- •М инистерство образования российской федерации
- •Глава 1. Введение в электронную теорию твердого тела 5
- •Глава 2. Теория и практика эмиссионных процессов. 21
- •Глава 3. Электронно-вакуумные приборы с электростатическими полями 69
- •Глава 4. Теория и практика фокусировки и управления электронными пучками в электромагнитных полях 95
- •Глава 5. Электронно-лучевые приборы 133
- •Глава 6. Газоразрядная и плазменная электроника 158
- •Глава 1.
- •1.1.Энергия связи в твердом теле.
- •2.1. Металлическое состояние.
- •3.1. Состояние электрона в кристаллической решетке
- •4.1.Статистика электронов в кристаллической решетке металла.
- •5.1.Энергия Ферми.
- •6.1. Плотность электронных состояний.
- •7.1. Особенности зонной структуры ионных и ковалентных кристаллов.
- •8.1.Особенности положения уровня Ферми в полупроводниках.
- •Глава 2.
- •1.2. Работа выхода электрона из твердых тел.
- •2.2. Термоэлектронная эмиссия
- •1.3. Термоэлектронные катоды.
- •1.1.3. Металлические катоды.
- •2.1.3. Пленочные катоды
- •3.1.3. Оксидные катоды.
- •4.1.3. Способы нагрева катодов.
- •4.2. Закон Лэнгмюра-Богуславского.
- •4.2. Эффект Шоттки.
- •6.2. Автоэлектронная эмиссия.
- •6.2. Взрывная эмиссия.
- •8.2 Автоэмиссионные катоды.
- •7.2. Вторичная электронная эмиссия
- •8.2. Фотоэлектронная эмиссия.
- •10.2 Фотокатоды.
- •1.10.2. Фотокатоды для видимой области спектра.
- •2.10.2 Фотокатоды для ультрафиолетовой области.
- •3.10.2. Фотокатоды для инфракрасной области.
- •11.2 Аноды электронно-вакуумных приборов.
- •12.2 Управление электронным потоком
- •Глава 3.
- •1.3.Рентгеновские трубки.
- •Длина волны характеристических линий и потенциал возбуждения к-серии ряда элементов.
- •1.1.3 Области применения и конструктивные
- •2.1.3. Двухэлектродные трубки для просвечивания.
- •3.1.3. Импульсные рентгеновские трубки.
- •4.1.3. Трубки для диагностики биологических объектов.
- •5.1.3. Трубки для рентгенотерапии.
- •6.1.3. Рентгеновские трубки для радиационной химии
- •7.1.3. Рентгеноструктурный анализ.
- •8.1.3. Рентгеноспектральный анализ
- •9.1.3. Бескристальные спектрометры
- •2.3. Электронно-ионный микроскоп.
- •3.3. Фотоэлектронный умножитель.
- •Глава 4
- •1.4.Силы, действующие на заряженную частицу в электромагнитном поле. Уравнения движения.
- •2.4. Аналогия между движением заряженных частиц в электростатическом поле и распространением световых лучей в прозрачной среде.
- •3.4. Центрированные электронно-оптические системы.
- •4.4. Фокусировка электронных пучков в аксиально-симметричных
- •1.4.4. Катодная линза.
- •2.4.4. Электронные пушки.
- •3.4.4. Автоэмиссионные пушки.
- •4.4.4. Электронный прожектор.
- •5.4.4. Электростатические системы управления электронным лучом.
- •6.4.4. Анализатор скорости заряженных частиц.
- •7.4.4. Осциллографическая трубка.
- •5.4. Фокусировка и управление потоком заряженных частиц в постоянных магнитных полях.
- •1.5.4. Конструкции магнитных линз.
- •2.5. 4. Дефекты электронно-оптических линз.
- •3.5.4. Отклонение заряженных частиц магнитным полем.
- •Глава 5
- •1.5. Кинескопы.
- •2.5 Электронно-оптический преобразователь.
- •3.5. Электронные микроскопы.
- •1.3.5. Принцип работы электронных микроскопов.
- •2.3.5. Просвечивающие электронные микроскопы.
- •3.3.5. Рентгеновские микроанализаторы.
- •4.3.5. Растровые электронные микроскопы.
- •Глава 6.
- •1.6. Слабоионизированные газы.
