- •34 Обобщенные характеристики электрических цепей
- •35. Основные понятия магнитных цепей. Электромагнитные устройства с притягивающимися элементами
- •38. Назовите и поясните 5 основных свойств преобразования Фурье, которые позволяют упростить получение спектров сигналов.
- •40. Получение спектральной плотности прямоугольного импульса. Приведите графическое представление модуля и аргумента спектральной функции прямоугольного импульса.
- •45. Определите понятия низкочастотного и высокочастотного фильтров разложения и восстановления сигнала с применением вейвлет - преобразований сигналов. Определите суть и назначение алгоритма Малла.
- •47. Опишите кратко основные особенности (и преимущества) использования вейвлет -анализа для удаления шумов и «сжатия» сигнала. Назовите основные способы пороговой обработки (трешолдинга).
- •49. Что означает термин: примесные полупроводники? Приведите и охарактеризуйте основные электрофизические параметры, характеризующие примесный полупроводник.
- •54. Назовите и охарактеризуйте основные отличия вольт - амперных характеристик реальных диодов от идеальных при прямом включении.
- •55. Назовите и охарактеризуйте основные отличия вольт - амперных характеристик реальных диодов от идеальных при обратном включении.
- •56. Какие физические явления присущи реальным диодам?
- •57. Поясните назначение, примеры использования выпрямительных диодов и стабилитронов. Какой вид имеет вольт - амперная характеристика стабилитрона, какой участок ее используют и почему?
- •А) Пусть соотношение напряжений таково
- •63. Перечислите и кратко охарактеризуйте признаки работы биполярного транзистора в режиме отсечки. Какими признаками характеризуется при этом транзистор?
- •65. Охарактеризуйте температурные и частотные свойства биполярного транзистора.
- •68. Кратко поясните устройство и принцип действия полевого транзистора с изолированным затвором.
- •79. Перечислите и охарактеризуйте замечательные свойства, присущие дифференциальному усилителю.
- •8 1. Поясните, в чем состоят особенности оконечных каскадов усилителей мощности. Для приведенной (см. Рисунок) простейшей схемы усилителя мощности поясните назначение каждого элемента схемы.
- •82. Источники электропитания. Их классификации, состав, области применения и основные характеристики.
- •83.Источники вторичного электропитания. Их основные типы, области применения. Перечислите их основные входные, выходные и эксплуатационные характеристики.
- •85. Назовите и охарактеризуйте принципы работы основных выпрямителей напряжения. Назовите их основные недостатки.
49. Что означает термин: примесные полупроводники? Приведите и охарактеризуйте основные электрофизические параметры, характеризующие примесный полупроводник.
В квантовой физике доказывается, что различного рода дефекты кристаллической решетки, а также появление в узлах «нестандартного» атома примеси приводит к существенному изменению энергетического спектра системы микрочастиц в кристалле. На энергетической диаграмме это проявляется в появлении новых уровней энергий, расположенных в запрещенной зоне. Эти уровни являются следствием существенного изменения свойств полупроводников и механизмов электропроводности.
Энергетические уровни донорной примеси расположены очень близко к «дну» зоны проводимости. Количество таких уровней очень велико, однако, как и ранее, в целях упрощения энергетической диаграммы на рисунке показаны лишь отдельные уровни, позволяющие мысленно представить физическую картину происходящих процессов. Типичное значение разницы энергий между наиболее высокорасположенным донорным уровнем и дном зоны проводимости WD имеет порядок 10-2 эВ.
В
полупроводнике, легированном донорной
примесью, который чаще называют примесным
полупроводником n
- типа,
концентрация «свободных» электронов
значительно больше концентрации дырок
Электронов больше и их называют основными
носителями заряда, дырки – неосновными.
В
полупроводнике, легированном акцепторной
примесью, который чаще называют примесным
полупроводником р - типа,
наоборот, концентрация «свободных»
дырок значительно больше концентрации
электронов
Дырок больше и их называют основными
носителями заряда, электроны –
неосновными.
50. Что такое структуры полупроводниковой электроники? Поясните какие физические процессы и параметры характеризуют электронно-дырочную структуру (идеальный диод) в состоянии термодинамического равновесия и при отсутствии напряжения.
