Ознакомление с основными меню программы microwind.
Запуск программы – 2щелчка на ярлыке MicroWind.exe. После запуска программы мы видим главное окно. Верхняя строка – основное меню программы. Во вторую строку вынесены иконки наиболее часто употребляемых команд:
Open File – открытие топологического файла .msk,
Save File – сохранение топологического файла в формате .msk,
Draw Box – прорисовка фигур в выделенном топологическом слое,
Cut - удаление фигур или текста,
Copy – копирование фигур или текста,
Stretch, Move – растяжка, сдвиг элементов,
Zoom in – просмотр фрагмента включен,
Zoom out - просмотр фрагмента выключен,
View all – просмотр всего проекта,
View node – экстракция и просмотр электрического узла, выделенного курсором,
Simulate – экстракция и расчет электрической схемы,
Ruler – измерение расстояния между двумя точками в единицах λ и микронах,
Process View – двумерное вертикальное сечение прибора,
Design Rule Checker – проверка правил проектирования; ошибки указываются на топологии,
Text – добавление текста в топологию,
Chip Library – библиотека простейших элементов ,
MOS Characteristics – расчет статических характеристик МДП - транзистора,
Show Palette – просмотр палитры топологических слоев.
Центральная часть экрана – окно топологического дисплея. Справа – меню топологических слоев.
Познакомимся с работой программы на примерах готовых библиотечных элементов, записанных в топологических файлах с расширением .msk. Эти примеры можно вызвать несколькими способами:
File → Open → [file.msk];
File→ New → Insert → [file.msk];
Open file (1-ая иконка во второй строке меню).
Сохранять собственный проект или модифицированный файл нужно в собственную директорию, задавая имя с расширением .msk.
Порядок выполнения рабочего задания.
Открываем новый файл для прорисовки топологии n- МДП – транзистора (File→New).
Устанавливаем технологический базис в соответствии с вариантом (File→Select Foundry).
Рисуем топологию транзистора в слоях N+ - diffusion и Polysilicium. Обеспечиваем размеры канала в соответствии с вариантом задания, добавляя необходимую площадь для контактных окон к истоку/стоку и затвору. Дополняем структуру контактными окнами в слое Contact и металлическими выводами в слое Metal 1. После завершения работы в каждом слое проверяем выполнение правил проектирования (Design Rule Checker).
Зарисовываем продольное и два поперечных двумерных сечения МДП - транзистора (Process View).
Анализируем вольтамперные характеристики (ВАХ) полученной структуры (MOS Characteristics). Заносим в таблицу 4 значения IНАС для моделей level1 и level3.
Рассчитываем значение крутизны K = K0 * W / L.
Повторяем п.п. 1-5 для p- МДПТ, добавляя в п. 3 создание кармана в слое Nwell.
Таблица 4. Результаты проектирования МДП – транзисторов.
Тип транзистора |
LМИН, мкм |
λ, мкм |
K0, мкА/В2 |
W, мкм |
L, мкм |
W/L |
IНАС ,мА lev1 |
IНАС ,мА lev3 |
K, мкА/В2 |
nМДПТ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
pМДПТ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Контрольные вопросы.
Записать уравнения простейшей модели и зарисовать условное обозначение для заданного типа МДП – транзистора.
Рассчитать по указанной модели значение тока для заданных параметров и напряжений на выводах транзистора.
Зарисовать последовательность формирования топологии заданного типа МДП – транзистора и двумерные сечения, соответствующие последовательности формирования интегрального транзистора.
Построить двумерное сечение по заданной топологии.