- •Седиментационный анализ
- •7 Оптические свойства коллоидных систем.
- •VII. Рассеивание света дисперсными системами. Уравнение Рэлея, его анализ. Опалесценция. Эффект Тиндаля.
- •VII.2 Анализ уравнения Рэлея
- •VII.3 Применение уравнения Рэлея к определению концентрации и размеров частиц золей.
- •VII.4 Отличие опалесценции от флуоресценции.
- •VII.5 Ультрамикроскопия
- •VII.6 Конденсор темного поля.
- •VII.7 Абсорбция света. Закон Ламберта - Бугера - Беера.
- •VII.8 Электронная микроскопия.
- •8. Электрические свойства дисперсных систем
- •8.1 Электрокинетические явления в дисперсных системах
- •8.2 Строение двойного электрического слоя (дэс)
- •8.2.1 Теория Гельмгольца - Перрена строения дэс
- •8.2.2 Теория Гуи - Чепмена строения двойного электрического слоя.
- •8.2.3 Теория Штерна строения двойного электрического слоя
- •8.2.4 Перезарядка поверхности коллоидных частиц.
- •8.3 Строение коллоидных частиц
- •8.4 Определение электрокинетического потенциала.
- •Ультрафильтрация
- •10 Агрегативная устойчивость и коагуляция дисперсных систем
- •Разность
- •11 Свойства различных классов дисперсных систем
- •11.1 Золи и суспензии, их особенности, практическое значение
- •11.2 Эмульсии, их особенности, практическое значение.
- •11.3 Пасты, их особенности, практическое значение
- •11.4 Пены, их особенности, практическое значение
- •11.4 Аэрозоли. Их особенности. Практическое значение.
- •11.5 Порошки. Текучесть, гранулирование, псевдожидкое состояние.
- •12 Полуколлоиды. Особенности их поведения в растворе, ккм, виды мицелл. Пав. Классификация, характеристики, практическое значение
- •13Структурно-механические свойства дисперсных систем
- •13.1 Структурообразование в коллоидных системах
VII.7 Абсорбция света. Закон Ламберта - Бугера - Беера.
Абсорбция света - явление индивидуальное для каждого вещества. Индивидуально оно потому, что зависит от индивидуальных химических свойств данного вещества, кроме того, оно селективно. Селективность заключается в то, что всякое вещество поглощает только определенную часть спектра электромагнитного излучения. Для молекулярных растворов абсорбция света подчиняется закону Ламберта - Бугера - Беера, которое связывает интенсивность прошедшего света (рис. VII.5) I с интенсивностью падающего света I0, с концентрацией с и толщиной раствора h:
I = I0, (VII.9 a)
где k - молярный коэффициент поглощения.
Для коллоидных растворов необходимо учитывать опалесценцию. Этот учет сводится к введению в уравнение абсорбции коэффициента ε, который в отличие от молярного коэффициента поглощения называется коэффициентом фиктивной абсорбции:
I = I0. (VII.9)
Десятичный логарифм отношения интенсивности падающего света через раствор света к интенсивности прошедшего называется оптической плотностью D или экстинцией: lg (I/I0)= D.
Поскольку для неокрашенных растворов поглощением света можно пренебречь, то для них можно написать:
2,3 D = - εch. (VII.10)
Уравнение (VII.10) позволяет определять концентрации золей. Для этого строят калибровочный график зависимости D = f(c). Концентрация золей неизвестной концентрации определяется по этому графику с использованием установленного значения оптической плотности D.
VII.8 Электронная микроскопия.
В электронной микроскопии вместо световых лучей используется пучок быстрых электронов, что ведет к резкому увеличению разрешающей силы и дает возможность непосредственно видеть или сфотографировать коллоидные частицы. Возможность применить в этом случае электронов обусловлена тем, что электроны обладают одновременно как квантовой, так и волновой природой. Длина волны электронов составляет в этом случае 0,02 - 0,05 А0, т.е. соизмерима с размером атома. Это и делает возможность достижения разрешающей силы электронного микроскопа до 0,5 - 10 А0. Изображение получаемое на флуоресцирующем экране может быть сфотографировано и увеличено. Электронный микроскоп принципиально подобен световому микроскопу. Схема электронного микроскопа представлена на рис. VII.5.
Рисунок VII.5 - Схема электронного микроскопа.
Для фокусировки пучка электронов применяют электростатические и магнитные поля, образующиеся помощью электромагнитных катушек. Для уменьшения рассеяния электронов внутри электронного микроскопа поддерживается высокий вакуум. Объекты берутся очень тонкие во избежание сильного разогрева и порчи объектов под действием электронного пучка. В связи с этим в электронном микроскопе нельзя наблюдать коллоидную систему, а можно наблюдать частицы в сухом остатке. Чаще всего рассматривают не сами частицы, а отпечатки их поверхности (реплики), полученные нанесением на поверхность вначале полимера, а затем графита или металлов, лучше всего платины.