
- •Экзаменационный билет № 1
- •1. Стадии жизненного цикла радиоэлектронных устройств и микропроцессорных систем.
- •2. Индикатор тока.
- •Использование индикатора тока
- •Экзаменационный билет № 2
- •1. Сетевой график процесса проектирования мпс и место диагностики и отладки в нем.
- •2. Методика поиска неисправностей с помощью логического анализатора и генератора слов. Логические анализаторы
- •Анализаторы логических состояний
- •Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 3
- •Параметры функционального использования мпс.
- •Контроль цп.
- •Экзаменационный билет № 4
- •1.Технические параметры мпс.
- •2. Функциональный контроль пзу.
- •Экзаменационный билет № 5
- •1.Параметры технической эксплуатации.
- •2. Тестовый контроль озу.
- •Экзаменационный билет № 6
- •1. Ошибки, неисправности, дефекты. Цель предварительных испытаний.
- •2.Контроль блоков питания мпс
- •Экзаменационный билет № 7
- •1.Техническая диагностика. Термины и определения.
- •2. Контроль увв
- •Экзаменационный билет № 8
- •1.Задачи и классификация систем технического диагностирования.
- •2. Внутрисхемный эмулятор.
- •Экзаменационный билет № 9
- •1.Проблемы контроля из-за двойственной природы мпс.
- •2. Логический анализатор.
- •Экзаменационный билет № 10
- •1.Общая методика поиска неисправностей в мпс.
- •Методы поиска неисправностей в электрических схемах электрооборудования кранов
- •2. Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 11
- •1.Локализация отказов. Дерево поиска неисправностей.
- •Дерево поиска неисправностей (дпн).
- •2. Тестовый контроль последовательного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 12
- •1.Метод тестирования микропроцессорной системы статическими сигналами.
- •2. Логический пульсатор.
- •Использование логического пульсатора
- •Тестирование «стимул—реакция» с помощью пульсатора и пробника
- •Экзаменационный билет № 13
- •1.Основные функции и состав отладочных средств. Основные функции средств отладки
- •Состав отладочных средств
- •2. Функциональный контроль параллельного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 14
- •1.Тестирование нагрузками.
- •2. Контроль схем сброса.
- •Экзаменационный билет № 15
- •1.Сигнатурный анализатор и его применение.
- •2. Автоматизация программирования мпс.
- •Экзаменационный билет № 16
- •1.Методика поиска дефектов с помощью системы поэлементного контроля на базе сигнатурного анализатора.
- •2. Контроль системной магистрали мпс.
- •Экзаменационный билет № 17
- •1.Эмулятор микропроцессора.
- •2. Контроль систем прерывания.
- •Экзаменационный билет № 18
- •1.Ручные инструментальный средства. Номенклатура, характеристики.
- •2. Эмулятор пзу. Экзаменационный билет № 19
- •1.Классификация комплексов средств отладки.
- •2. Методика поиска дефектов в шинах питания.
- •2. Тестовый контроль клавиатуры. Экзаменационный билет № 22
- •1.Оценочные комплексы.
- •2. Контроль системного ядра мпс.
- •Экзаменационный билет № 23
- •1.Отладочные комплексы.
- •2. Контроль системы синхронизации.
- •Экзаменационный билет № 24
- •1.Комплексы развития.
- •2. Логический пробник.
Контроль цп.
Тестирование
ЦП. Являясь
одним из наиболее сложных компонентов
МПС, ЦП оказывается и наиболее надежным.
Как
уже говорилось, ЦП невозможно проверить
полностью, что заставляет их изготовителей
ограничиваться функциональным
тестированием микросхем.
Простейший вид тестирования ЦП при
отладке – перевод системы в режим
свободного счета.
Он показывает, что ЦП правильно считывает
команду с шины данных, формирует адресные
наборы на шине адреса и правильно
реагирует на сигналы системной
синхронизации. Контролируя сигналы
в линиях системной шины, например в
линии R/
,
можно
частично проверить шину управления.
Почти всегда тестирование осуществляется с помощью некоторой стимулирующей программы, контролирующей систему, а это предполагает способность ЦП выполнять тестовое диагностирование устройств МПС.
Отказавший ЦП не может проверить самого себя, что заставляет разработчика МПС, который должен предусмотреть возможность контроля ЦП, включить в систему второй ЦП только для проверки нулевого ЦП. При этом повышается сложность МПС, снижается ее надежность и поэтому данный подход в «чистом» виде применяется редко.
