- •Введение
- •Классификация измерительных приборов
- •Классификация измерительных информационных систем (иис)
- •Разновидности и структура иис
- •Измерительные системы (ис)
- •Системы автоматизированного контроля (сак)
- •Системы технической диагностики (стд)
- •Статические метрологические характеристики
- •Измерительно-вычислительные комплексы (ивк)
- •Характеристики качества средств измерения
- •Динамические характеристики си
- •Неметрологические характеристики си
- •Нормирование метрологических характеристик
- •Измерительные сигналы
- •Классификация видов сигналов, используемых в си
- •Математические модели измерительных сигналов
- •Общая классификация
- •Модель квазидетерминированных сигналов
- •Математические модели случайных сигналов
- •Структурно математические модели процессов в си
- •Преобразования измерительных сигналов в си.
- •Преобразователи различных физических величин и полей
- •Основные понятия
- •Масштабные измерительные преобразователи
- •Преобразователи магнитных полей
- •Реостатные преобразователи
- •Тензорезисторные преобразователи
- •Емкостные преобразователи
- •Пьезоэлектрические преобразователи
- •Индуктивные преобразователи
- •Трансформаторные преобразователи
- •Индукционные преобразователи
- •Магнитоупругие преобразователи
- •Терморезисторы
- •Методы построения и анализа математических моделей Средств Измерений
- •Построение математической модели си по его структурной схеме
- •Моделирование си на основании закона сохранения энергии
- •Моделирование си с использованием принципа Гамильтона и уравнение Лагранжа
- •Моделирование си методом аналогий
- •Методы анализа математических моделей си
- •Помехозащищённость средств измерений
- •Виды помех, влияющих на си и способы их снижения
- •Расчет электромагнитных экранов
- •Проектирование средств измерений с учётом требований надёжности
- •Основные понятия
- •Количественные характеристики надёжности
- •Расчёты надёжности при проектировании си
- •Основные сведения о системах автоматизированного проектирования (сапр) средств измерений
- •Этапы проектирования си
- •Техническое обеспечение сапр
- •Программное обеспечение сапр
- •Основные задачи сапр си
- •Учебное издание
- •Основы проектирования приборов и систем
- •346428, Г. Новочеркасск, ул. Просвещения, 132, тел. 55-305
Измерительно-вычислительные комплексы (ивк)
ИВК – это совокупность программно управляемых измерительных, вычислительных и вспомогательных технических средств, функционирующих на основе единого метрологического обеспечения и реализации алгоритма получения, обработки и использования измерительной информации.
ИВК обеспечивают:
первичную обработку результатов измерения;
получение результатов косвенных, совокупных и совместных измерений;
управление функционированием отдельных узлов в ходе эксперимента;
контроль работоспособности трактов (каналов);
сервисная обработка данных (оформление таблиц, графиков и т.д.);
хранение полученной информации;
выработка управляемого воздействия на исследуемый объект в виде аналоговых и дискретных сигналов.
Характеристики качества средств измерения
Статические метрологические характеристики
Статические свойства средств измерения проявляются в статическом режиме работы, т.е. когда выходной сигнал СИ можно считать неизменным в ходе измерений.
Функция преобразования (статическая характеристика преобразования)– это функциональная зависимость между информативными параметрами входного и выходного сигнала СИ. Функцию преобразования СИ, устанавливаемую для этой СИ в научной и производственно-технической документации, называют номинальной функцией преобразования. Так, например, функция преобразования магнитоэлектрического измерительного механизма (МЭИМ) записывается формулой
|
|
где α – выходная величина (угол отклонения стрелки механизма),
І – среднее значение тока на входе (входная величина),
B – магнитная индукция в зазоре,
S и N – соответственно площадь поперечного сечения и число витков рамки,
W – удельный противодействующий момент.
Чувствительность
СИ – это
отношение приращения выходного сигнала
ΔY
к приращению входного сигнала ΔХ. В
общем случае чувствительность S
определяется по формуле
|
(4.1) |
При нелинейной характеристике Y=F(X) S зависит от X. При линейной характеристике чувствительность постоянная величина и не зависит от Х.
