплошной электромагнитный спектр твердого тела несет мало информации, то для исследования структуры твердого тела используется рентгеновское спектроизлучение, возникающее при переходе электронов между внутренними оболочками атомов, а в случае кристаллов – между состояниями различных зон.
На рис.5.15. и рис.5.16. показаны графики зависимости интенсивностей электромагнитных спектров натрия и магния от плотности заполненных электронных состояний в валентных зонах этих металлов. Отсюда можно сделать вывод, что для различных веществ ширина зоны заполненных состояний имеет разное значение (в данном случае – 3.2 эВ и 7 эВ).