Структура полупроводникового изделия – система граничащих и находящихся в контакте твердых тел, различающихся по типу электропроводности, по количеству введенной примеси или по величине объемного удельного электрического сопротивления, обеспечивающая выполнение изделием его функции.
Математическая модель электронно-дырочной структуры (идеальный диода) строится на основе следствий, вытекающих из предположений о термодинамического равновесия.
Поскольку внутри обедненного слоя есть внутреннее электрическое поле Е, то можно говорить о том, что между границами обедненных областей имеет место контактная разность потенциалов.
Для любой поверхности, расположенной в области объемного заряда, суммарные токи электронов и дырок равны, поэтому на основании можем записать
Так
как Е
есть производная от разности потенциалов
с другим знаком, то, решая дифференциальное
уравнение
,можно
получить выражение, определяющее
контактную разность потенциалов на р
– n
переходе
Контактная
разность потенциалов
есть произведение теплового потенциала
на натуральный логарифм произведения
концентраций основных и неосновных
носителей заряда, деленного на квадрат
собственной концентрации. Для кремния
Помножив величину
на величину заряда q
получаем
величину потенциального барьера,
образовывающегося на энергетической
диаграмме р – n
структуры
где
NE
(NV)
– эффективная плотность состояний в
зоне проводимости (в валентной зоне),
значение которых примерно равны 2х10-19
1/см-3;
k
=1,38 10-23
Дж/К – постоянная Больцмана;
– ширина запрещенной зоны.
Можно численными расчетами показать, что величина потенциального барьера зависит, главным образом, от величины запрещенной зоны полупроводника
Решая
дифференциальное уравнение Пуассона
для р – n
структуры, можно найти полную
ширину обедненного слоя
Обедненный слой несимметричного перехода, как отмечалось уже, расширяется в сторону меньшей концентрации и при резко несимметричном переходе практически полностью лежит в слабо легированной области полупроводника.
51. Поясните особенности функционирования идеального диода при приложении к нему внешнего прямого напряжения. Нарисуйте и охарактеризуйте вольт - амперную характеристику идеального диода при прямом включении. Диффузная и барьерная емкости электронно-дырочной структуры.
При приложении к электронно-дырочной структуре внешнего постоянного напряжения возможны два способа его подачи на р – n переход.
1. Прямым включением идеального диода называется такое его включение при котором к р полупроводнику приложен положительный потенциал источника, а n полупроводнику – отрицательный.
2. Обратным включением идеального диода называется такое его включение при котором к n полупроводнику приложен положительный потенциал источника, а р полупроводнику – отрицательный.
Рис. Вольт-амперная характеристика идеального диода при прямом (слева) и обратном (справа) включениях
Анализируя ВАХ, следует отметить следующее.
ВАХ диода при прямом включении существенно нелинейна. Она имеет сходство с хоккейной клюшкой. Зависимость между током и напряжением носит «пороговый» характер: при малых напряжениях ток близок к нулю, а затем, достигая некого «порога» напряжения Uж, начинает резко расти.
График ВАХ содержит два участка. Первый участок – начальный
(0 < U < Uж) – характеризуется током малой величины и медленным его нарастанием с ростом напряжения. Для кремния это диапазон напряжений (0 – 0,6) В, для германия (0 – 0,3) В. На втором участке (а,b) происходит резкое возрастание тока при незначительном (U ~ Uж) изменении напряжения (в пределах десятых долей вольта). При этом изменению тока на порядок (в 10 раз) соответствуют изменения напряжения на 2,3 φТ (< 60 мВ).
Если при изменении напряжения меняется заряд, то это равносильно появлению электрической емкости. При прямом включении возникает инжекция и, затем, «впрыснутый» заряд перемещается за счет диффузии. В основе этого – напряжение. Меняя напряжение, можно менять заряд и, следовательно, электронно-дырочную структуру можно характеризовать емкостными свойствами, связанными с диффузией
где
-
время
жизни избыточных носителей заряда.
Величину
называют диффузионной
емкостью.
При обратном включении электронно-дырочная структура обладает емкостными свойствами и ведет себя подобно электрическому конденсатору. Емкость такого конденсатора называется барьерной емкостью электронно-дырочной структуры
52. Охарактеризуйте особенности функционирования идеального диода при приложении к нему внешнего обратного напряжения. Нарисуйте и охарактеризуйте вольт - амперную характеристику идеального диода при обратном включении. Диффузная и барьерная емкости электронно-дырочной структуры.
