
- •Билет 1. Классификация веществ. Зонная диаграмма. Понятие носителей заряда. Теория проводимости. Собственная и примесная проводимость.
- •Билет 3 . Уравнение Шредингера.
- •Билет 5. Циклотронный резонанс.
- •Билет 11. Концентрация носителей в соб.
- •Билет 12. Рассеяние на ионах примеси.
- •Билет 13. Рассеяние на атомах примеси и дислокациях. Рассеяние на нейтральных примесях
- •Рассеяние на ионизированной примеси
- •Билет 15. Подвижность носителей заряда.
- •Билет 16. Удельная проводимость и удельное сопротивление полупроводника.
- •Билет 17. Рекомбинация полупроводника в условиях равновесного состояния.
- •Билет 18. Рекомбинация полупроводника в условиях неравновесного состояния.
- •Билет 19. Механизм рекомбинации носителей на ловушках.
- •Билет 20. Механизм поверхностной рекомбинации.
- •Билет 21. Движение носителей заряда. Уравнение непрерывности для электронов и дырок. Плотности электронного и дырочного токов.
- •Билет 22. Диффузионный и дрейфовый токи. Диэлектрическая релаксация.
- •Билет 23 и 24. Эффект поля. Зонная диаграмма при эффекте поля
- •Билет 25. Диффузионный ток в полупроводнике.
- •Билет 26. Диффузия и дрейф неравновесных носителей заряда в случае монополярной проводимости. Движение неосновных носителей заряда.
- •Билет 27. Монополярная диффузия носителей.
- •Билет 28. Биполярная диффузия носителей.
- •Билет 29. Образование p-n перехода, база диода, энергетическая диаграмма. Структура и классификация диодов.
- •Билет 30. P-n переход в равновесном состоянии.
- •Билет 31. P-n переход в неравновесном состоянии.
- •Билет 32. Невыпрямляющий контакт металл-полупроводник
- •Билет 35. Идеальная модель диода. Характеристические сопротивления и тепловой ток.
- •Билет 36. Особенности реального диода. Обратная вах. Эквивалентная схема диода при обратном смещении.
- •Билет 37. Туннельный пробой p-n перехода.
- •Билет 38. Лавинный пробой p-n перехода.
- •Билет 39. Тепловой пробой p-n перехода.
- •Билет 40. Прямая характеристика реального диода. Ток рекомбинации. Сопротивление базы.
- •Билет 41. Прямая характеристика реального диода. Зависимость напряжения прямой характеристики от температуры. Работа диода при высоком уровне инжекции. Распределение токов в базе.
- •Билет 42. Прямая характеристика реального диода. Дрейфовая составляющая тока инжектированных носителей. Коэффициент инжекции.
- •Билет 43. Прямая характеристика реального диода. Модуляция сопротивления базы. Эквивалентная схема диода при прямом смещении.
- •Билет 44. Инерционные свойства диодов. Барьерная емкость.
- •Билет 45. Инерционные свойства диодов. Диффузионная емкость.
- •Билет 47. Туннельный диод. Диод Шоттки.
- •Билет 48. Биполярный транзистор. Структура и режимы работы биполярного транзистора. Транзисторный эффект.
- •Билет 49. Биполярный транзистор. Режимы работы биполярного транзистора при схеме включения с Общей Базой.
- •Билет 50. Биполярный транзистор. Эффект Эрли.
- •Билет 52. Эквивалентная схема Эберса-Молла.
- •52. Биполярный транзистор. Входные и выходные вах идеального транзистора в схеме об. Вах идеального транзистора в схеме ок.
- •Билет 57. Сопротивления эмиттерного и коллекторного переходов.
- •Билет 63. Мдп транзистор. Вах идеального мдп транзистора. Физические причины насыщения тока стока. …
- •Билет 64. Мдп транзистор. Выбор рабочей точки. Крутая и пологая область мдп. Удельная крутизна транзистора.
- •Билет 65. Мдп транзистор. Равновесные и неравновесные состояния.
- •Билет 66. Мдп транзистор. Эквивалентная сх, сх.Вкл.
- •Билет 67. Фотоэлектрический явления. Внутренний фотоэффект.
- •Билет 68. Фотоэлектрический явления. Теория фотопроводимости.
