Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
!!!!!!!!!!!!!прт 2 сем.doc
Скачиваний:
4
Добавлен:
09.09.2019
Размер:
1.94 Mб
Скачать

3.Что дает применение базовых матричных кристаллов (бмк) при проектировании ис?

Базовый матричный кристалл – это большая интегральная схема, на которой разведены, но не соединены элементарные цепи и логические элементы. Заказчик разрабатывает схему соединений, так называемую маску, и эта маска в качестве последнего слоя наносится на БМК, и элементарные схемы и разрозненные цепи складываются в одну большую схему.

Преимущества:

1) высокая эффективность изготовления на заказ небольшими сериями;

2) быстрота создания;

3) сравнительно небольшая стоимость;

4)гибкость в проектировании аппаратуры, возможность применить оригинальные схемные решения.

БМК применяются, когда требуется быстро разработать и начать производство изделия; когда объём производства изделия относительно невысок, а подходящих БИС среди выпускаемых нет; при создании специфичной аппаратуры с оригинальной схемотехникой.

4. Какие методы удаления материала называются «сухими» и в чем их преимущества перед традиционными «мокрыми»?

Мокрые методы: Хим.травление - как для удаления нарушенного слоя после шлифования, так и в ходе получ конфигурации структур на подложке. Исп-ся в основном кислотные (смесь азотной и плавиковой) и щелочные травители (NaOH, KOH и др.). Пр-сс отличается значительной чувствительностью к темп-ре, состоянию поверхности и кристаллической ориентации подложки (селективностью). SiO2 травится водными растворами смеси HF с ее солями (KF, NaF, NH4F).

Эл-химическое травление основано на электролитических реакциях. ПП пластина - анод, на котором происходит анодное окисление (растворение). Электролит – водные р-ры HF и ее солей. Скорость травления выше, чем у химического. Применяется как для локального удаления материала, так и для очистки и полировки.

Сухие методы: Газовое травление - на химическом взаимодействии материала с газообразными травителями с образованием летучих соединений. Применяется как метод окончательной очистки перед операциями, в которых одним из определяющих факторов является структура поверхностного слоя (например, перед эпитаксией). В качестве травителей используют смеси H2 или He2 с галогенами (F, Cl, Br); HBr, HCl, H2S, CF6 и др. Обеспечивается высокая чистота поверхностей, большие скорости травления. Применение ограничено из-за высоких температур процесса (800-1300ОС), необходимости использовать газы высокой чистоты.

Ионно-плазменное и ионно-лучевое травление - удалении поверхностных слоев Si и др материалов при их бомбардировке высокоэнергетичными ионами инертных газов. Процесс наз распылением. Исп также для получения тонких пленок и слоев. Ионные методы универсальны. Их используют как для финишной очистки перед формированием структур в вакууме, так и для локальной прецизионной обработки.

Плазмо-химическое травление - разрушении обрабатываемого материала ионами активных газов, образующимися в плазме газового разряда. Используются для травления Si, SiO2, Si3N4, фоторезистов и некоторых металлов. Оборудованием являются специальныые реакторы.

«Сухие» наиболее эффектны для очистки и локальной обр-ки в технологии СБИС с субмикронными размерами эл-тов. По большинству технол-ких возможностей превосх жидкостное химическое и электрохимическое травление.