Однако идея использования одной МПС для контроля другой оказалась жизнеспособной, и большинство сложных систем тестового значения сами имеют встроенные МП.
Экзаменационный билет № 4
1.Технические параметры мпс.
Технические параметры (ТП) представляют инженерные решения, обеспечивающие реализацию заданных ПФИ. В совокупности ТП характеризуют МПС, а каждый из параметров в отдельности является основным показателем одного или нескольких устройств, входящих в систему. Основными ТП являются:
быстродействие;
адресуемое пространство;
объём ПЗУ и ОЗУ;
разрядность;
элементная база;
системный интерфейс;
система и число команд;
операционная система;
наличие и характеристики периферийных устройств;
конструкция.
Технические характеристики МПС формируются на стадиях проектирования и должны соответствовать современному уровню науки и техники.
Связи между ПФИ и ТП обладают особенностями: многоплановость, неоднозначность, зависимость одних технических характеристик от других, наличие оптимальных вариантов.
2. Функциональный контроль пзу.
Тестирование ПЗУ. Типы ПЗУ(по способу загрузки в них программы, т. е. по способу их программирования):
-масочнопрограммируемые:
содержимое «записывается» рисунком топологии взаимосвязей в ходе технологического процесса изготовления ПЗУ, хранимые двоичные коды зафиксированы фотошаблоном окончательной металлизации, и после герметизации корпуса изменить хранимые программы невозможно.
-однократно программируемые (ППЗУ):
относится к тем микросхемам, в которых запоминание двоичных кодов программы осуществляется с помощью плавких перемычек. Каждый хранимый в микросхеме бит содержится в «элементе памяти», состоящем из одного транзистора. Обычно применяется биполярный транзистор с плавкой перемычкой в цепи эмиттера. В процессе программирования перемычки либо сохраняются нетронутыми, либо расплавляются проходящим через них током около 1 А. ППЗУ программирует пользователь, а в поставляемой микросхеме имеются все плавкие перемычки. Пользователь селективно «выжигает» перемычки, формируя двоичные коды прикладной программы, и после этого изменить хранимые коды нельзя, что свойственно для ПЗУ. Строго говоря, некоторую модификацию программы можно осуществить и после программирования ППЗУ, так как сохранившиеся перемычки можно разрушить при повторной операции программирования. Примером может служить ситуация, когда какая-то константа при первом программировании была неизвестна и все соответствующие перемычки остались целыми. После определения константы осуществляется повторное программирование ППЗУ.
-У/Ф и электрически перепрограммируемые ПЗУ:
В микросхемах стираемых, программируемых ПЗУ (СППЗУ) допускается стирание их содержимого, обычно при помощи ультрафиолетового излучения с фиксированной длиной волны, а электрическое программирование их осуществляет пользователь. Таким образом, благодаря стиранию и репрограммированию в СППЗУ можно хранить и модифицировать хранимые программы.
Микросхемы электрически изменяемых ПЗУ (ЭИПЗУ), которые называются памятью в основном со считыванием, допускают репрограммирование при обычном использовании их в вычислительной системе. Они были разработаны для удовлетворения потребности в энергонезависимых ЗУПВ.
Выбор типа ППЗУ зависит от объема выпуска и назначения МПС. При малом объеме выпуска и в процессе разработки СППЗУ представляют собой довольно гибкую, хотя и относительно дорогую память. В ЭВМ II поколения – ферритовая энергонезависимая память.
Способ проверки содержимого ПЗУ – метод контрольной суммы (SHECKSUM). Результат ∑ хранится в последней ячейке ПЗУ. Тест-программа контрольной ∑ встраивается в системную программу, и она работает по включению питания. Программа суммирует все содержимое ПЗУ, за исключением последней ячейки, а затем сравнивает свой результат с содержимым последней ячейки. Этот способ обеспечивает простую и эффективную проверку микросхем ПЗУ с фиксированной хранимой информацией.
Способ CHECKSUM применим к микросхемам с любой емкостью, если суммировать все их содержимое, за исключением последней ячейки, и игнорировать возникающие переполнения. Существует вероятность многократной ошибки, которая может дать результат равный байту истинного результата. Вероятность снижается при сигнатурном способе определения контрольной ∑ - сигнатуры.