5. Порядок выполнения работы.

1. Вращая кристалл-анализатор получить спектр Кα_1,2- линии анода.

2. Установить кристалл-анализатор в положение, соответствующее максимуму отражения К α₁ –линии, зафиксировать это положение и измерить интенсивность I₀ рентгеновского излучения с помощью детектора.

3. На пути отраженного луча установить металлическую фольгу и измерить интенсивность I₁- излучения, прошедшего через фольгу.

4. Удваивая первоначальную толщину фольги получить значение прошедшей через нее интенсивности излучения I₂. Повторить процедуру удвоения толщины фольги 10 раз, измерив при этом величины I₃, I₄,…. I₁₀.

5. По данным эксперимента построить график lnI_n = lnI₀ -µ2dn.

6. Экстраполируя линейную часть кривой в область малых n получим прямую линию, наклоненную под углом φ к оси абсцисс, по которой отложены значения n (число измерений интенсивности после удвоения толщины фольги). Тангенс угла наклона к оси абсцисс, полученной на графике линии, связан с коэффициентом поглощения выражением

tg φ = µ2dn

Из полученного выражения вычислить значение µ. Сравнить его с табличным значением

Литература

1. М.А. Блохин. Методы рентгеноспектральных исследований. -М.:Физматгиз, 1959.

2. И.Я. Никифоров. Взаимодействие рентгеновского излучения с веществом.-Издательский центр ДГТУ, г. Ростов-на-Дону,2011.

3. Д.В. Сивухин. Общий курс физики.т.5,Атомная и ядерная физика, ч.1.М.:Наука.1986.

15