- •2.6. Ионизация газа, находящегося в термодинамическом равновесии.
- •3.6. Диффузионный ток.
- •4.6. Проводимость
- •5.6. Ударная ионизация
- •6.6. Вольтамперная характеристики газового разряда.
- •1.6.6. Несамостоятельный газовый разряд.
- •2.6.6. Самостоятельный газовый разряд.
- •7.6. Газоразрядные приборы с холодным катодом
- •1.7.6. Дуговые разрядники.
- •2.7.6. Газоразрядные источники света.
- •3.7.6. Лампы тлеющего свечения (лтс).
- •4.7.6. Стабилитрон тлеющего разряда.
- •5.7.6. Многоэлектродные газоразрядные приборы тлеющего разряда.
- •6.7.6. Тиратрон тлеющего разряда.
- •7.7.6. Тиратроны дугового разряда.
- •8.6. Дисплеи с плазменной панелью.
- •1.8.6.Структура ячейки
8.1.3. Рентгеноспектральный анализ
Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ широко при-
мен яется для определения элементного состава различных веществ в
Рис. 12.3. Схема работы кристалл – дифракционного флуоресцентного спектрометра.
промышленности (металлургия, химия, горное дело и др.) и научных исследованиях. Наиболее распространенным является флуоресцентный метод рентгеноспектрального анализа. Он отличается большой производительностью, неразрушающим характером, экспресностью, и достаточно высокой чувствительностью.
Техника анализа основана на возбуждении линий флуоресцентного излучения элементов, содержащихся в исследуемом веществе (пробе), и последующем измерении длин волн и интенсивности этих линий. Измерение интенсивности производится относительным методом с использованием эталонов известного химического состава. По длинам волн аналитических линий осуществляется идентификация, а по их интенсивности -количественное определение элементов.
Для реализации флуоресцентного метода созданы и серийно выпускаются кристалл-дифракционные и бескристальные спектрометры с различными аналитическими возможностями.
В кристалл-дифракционных спектрометрах разложение элементов пробы в спектр флуоресцентного излучения и выделение их аналитических линий осуществляется с помощью плоских или изогнутых кристаллов. На рисунке схематично изображен принцип работы наиболее распространенного спектрометра - с плоским кристаллом-анализатором, выполненным по схеме Соллера.
Флуоресцентное характеристическое излучение пробы, возбужденное излучением рентгеновской трубки, проходит через многопластинчатый коллиматор и падает параллельным пучком на поверхность кристалла-анализатора с межплоскостным расстоянием d. Угол выбирают таким образом, чтобы для спектральной линии, характеризуемой длиной волны , выполнялось условие дифракционного отражения Вульфа-Брегга n = 2d sin . Отраженные от кристалла лучи с длиной волны регистрируются детектором. Амплитуда электрического импульса, возникающего на выходе счетчика при регистрации фотона, пропорциональна энергии последнего. Пройдя через усилительный блок, импульсы попадают в электронно-вычислительное устройство, где осуществляется их селекция и счет. По скорости счета находят концентрацию соответствующего элемента в пробе.
С помощью современных флуоресцентных кристалл-дифракционных спектрометров можно определять концентрации практически всех веществ, начиная с фтора (Z=9), при их концентрации от (10-2 — 10-4 )% до 100%. Погрешность анализа как правило не превышает 0,5-1,0%.
Поскольку светосила кристалл-дифракционной аппаратуры относительно невысока, используемые в ней трубки должны иметь большую, достигающую нескольких киловатт номинальную мощность. Работа трубок при столь большой мощности требует эффективного охлаждения анода проточной жидкостью.
9.1.3. Бескристальные спектрометры
Имеют существенно более простую конструкцию в силу использования вместо кристаллов: анализаторов других типов - дифференциальных детекторов, сбалансированных дифференциальных фильтров, полупроводниковых детекторов. Бескристальные спектрометры несколько уступают кристалл-дифракционным по энергетическому разрешению, однако обладают значительно более высокой светосилой, что позволяет использовать для возбуждения флуоресценции атомов трубки с мощностью на 2-3 порядка ниже мощности трубок, используемых в кристалл-дифракционной аппаратуре. Применяют малогабаритные трубки с прострельными анодами, работающими в режиме естественного охлаждения