
- •Хід виконання роботи
- •Методика обробки результатів вимірювання.
- •Контрольні питання.
- •Принципова схема та опис роботи рефрактометра Аббе
- •Хід виконання роботи
- •Методика обробки результатів вимірювання
- •Контрольні питання
- •Експериментальна установка.
- •Хід виконання поботи
- •Методика обробки результатів вимірювання
- •Хід виконання роботи
- •Обробка результатів вимірювання
- •Контрольні питання
- •Хід виконання роботи
- •Хід виконання роботи
- •Обробка результатів вимірювання
- •Контрольні питання
- •Додаток § 1. Поширення світла в середовищі
- •§ 2. Електростатичне поле в діелектрикові
- •Інтерференція
- •§ 3. Додавання когерентних хвиль Додавання двох когерентних хвиль.
- •Додавання більше двох когерентних хвиль.
- •Дифракція світла
- •§ 4. Принцип Гюйгенса-Френеля. Зони Френеля.
- •§ 5. Дифракція Фраунгофера на плоскопаралельній щілині
- •§ 6. Дифракція Фраунгофера на дифракційній решітці
§ 5. Дифракція Фраунгофера на плоскопаралельній щілині
Дифракція Фраунгофера дифракція світла в паралельних променях. Нехай паралельний пучок променів світла падає нормально на непрозору площину BG, в якій прорізано плоскопаралельну щілину малої ширини b. Паралельно площині BG (див.Мал.9) розташовано збиральну лінзу Л та екран Е. Збиральною лінзою випромінювання сходиться в точці М фокальної площини, яка суміщена з екраном.
Розрахунок інтерференції від щілини полягає у розбитті вторинного фронту випромінювання на нескінченно малі зони з нескінченно малим зсувом фаз і малими амплітудами і розгляд їх інтерференції, як це зроблено у попередньому параграфі (§ 9).
Для щілини різниця ходу між
крайніми променями, що розповсюджуються
під кутом
до нормалі складає
,
а різниця фаз
.
В результаті величина амплітуди в точці М становитиме
.
(4)
Умовою максимуму амплітуди є
(2)
Розподіл інтенсивності
в залежності від
подано на малюнку.
§ 6. Дифракція Фраунгофера на дифракційній решітці
Розподіл інтенсивності. Дифракційна решітка утворюється періодичною повторюваністю прозорих (шириною b) та непрозорих плоскопаралельних ділянок (шириною а) на прозорій (наприклад, скляній) поверхні BCG ( див.Мал.10). Величина
d = b + a (1)
називається періодом або
сталою решітки. При освітленні решітки
світлом, що падає нормально на її
поверхню, в напрямку
відбувається інтерференція N
п
роменів
світла від усіх
щілин, із сталою величиною зсуву фаз
,
(2)
де х різниця ходу між променями сусідніх прозорих щілин.
Процес інтерференції світла від багатьох прозорих щілин можна описати за допомогою багатопроменевої інтерференції, розглянутої у §8.а). Результуюча амплітуда з урахуванням (2) може бути записати у вигляді
(3)
де
амплітуда хвилі, що утворюється дифракцією
від окремої прозорої щілини в напрямку
.
(4)
У цьому виразі А0
амплітуда коливань у точці
,
при дифракції від однієї щілини у
напрямку
.
Максимуми виразу (3), що задаються умовою
. (5)
називаються головними. Амплітуда головного максимуму дорівнює
. (6)
В
еличина
n
називається порядком головного максимуму.
Головні мінімуми задаються умовою
(7)
Якщо з умови головного максимуму підставити
,
у вираз (3), то амплітуда головного максимуму n-го порядку запишеться у вигляді
.
(8)
Головні максимуми розмежовані між собою мінімумами, які задаються умовою
.
(9)
Таким чином між двома сусідніми головними максимумами знаходяться (N - 1) мінімум та (N - 2) додаткових максимуми.
На Мал.11 представлено розподіл головних максимумів при різних значеннях числа щілин N в решітці.