
- •М инистерство образования российской федерации
- •Глава 1. Введение в электронную теорию твердого тела 5
- •Глава 2. Теория и практика эмиссионных процессов. 21
- •Глава 3. Электронно-вакуумные приборы с электростатическими полями 69
- •Глава 4. Теория и практика фокусировки и управления электронными пучками в электромагнитных полях 95
- •Глава 5. Электронно-лучевые приборы 133
- •Глава 6. Газоразрядная и плазменная электроника 158
- •Глава 1.
- •1.1.Энергия связи в твердом теле.
- •2.1. Металлическое состояние.
- •3.1. Состояние электрона в кристаллической решетке
- •4.1.Статистика электронов в кристаллической решетке металла.
- •5.1.Энергия Ферми.
- •6.1. Плотность электронных состояний.
- •7.1. Особенности зонной структуры ионных и ковалентных кристаллов.
- •8.1.Особенности положения уровня Ферми в полупроводниках.
- •Глава 2.
- •1.2. Работа выхода электрона из твердых тел.
- •2.2. Термоэлектронная эмиссия
- •1.3. Термоэлектронные катоды.
- •1.1.3. Металлические катоды.
- •2.1.3. Пленочные катоды
- •3.1.3. Оксидные катоды.
- •4.1.3. Способы нагрева катодов.
- •4.2. Закон Лэнгмюра-Богуславского.
- •4.2. Эффект Шоттки.
- •6.2. Автоэлектронная эмиссия.
- •6.2. Взрывная эмиссия.
- •8.2 Автоэмиссионные катоды.
- •7.2. Вторичная электронная эмиссия
- •8.2. Фотоэлектронная эмиссия.
- •10.2 Фотокатоды.
- •1.10.2. Фотокатоды для видимой области спектра.
- •2.10.2 Фотокатоды для ультрафиолетовой области.
- •3.10.2. Фотокатоды для инфракрасной области.
- •11.2 Аноды электронно-вакуумных приборов.
- •12.2 Управление электронным потоком
- •Глава 3.
- •1.3.Рентгеновские трубки.
- •Длина волны характеристических линий и потенциал возбуждения к-серии ряда элементов.
- •1.1.3 Области применения и конструктивные
- •2.1.3. Двухэлектродные трубки для просвечивания.
- •3.1.3. Импульсные рентгеновские трубки.
- •4.1.3. Трубки для диагностики биологических объектов.
- •5.1.3. Трубки для рентгенотерапии.
- •6.1.3. Рентгеновские трубки для радиационной химии
- •7.1.3. Рентгеноструктурный анализ.
- •8.1.3. Рентгеноспектральный анализ
- •9.1.3. Бескристальные спектрометры
- •2.3. Электронно-ионный микроскоп.
- •3.3. Фотоэлектронный умножитель.
- •Глава 4
- •1.4.Силы, действующие на заряженную частицу в электромагнитном поле. Уравнения движения.
- •2.4. Аналогия между движением заряженных частиц в электростатическом поле и распространением световых лучей в прозрачной среде.
- •3.4. Центрированные электронно-оптические системы.
- •4.4. Фокусировка электронных пучков в аксиально-симметричных
- •1.4.4. Катодная линза.
- •2.4.4. Электронные пушки.
- •3.4.4. Автоэмиссионные пушки.
- •4.4.4. Электронный прожектор.
- •5.4.4. Электростатические системы управления электронным лучом.
- •6.4.4. Анализатор скорости заряженных частиц.
- •7.4.4. Осциллографическая трубка.
- •5.4. Фокусировка и управление потоком заряженных частиц в постоянных магнитных полях.
- •1.5.4. Конструкции магнитных линз.
- •2.5. 4. Дефекты электронно-оптических линз.
- •3.5.4. Отклонение заряженных частиц магнитным полем.
- •Глава 5
- •1.5. Кинескопы.
- •2.5 Электронно-оптический преобразователь.
- •3.5. Электронные микроскопы.
- •1.3.5. Принцип работы электронных микроскопов.
- •2.3.5. Просвечивающие электронные микроскопы.
- •3.3.5. Рентгеновские микроанализаторы.
- •4.3.5. Растровые электронные микроскопы.
- •Глава 6.
- •1.6. Слабоионизированные газы.
- •2.6. Ионизация газа, находящегося в термодинамическом равновесии.
- •3.6. Диффузионный ток.
- •4.6. Проводимость
- •5.6. Ударная ионизация
- •6.6. Вольтамперная характеристики газового разряда.
