
- •29. Технологические типы биполярных транзисторов Диффузионный метод.
- •30. Распределение потенциала, концентрация зарядов и токи в биполярном транзисторе.
- •31. Концентрация неосновных носителей зарядов.
- •32. Концентрация основных носителей зарядов в базе (p-n-p).
- •33. Особенности транзисторов с переменной концентрацией примесей в базе (дрейфовые транзисторы) Электрическое поле в базе.
- •Неравновесный заряд базы.
- •34. Ток эмиттера. Уравнение тока эмиттера.
- •Коэффициент инжекции.
- •35. Управляемый ток коллектора
- •36. Собственный ток коллекторного перехода.
- •Уравнение тока коллектора.
- •Ток базы.
- •37. Статические характеристики биполярного транзистора.
- •Входные характеристики.
- •Выходные характеристики.
- •38. Входные характеристики
- •39. Выходные характеристики
- •40. Температурный дрейф характеристик транзистора.
- •41. Нелинейная модель биполярного транзистора.
- •Предельные режимы работы биполярного транзистора. Рабочий диапазон температур.
- •Максимально допустимая рассеивымая мощность.
- •42. Тепловой пробой
- •Электрический пробой.
- •43. Влияние сопротивления в цепи базы.
- •45. Определение h- параметров по характеристикам
- •46. Система y-параметров
- •4 7. Система z – параметров.
- •48. Динамические свойства транзисторов.
- •Коэффициент передачи тока базы на вч (схема с общим эмиттером).
- •50. Частотная зависимость y – параметров.
- •53. Динамические модели биполярного транзистора.
- •Биполярный транзистор в режиме усиления.
- •56. Обобщённая модель усилителя.
- •57. Схема с общей базой.
- •5 8. Схема с общим эмиттером.
- •59. Схема с общим коллектором.
- •60. Частотный диапазон работы усилителя.
- •61. Полевые транзисторы. Транзисторы с p-n затвором. Общие сведения.
- •Теория транзистора с p-n затвором.
- •62. Влияние напряжения затвора на сопротивлении канала.
- •63. Влияние напряжения стока на процессы в канале.
- •64. Теоретическая вах.
- •Вах транзистора с p-n затвором.
- •65. Входные характеристики.
- •Передаточные (стоко-затворные) характеристики.
- •Входные характиристики.
- •66. Дифференциальные параметры транзистора с p-n затвором.
- •Коэффициент усиления по напряжению
- •67. Зависимость дифференциальных параметров от частоты.
- •68. Шумы усилительных транзисторов.
- •69. Шумовые параметры транзисторов.
- •71. Тиристоры.
- •72. Тиристорное включение транзисторов.
32. Концентрация основных носителей зарядов в базе (p-n-p).
Инжекция дырок из эмиттера в базу сопровождается одновременным поступлением из внешней цепи (через вывод базы) такого количества электронов, которое обеспечивает нейтральность объема базы. При этом распределение электронов в базе должно быть таким же как и распределение дырок, т.к. только в этом случае каждая микрообласть базы будет нейтральна.
Такое неравномерное распределение полей может быть стационарно лишь при наличии в базе электрического поля Е, уравновешивающего действия диффузионных сил, стремящихся выровнять концентрацию.
Рис. 3.5.
Т
Е=0
И
(3.9)
n - nn = P-Pn (3.10)
Г
(3.11)
А
концентрация электронов при р>>Pn
n = nn + P - Pn ≈ nn + P (3.12)
Напряженность внутреннего поля базы, уравновешивающего неравномерное распределение электронов:
В
(3.13)
(3.14)
И
(3.15)
(
здесь
переменная величина – Р)
При небольших уровнях инжекции P<<0,1nn, влияние электрического поля становится значительным. При P>>nn эффективный коэффициент диффузии
(3.16)
стремится к Dэфф.→2Dp
Электрическое поле в базе при большом Dэфф увеличивает инжекцию.
33. Особенности транзисторов с переменной концентрацией примесей в базе (дрейфовые транзисторы) Электрическое поле в базе.
Закон распределения примесей в базе можно аппроксимировать экспоненциальной зависимостью
N=Nэ exp ax (3.17)
З
(3.18)
Д
(3.19)
П
(3.21)
И
(3.20)
Неравновесный заряд базы.
Внутреннее поле оказывает влияние на движение дырок в базе. Дырочный ток имеет диффузионную и дрейфовую составляющие.
И
сходя
из этого выражения для дырочного тока,
можно найти распределение плотности
носителей заряда в базе дрейфового
транзистора. Пренебрегая рекомбинацией
носителей заряда, будем считать, что
плотность тока постоянна: jp(x)
=const, тогда дифференцируя
по координате получим:
Р
(3.22)
(3.23)
где η – коэффициент Поля
О
н
определяет отношение разности потенциалов
в базе
Δ φ = Еω, создаваемой градиентом концентрации примесей, к температурному потенциалу
Коэффициент
поля в дрейфовых транзисторах имеет
величину η=3-8
Рисунок 3.6 Распределение плотности носителей заряда в базе дрейфового транзистора, рассчитанная по формуле (3.23) для различных градиентов концентрации примесей при одной плотности дырочного тока.
Прямая η=0 соответствует транзистору с постоянной концентрацией примесей в базе. При увеличении коэффициента поля η электрическое поле в базе и дрейфовая составляющая тока возрастают, следовательно, диффузионная составляющая и градиент концентрации уменьшаются.
При η=8, ток у эмиттерного перехода определяется, в основном, дрейфом носителей заряда и градиент концентрации в этой области почти равен нулю.
По мере приближения к коллекторному переходу концентрация носителей заряда и дрейфовая составляющая тока уменьшаются, а градиент концентрации и диффузионная составляющая возрастают. Непосредственно у коллекторного перехода дрейфовая составляющая равна нулю и ток является чисто диффузионным. Диффузионный ток для дрейфового транзистора
Плотности тока дрейфового и диффузионного и концентрация заряда эмиттера в дрейфовом транзисторе значительно меньше, чем в бездрейфовом Pэ
Из формулы:
Поэтому меньшую величину по сравнению с бездрейфовым имеет неравновесный заряд базы, а значит, и диффузионные емкости, связанные с изменением неравновесного заряда. Т.е. высокочастотные свойства дрейфовых транзисторов лучше, чем бездрейфовых.