- •Содержание
- •Назначение.
- •Принципиальная схема уим.
- •Конструкция уим.
- •Оптическая схема и принцип действия.
- •Технические характеристики уим.
- •Погрешность измерения уим.
- •Руководство по работе на универсальном измерительном микроскопе.
- •Технические требования.
- •Методы испытаний.
- •Маркировка, упаковка, транспортирование и хранение.
- •Приложение Методы и средства поверки.
- •1. Условия поверки и подготовка к ней.
- •2. Проведение поверки.
- •2.1. Внешний осмотр.
- •2.2. Опробование.
- •2.2.1. Проверка взаимодействия узлов микроскопа.
- •Проверка принадлежностей микроскопа.
- •2.3. Определение метрологических параметров.
- •2.3.1. Определение отклонения от прямолинейности направления движения каретки продольного перемещения.
- •2.3.2. Определение отклонения от прямолинейности направления движения каретки поперечного перемещения.
- •Проверка совпадения плоскостей передней и задней опорных поверхностей каретки продольного перемещения.
- •Определение усилия сдвига кареток.
- •Определение отклонения от перпендикулярности направлений движения кареток продольного и поперечного перемещения.
- •Определение соответствия показаний шкалы колонки действительным значениям углов ее наклона.
- •Определение смещения изображения лезвия ножа при наклоне колонки на 12˚30' в обе стороны от вертикального положения.
- •Определение соответствия длины участка между крайними линиями штриховой сетки угломерной головки при различных увеличениях объективов длине участка изображения образцовой шкалы.
- •Определение отклонения от параллельности горизонтальной линии штриховой сетки угломерной головки визирной системы направлению движения каретки продольного перемещения.
- •Определение несовпадения точки пересечения штриховой линии сетки угломерной головки с осью ее вращения.
- •2.3.12. Определение качества изображения в поле зрения бинокулярной насадки.
- •Определение разности увеличений правого и левого микроскопов бинокулярной насадки.
- •Определение отклонения от параллельности осей окуляров бинокулярной насадки.
- •Определение разности углов поворота изображения вокруг оптической оси двух оптических систем бинокулярной насадки.
- •Определение соответствия изображения одного деления градусной шкалы изображению всего участка минутной шкалы.
- •Определение правильности ориентировки изображения штрихов минутной шкалы относительно изображения штрихов лимба.
- •Определение погрешности угломерной головки.
- •Определение радиального биения скалок при любом их вылете относительно бабок.
- •Определение износа прямых центров.
- •Определение радиального биения центров при вращении скалок.
- •Определение отклонения от параллельности линии центров направлению движения каретки продольного перемещения.
- •2.3.23. Определение разности толщин опорных планок для установки измерительных ножей.
- •2.3.24. Определение несовпадения линии центров с рабочими плоскостями измерительных ножей, располагаемых на опорных поверхностях каретки продольного перемещения.
- •2.3.25. Определение отклонения от параллельности линии обратных центров направлению движения каретки продольного перемещения.
- •2.3.26. Определение отклонения от плоскостности рабочей поверхности стеклянной пластины предметного стола.
- •2.3.27. Определение отклонения от параллельности поверхности стеклянной пластины предметного стола направлению движения кареток.
- •2.3.28. Определение отклонения от прямолинейности образующих контрольного калибра.
- •2.3.29. Определение радиального биения центров контрольного калибра.
- •2.3.30.Определение диаметров рабочих поясков контрольного калибра.
- •Определение погрешностей микроскопа при измерениях проекционным методом.
- •Определение погрешности δ5 микроскопа при измерении методом осевого сечения среднего диаметра резьбового калибра.
- •3. Оформление результатов поверки.
- •Список используемой литературы
Конструкция уим.
Конструкция УИМ (рис. 2) включает ряд элементов для осуществления различных видов измерений. Так, обе каретки снабжены винтами 8 и 9 для медленных перемещений; визирный микроскоп 7 может устанавливаться по высоте перемещением по колонке 10.
Отсчетные микроскопы 3 и 4 чаще всего имеют спиральные нониусы.
Измеряют микроскопы размеры, расположенные в одной плоскости. Наиболее часто измеряют параметры резьбы, но при этом принимаются меры, чтобы измерение осуществлялось в одной плоскости.
В визирном микроскопе встроена угломерная шкала, по которой можно отсчитывать значения углов также визированием по сторонам, образующим угол.
На УИМ иногда осуществляются и трехкоординатные измерения. Для этого вместо микроскопа 7 на колонке 10 устанавливается специальный кронштейн с оптическим длиномером. Деталь при измерении помещают на плоской поверхности стола или в центрах, расположенных в бабках.
Рис. 2
Черт.1.
1 - основание; 2- каретка продольного перемещения; 3- каретка поперечного перемещения; 4- стол предметный; 5- отсчетный микроскоп продольного перемещения; 6- отсчетный микроскоп поперечного перемещения;
7- тубус визирного микроскопа; 8- отсчетный микроскоп окулярной угломерной головки; 9- штриховая окулярная головка; 10- колонка; 11- маховик наклона колонки; 12- центральное осветительное устройство.
Оптическая схема и принцип действия.
Оптическая схема при работе в проходящем свете.
Луч света от осветителя, состоящего из лампы 22 (рис. 2), параболической конденсорной линзы 21, линзы 19 и светофильтра 18, падает на зеркало 17, отражается от него на конденсорную линзу 16, освещает контур измеряемого изделия и попадает в микроскоп.
Изображение контура наблюдают в окуляр, состоящий из коллективной линзы 7 и глазной 8.
Плоскопараллельные стекла 6 предназначены для предохранения призмы 5 и оптики головки от загрязнения.
На лимбе 9 по окружности шкала с ценой деления в один градус. В центре вращения лимба помещена стеклянная пластинка 10 со штриховым перекрестием, по которому фиксируют стороны измеряемого контура.
Градусную шкалу лимба, освещаемую зеркальцем 14 через светофильтр 13, рассматривают в отсчетный микроскоп 11, в плоскости изображения которого установлена неподвижная минутная шкала 12.
Для большего удобства отсчета можно применять съемную призму 23, надеваемую на отсчетный микроскоп.
В случае, когда работу ведут в отраженном свете, источником света служит осветитель 24.
Рис. 2
Оптическая схема при работе с проекционным приспособлением.
Источник света такой же, как и при работе в проходящем свете, но без светофильтра. Линза 19 вставлена в осветитель, ее снимают, когда необходимо применить объективы 3х и 5х.
Взамен глазной линзы 8 окуляра устанавливают оптику проекционного приспособления, состоящего из системы проекционных линз 25, призмы 26, поворачивающей изображение под углом 90°, зеркала 27 и матового стекла-экрана 28, на которое проектируется изображение.
Нужное увеличение во всех случаях достигается установкой соответствующего объектива. В зависимости от условий измерения устанавливают один из сменных объективов: 1,2,3 или 4 (рис. 3) с увеличением соответственно 1х; 1,5х; 3х или 5х.
Наводка на резкость осуществляется перемещением микроскопа с кронштейном или только одного тубуса (более чувствительная установка). Резкость видения шкал и сеток достигается перемещением окуляров.
Яркость освещения регулируют диафрагмой осветителя, которая имеет наружную шкалу установки нужной величины диаметра отверстия.
Р ис. 3