- •1.6.6. Несамостоятельный газовый разряд.
- •2.6.6. Самостоятельный газовый разряд.
- •7.6. Газоразрядные приборы с холодным катодом
- •1.7.6. Дуговые разрядники.
- •2.7.6. Газоразрядные источники света.
- •3.7.6. Лампы тлеющего свечения (лтс).
- •4.7.6. Стабилитрон тлеющего разряда.
- •5.7.6. Многоэлектродные газоразрядные приборы тлеющего разряда.
- •6.7.6. Тиратрон тлеющего разряда.
- •7.7.6. Тиратроны дугового разряда.
- •8.6. Дисплеи с плазменной панелью.
- •1.8.6.Структура ячейки
1.1.3 Области применения и конструктивные
особенности рентгеновских трубок.
Рентгеновская диагностика – просвечивание материалов и биологических объектов рентгеновским излучением с целью исследования их внутреннего строения. Этот метод основан на изучении теневой картины, возникающей вследствие различного ослабления излучения при прохождении через объект исследования.
Рентгеновская дефектоскопия материалов позволяет установить в исследуемом образце (сварные швы, литые детали и др.) наличие макроскопических дефектов (пор, трещин и т.д.). Теневую картину обычно регистрируют на фотопленке (рентгенография) или наблюдают на флюоресцирующем экране (рентгеноскопия).
Основными техническими характеристиками метода дефектоскопии являются:
1. Пространственная разрешающая способность. Зависит от размера фокусного пятна рентгеновской трубки и геометрии просвечивания. Для увеличения пространственной разрешающей способности необходимо использовать трубки с фокусным пятном малого размера, однако это требует уменьшения мощности трубки. Увеличение расстояния фокусное пятно-объект также улучшает эту характеристику. И то и другое ведет к уменьшению интенсивности излучения, прошедшего через объект, что вызывает необходимость увеличения времени экспозиции.
2. Контрастная чувствительность. Характеризует минимальную разницу в толщине или плотности составных частей исследуемого объекта. Зависит от спектрального состава рентгеновского излучения, геометрии просвечивания, характеристики приемников излучения, толщины и плотности объекта и др. Определяется экспериментально с помощью специальных эталонов.
3. Просвечивающая способность. Наибольшая толщина объекта в направлении просвечивания, дефекты которого могут быть зарегистрированы с определенной чувствительностью. Определяется проникающей способностью излучения, т.е. фактически ускоряющим напряжением на аноде рентгеновской трубки.
4. Размер поля облучения. Максимальный размер поверхности объекта, наблюдаемый на его поверхности без дополнительного перемещения.
Таким образом, общие требования к рентгеновским трубкам для дефектоскопии: малый размер фокусного пятна, большая мощность, широкий диапазон изменения анодного напряжения. Для удовлетворения этим требованиям при дефектоскопии самых разнообразных объектов - от микроэлектроники до судостроения, созданы серии приборов с различными номинальными напряжениями, мощностями и фокусными пятнами.
2.1.3. Двухэлектродные трубки для просвечивания.
На рис. 6.3,а показана конструкция трубки, для просвечивания материалов, мощностью 1 КВт на напряжение 100 кВ. Трубка имеет линейное фокусноепятно. Вольфрамовая мишень массивного медного анода (2) наклонена к оси прибора под углом 700 . Вакуумная оболочка трубки состоит из медного корпуса (7), в который впаян анод и бериллиевое окно для выпуска излучения, и стеклянного баллона (6). Корпус и баллон соединены между собой коваровыми (5) и промежуточным стальными (4) кольцами. Толстостенный корпус сильно ослабляет неиспользуемое излучение, идущее в радиальных направлениях; из
л
учение
в аксиальных направлениях поглощается
анодом и фокусирующим устройством
катода. Анод трубки заземляют, а высокий
отрицательный потенциал на катод (3)
и напряжение
на нить накала подают с помощью цоколя.
Заземленный анод охлаждают проточной
водой
непосредственно
из водопровода.
В трубке используется, металлическая
ножка, на которой смонтирован катодный
узел. Применение такой конструкции в
сочетании с баллоном, армирваным с
обоих концов коваровыми кольцами,
обеспечивает точную юстировку прибора.
а
б
Рис. 6.3 Конструкция рентгеновских трубок для просвечивания.
Современные трубки для просвечивания материалов на более высокие напряжения мало отличаются конструктивно друг от друга. Примером может служить трубка мощностью 2,5 кВт на напряжение 250 кВ (рис. 6.3,б).