
- •21 Загальна х-ка процесу розсіювання високоенергетичних електронів у тв. Тілі
- •22 Відбиті та вторинні електрони
- •23 Будова рем
- •24 Основи формування зображення рем, збільшення та глибина фокусу
- •25 Детектори електронів у рем
- •Детектори сцинтилятор-фотопомножувач. Еверхарт та Торнлі
- •26 Методи обробки сигналу у рем
- •27 Поняття про ідеальне зображення. Аберації 3-го порядку Ідеальне, або гаусівське, зображення
- •28 Конструкція пем. Хід променів у колоні мікроскопа із 3-х ступеневим збільшенням Конструкція пем
- •29 Практичні режими роботи пем: дифракційний, мікродифракційний, світлопольний, темнопольний Режими роботи пем
- •30 Фізичні основи принципу роботи та конструкція скануючого тунельного мікроскопу
- •31 Основи термодинаміки і кінетичної теорії газів (рівноважний тиск металевої пари).
- •32 Основи термодинаміки і кінетичної теорії газів (розподіл атомів металевої пари за швидк).
- •33 Випаровування матеріалів для т.Плівок і покриттів: ел.-променеве, іонне, реактивне)
- •34 Методи контролю та вимірювання товщин тонких плівок.
- •35 Чотири стадії росту плівки; механізм конденсації плівок.
- •36 Утворення дефектів у процесі росту плівки і покриття (дислокації).
- •37 Утворення дефектів у процесі росту плівки і покриття (межі зерен).
- •38 Нанокристал. Та аморфні плівкові матеріали.
- •39 Внутрішні макронапруження в конденсатах.
- •40 Процеси старіння в тонких плівках.
- •1 Основні х-ки вакуумної системи. Основне р-ня вакуумної техніки.
- •2 Класифікація вакуумних насосів. Параметри і робочий діапазон дії.
- •5 Конструкція та принцип дії багатоступеневого паромасляного дифузійного насосу.
- •6 Конструкція і принцип роботи іонно-сорбційних, адсорбційних, кріогенних насосів.
- •7 Механ. Молекулярні та турбомолекул. Насоси.
- •8 Принцип роботи обертальних пластинчатих насосів. Робочі рідини для оберт. Насосів.
- •9 Розбірні вакуумні з’єднання. Гнучкі вакуумні з’єднання. Передача руху у вакуум.
- •10 Конструкція і принцип роботи вакуумних уловлювачів.
- •11 Послідовність формування та схема техн.. Процесу дифузійно-планарних імс
- •12 Послідовність формування та схема техн.. Процесу епітаксійно-планарних імс.
- •13 Послідовність формування та схема техн.. Процесу виготовлення V-канальних німс.
- •14 Послідовність формування та схема техн.. Процесу німс з діелектричною ізоляцією
- •15 Впровадження домішки у напівпровідник шляхом термічної дифузії
- •16 Впровадження домішки у напівпровідник шляхом іонної імплантації
- •17 Автоепітаксія кремнію як базовий технологічний процес виготовлення імс.
- •18 Загальна х-ка фотолітографічного процесу.
- •19 Схема технолог. Процесу виготовлення товсто плівкових гімс. Х-ка та трафаретний друк.
- •20 Загальна х-ка етапів та методів зборки імс.
24 Основи формування зображення рем, збільшення та глибина фокусу
Інформація, отримана за допомогою електронно-оптичної та детекторної систем, складається із координат положення пучка на зразку і відповідного набору інтенсивностей сигналів від кожного детектора. Її можна відобразити двома способами.
С
канування
упродовж рядка.
Пучок рухається по одній лінії. Створюється
однозначна відповідність між точками
у просторі об’єкта й у просторі
зображення. Якщо сигнал від одного із
детекторів, наприклад, детектора
вторинних електронів, використати для
відхилення пучка електронів ЕПТ у
напрямку y,
то на екрані з’явиться крива лінія.
Положення по горизонталі відповідає
відстані упродовж лінії на зразку, а
відхилення по вертикалі відповідає
інтенсивності сигналу.
1, 2 - області
сканування по зразку і по екрану ЕПТ; 3
- положення пучка на зразку; 4 - рівень
максимального сигналу; 5 - положення
пучка при скануванні впродовж лінії з
модуляцією по осі y; 6 - положення пучка
без модуляції по осі y; 7 - рівень нульового
сигналу. Режим сканування упродовж
рядка використовується у випадку, коли
потрібно знати профіль сигналу.
С
канування
по площині.
При формуванні звичайного зображення
пучок сканує по зразку за двовимірним
растром (x,y).
Аналогічно відбувається сканування
променя електронів по екрану ЕПТ. При
цьому встановлюється однозначна
відповідність між положенням пучка на
зразку та точками на екрані трубки.
1, 2 - області сканування по зразку та по екрану ЕПТ
Яскравісна модуляція - інтенсивність сигналу від одного з детекторів використовують для керування яскравістю плями на екрані ЕПТ. Створення зображення у РЕМ полягає в побудові картинки на екрані ЕПТ.
Збільшення.
Збільшення на зображенні у РЕМ залежить
від довжини лінії сканування по поверхні
зразка та від розміру екрана ЕПТ. Якщо
розмір екрана за горизонталлю позначити
через L,
а довжину лінії, упродовж якої відбувається
сканування на зразку, через l,
то збільшення визначатиметься
.
Елемент
зображення
- область зразка, на яку падає пучок
електронів й інформація з якої передається
для формування зображення однієї плями
на екрані ЕПТ.
Діаметр елемента
зображення:
,
мкм. Для
оптимальної якості зображення потрібно
мати струми пучка максимальні, а діаметр
пучка має бути досить малим порівняно
з елементом зображення. Збільшення буде
регулюватися за допомогою довжини
відрізка сканування l.
Глибина
фокуса Розглянемо
зразок із шорсткою поверхнею. Окремі
ділянки знаходяться на різних робочих
відстанях. Діаметр зонда буде різним
залежно від робочої відстані, виникає
кутове розходження пучка вище та нижче
площини оптимального фокусування. Існує
оптимальне значення діаметра пучка,
при якому ще можливе спостереження
чіткого зображення ділянки зразка із
шорсткою поверхнею.Глибина
фокуса:
Де β0
– апертура
пучка
Існує два різних режими роботи для РЕМ: 1 Режим великої глибини фокуса. Глибина фокуса максимальна. 2 Режим великої роздільної здатності- мінімальна робоча відстань, а діаметр діафрагми вибирається максимальним.