При обратном включении идеального диода в нем будут происходить следующие процессы
А. В результате суперпозиции исходного внутреннего ЕИСХ и внешнего ЕВНЕШ электрических полей результирующая напряженность электрического поля внутри обедненного слоя увеличится.
Это приводит к тому, что, имевшее место в состоянии равновесия, равенство (1.18) токов нарушается. Диффузионный ток становится меньше дрейфового.
Б. Из-за того, что в обедненном слое преобладает дрейфовое движение носителей заряда, происходит постоянное «вытягивание» результирующим электрическим полем неосновных носителей из р и n областей, граничащих с обедненным слоем . Как говорят, на границах обедненного слоя имеет место экстракция неосновных носителей заряда. «Вытянутые» неосновные носители электрическим полем «перебрасываются» через обедненный слой в противоположную соседнюю область, где они становятся основными. Важно, что концентрация неосновных носителей вблизи границ обедненной области уменьшается и становиться меньше, чем в пространстве вблизи контактов.
В. Так как вблизи границы обедненного слоя концентрация неосновных носителей меньше равновесной, а в местах подключения выводов источников концентрация их будет почти равновесной (т. е. больше), то можно утверждать, что имеет место пространственная разность концентраций и возникнет диффузия: неосновные носители от приконтактных областей начнут двигаться к границам обедненного слоя. При этом по мере их движения вглубь р и n областей от выводов они также рекомбинируют.
Г. Чтобы прилегающие к обедненному слою, р и n полупроводники по-прежнему оставались электронейтральными, вступает в действие механизм компенсации заряда, обеспечивающий протекание тока через внешние выводы.
Рис. Вольт-амперная характеристика идеального диода при прямом (слева) и обратном (справа) включениях.
Следует отметить, что ВАХ диода при обратном включении также нелинейна и содержит два участка. Первый участок – начальный – характеризуется ростом тока. На втором участке (c,d) ток не меняется.
Если опять же вспомнить классификацию компонентов электрической цепи, то диод на втором участке напоминает источник тока, приближающийся по свойствам к идеальному (к источнику тока I0 с большим внутренним дифференциальным сопротивлением R)
При
обратном включении электронно-дырочная
структура обладает емкостными свойствами
и ведет себя подобно электрическому
конденсатору. Емкость такого конденсатора
называется барьерной емкостью
электронно-дырочной структуры
53. Охарактеризуйте особенности функционирования структуры металл-полупроводник (идеального диода Шоттки) при приложении к ней внешнего напряжения. Нарисуйте и сравните вольт - амперные характеристики электронно-дырочной структуры и идеального диода Шоттки. Что такое омические (невыпрямляющие) контакты?
Если осуществить прямое включение диода Шоттки, то есть к металлу приложить положительный потенциал, а полупроводнику – отрицательный, то состояние термодинамического равенства токов будет нарушено.
У полупроводника, подключенного к отрицательному потенциалу источника все уровни, в том числе и уровень Ферми, будут смещаться вверх на величину qU, что приведет к понижению энергетического барьера для электронов, переходящих в металл. Плотность электронов, идущих из полупроводника в металл станет равной
Если
осуществить обратное включение диода
Шоттки, то есть к металлу приложить
отрицательный потенциал, а полупроводнику
– положительный, то состояние
термодинамического равенства токов
также будет нарушено.
У полупроводника, подключенного к положительному потенциалу источника все уровни, в том числе и уровень Ферми, будут смещаться вниз на величину -qU, что приведет к увеличению энергетического барьера для электронов, переходящих в металл. Плотность электронов, идущих из полупроводника в металл станет равной
.
Рис. 1.19. Вольт-амперные характеристики электронно-дырочной структуры и идеального диода Шоттки
Омические (невыпрямляющие) контакты. Контакты такого типа используются практически во всех полупроводниковых приборах для формирования внешних выводов от полупроводниковых областей. Для омического контакта характерна близкая к линейной зависимость тока от напряжения (как для резистивного элемента). Сопротивление протекающему току омического контакта должно быть малым.