В частности при условии, что Y=kX:
S |
(4.2) |
Так, например, чувствительность МЭИМ определяется формулой:
S – чувствительность измерительного механизма.
Деление шкалы (размер деления) – это участки шкалы, на которые делят шкалу с помощью отметок шкалы.
Постоянная прибора (С) – величина, обратная чувствительности:
|
(4.3) |
Порог чувствительности СИ – это наименьшее изменение входной величины, различаемое на выходе данного СИ.
Диапазон измерений – это область значений измеряемой величины, для которых нормированы допускаемые погрешности.
Цена деления шкалы – это разность значений величин соответствующих двум соседним отметкам шкалы.
Входное полное
сопротивление СИ
– это комплексная величина
,
влияющая на режим работы объекта
исследования.
Выходное полное
сопротивление СИ
– это комплексная величина
,
характеризующая влияние нагрузки на
работу СИ.
Рис. 4.1. Упрощенная эквивалентная электрическая схема замещения схем исследования и СИ
На рис. 4.1 обозначены:
– ЭДС источника
электрического сигнала в схеме
исследования;
–
эквивалентное выходное сопротивление
схемы исследования;
– эквивалентная ЭДС схемы замещения
СИ;
Zн – эквивалентное сопротивление нагрузки.
Абсолютная погрешность СИ
|
(4.4) |
где ХД и Х – действительное и измеренное значение величины.
Относительная погрешность СИ - это отношение абсолютной погрешности к измеренной величине
|
(4.5) |
Относительная приведенная погрешность
|
(4.6) |
где Xн – нормирующее значение измеряемой величины X.
Для измерительных преобразователей погрешность может определяться как по выходу, так и по входу преобразователя. Если выражение для номинальной функции преобразования имеет вид
|
(4.7) |
то погрешность этого преобразователя по входу определяется по формуле
|
(4.8) |
где
-
функция обратная функции (4.7), YД
- действительное
значение величины Y
.
Погрешность преобразователя по выходу
|
(4.9) |
Погрешности СИ зависят от внешних условий (условия окружающей среды), поэтому различаются основные и дополнительные погрешности.
Основные погрешности – это погрешности, которые возникают при условиях окружающей среды, принятых за нормальные (НУ).
Дополнительная погрешность – это погрешность, которая возникает при отклонении условий окружающей среды от НУ.
С учетом влияния условий окружающей среды на СИ можно записать статическую характеристику преобразования в виде
|
(4.10) |
где
-
влияющие величины,
X и Y – соответственно входная и выходная величины.
Как следует из
формулы (4.10) изменение выходной величины
зависит
не только от входной
,
но и от изменения влияющих величин
Следовательно, в общем виде изменение
выходной величины
|
(4.11) |
В формуле (4.11) второе и последующие слагаемые являются слагаемыми погрешностей влияющих величин. Если изменение влияющих величин находится в пределах НУ, то все составляющие формулы (4.11) входят в состав основной погрешности.
При отклонении влияющих величин за пределы НУ, указанные приращения образуют дополнительную погрешность. Функция Fbi называется функцией i-ой влияющей величины и определяется следующей системой уравнений:
|
(4.12) |
где
- влияющие величины, для которых определяют
дополнительную погрешность,
- нормальные значения влияющих величин,
- коэффициенты влияния влияющей величины.
Вариация выходного сигнала – это разность между значениями информативного параметра выходного сигнала, соответствующая одному и тому же действительному значению входной величины, при медленном изменении ее вверх или вниз при подходе к выбранному значению входной величины.
По зависимости погрешности СИ от измеряемой величины различают
аддитивную и мультипликативную погрешности
Аддитивная погрешность - это погрешность, абсолютное значение которой не зависит от измеряемой величины.
Рис. 4.2. Графическая иллюстрация аддитивной погрешности
где ΔY – абсолютная аддитивная погрешность;
Мультипликативная погрешность - это погрешность, абсолютное значение которой пропорционально изменению входной величины. Мультипликативная погрешность является погрешностью чувствительности.
Рис. 4.3. Графическая иллюстрация мультипликативной погрешности
|
(4.13) |
где K – коэффициент пропорциональности.
|
|

,