- •Билет 72. Эффект Холла
Билет 35. Идеальная модель диода. Характеристические сопротивления и тепловой ток.
О
снову
выпрямительного диода составляет
обычный электронно-дырочный переход.
Примем следующие допущения: 1). Слой базы
– вырожденный электронный полупроводник;
2). Концентрация дырок, инжектируемых в
базу, невелика, т.е. низкий уровень
инжекции, нет дрейфовой составляющей
электронного тока в эмиттере;
3). Падение напряжения в нейтральном слое базы значительно меньше внешнего напряжения; 4). Пренебрегаем процессами рекомбинации и генерации в области перехода;
5). Пробойного эффекта нет в переходе; 6). Отсутствуют поверхностные утечки.
ВАХ
-
,
где
-
тепловой ток, т.е. ток сильно зависит от
температуры.
при абсолютном нуле. Так же
называется током насыщения, связано
это с тем, что при
обратный ток идеализированного диода
равен
и не зависит от напряжения.
Главную
роль тока в диоде играет коэффициент
инжекции
.
Сопротивления: 1). Дифференциальные; 2). Сопротивления постоянному току.
Дифференциальное
оно действительно только для прямой
ветви при
.
Сопротивление
постоянному току
или
Оно действительно на обратной ветви характеристике, когда .
В
нулевой точке
.
Билет 36. Особенности реального диода. Обратная вах. Эквивалентная схема диода при обратном смещении.
Г
лавная
причина отклонения ВАХ идеального диода
от реального – явление термогенерации
носителей в области перехода, поверхностных
утечках. Рассмотрим тепловой ток. Он
обусловлен генерацией неосновных
носителей, прилегающих к переходу,
откуда эти носители диффундируют в
область потенциального барьера и
уносятся полем в другой слой. В равновесном
состоянии эти потоки компенсируются
встречными потоками аналогичных
носителей.
Ток
генерации. ЭП которое есть в переходе,
уносит генерируемые носители в
соответствующий слой диода, что вызывает
протекание некоторого тока – тока
термогенерации
.
В равновесном состоянии ток компенсируется
равным ему встречным током – током
рекомбинации
.
Поверхностные
каналы. С ростом обратного напряжения
растет «рабочая» длинна канала, а значит
и обратный ток приповерхносного перехода.
При обратном включении ВАХ имеет вид
,
где
-
ток получаемый путём экстраполяции
характеристики до пересечения с осью
токов.
- сопротивление, характеризующее средний
наклон кривой.
Билет 37. Туннельный пробой p-n перехода.
В
основе этого вида пробоя лежит туннельный
эффект, т.е. просачивание е
сквозь
потенциальный барьер, если его толщина
достаточно мала. Вероятность туннельного
эффекта
,
где Ф-
высота барьера, а d-
его толщина. Под высотой барьера будем
понимать ширину запрещенной зоны
,
а под толщиной – расстояние d
между противостоящими зонами. Пусть
распределение потенциала линейно, тогда
.
Тогда вероятность туннелирования будет
определяться напряженностью
поля
в переходе
,
а также эффективной массой носителей.
Дифференциальное сопротивление диода
в области пробоя
,
где
-
пробивная напряженность поля.
-
напряжение туннельного пробоя.
Билет 38. Лавинный пробой p-n перехода.
Происходит
лавинное «размножение» носителей в
сильном электрическом поле. Электрон
и дырка, ускоренные полем на длине
свободного пробега, могут разорвать
одну из валентных связей атома
полупроводника, расположенного в области
перехода. Рождается новая пара
электрон-дырка и процесс может повторяться
под действием этих новых носителей.
Суммарный обратный ток через переход
окажется больше, чем в отсутствие такой
ионизации. При большой напряженности
поля исходная пара порождает более
одной новой пары, происходит лавинный
рост ионизации. При этом ток будет
ограничен только внешним сопротивлением.
Ход характеристики в области ионизации
до пробоя описывается формулой
,
где
М- коэффициент ударной ионизации, U
модуль обратного напряжения, UМ
напряжение лавинного пробоя, при котором
.
UМ
зависит от
удельного сопротивления базы.
.
Дифференциальное сопротивление