- •1.1 ТЕРМИНЫ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ
- •1.2 ДИФРАКЦИЯ НА ЩЕЛИ
- •1.2.1 Дифракционный предел разрешения
- •1.2.2 Критерий Релея
- •1.2.3 Оптимальная (нормальная) ширина щели
- •1.2.4 Дифракция на входной щели прибора
- •1.3 АБЕРРАЦИИ ЭЛЕМЕНТОВ СПЕКТРАЛЬНЫХ ПРИБОРОВ
- •1.3.1 Сферическая аберрация и продольная дефокусировка
- •1.3.2 Кома
- •1.3.3 Астигматизм и кривизна поля
- •1.3.4 Дисторсия
- •1.4 ОПТИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ
- •1.4.1 Дисперсия света в оптических материалах
- •1.4.1.1 Спектр одиночного осциллятора
- •1.4.1.3 Спектральная дисперсия изотропных материалов
- •1.4.2 Оптически анизотропные материалы
- •1.4.3 Оптические материалы, применяемые в практике спектроскопии
- •1.5 ФОТОМЕТРИЯ
- •1.5.1 Энергетические единицы в системе СИ
- •1.5.2 Световые единицы
- •1.5.3 Внесистемные единицы
- •1.5.4 Основные типы приемников излучения
- •1.6 ТЕПЛОВЫЕ ПРИЕМНИКИ ИЗЛУЧЕНИЯ
- •1.6.1 Основные параметры тепловых приемников
- •1.6.2 Элементы теории тепловых приемников
- •1.6.3 Термоэлементы
- •1.6.4 Болометр
- •1.7 ФОТОЭЛЕКТРОННЫЙ УМНОЖИТЕЛЬ
- •1.7.1 Устройство и основные узлы фотоэлектронного умножителя
- •1.7.1.1 Фотокатод
- •1.7.1.2 Катодная камера
- •1.7.1.3 Динодная система
- •1.7.1.4 Анодный блок
- •1.7.2 Принцип работы и режимы использования ФЭУ
- •1.7.2.1 Форма сигнала на выходе ФЭУ
- •1.7.2.2 Режим счета одноэлектронных импульсов
- •1.7.2.3 Режим постоянного тока
- •1.7.2.4 Режим счета многоэлектронных импульсов
- •1.7.2.5 Питание ФЭУ
- •1.7.3 Характеристики ФЭУ
- •1.7.3.1 Спектральная характеристика
- •1.7.3.2 Анодная чувствительность и коэффициент усиления
- •1.7.3.3 Темновой ток, шум, пороговая чувствительность, обнаружительная способность
- •1.7.3.4 Открытые электронные умножители (ВЭУ) и микроканальные умножительные пластины (МКП)
- •1.7.4 Эмиссия электронов из твердых тел
- •1.7.4.1 Термоэлектронная эмиссия.
- •1.7.4.2 Фотоэлектронная эмиссия
- •1.7.4.3 Вторичноэлектронная эмиссия (ВЭЭ)
- •1.7.4.4 Автоэлектронная эмиссия
- •1.7.5 Лабораторная работа "Исследование фотоэлектронного умножителя"
- •1.7.5.1 Задание
- •1.7.5.2 Экспериментальная установка
- •1.7.5.3 Параметры установки
- •1.7.5.4 Оптическая пирометрия
- •1.7.5.5 Законы теплового излучения
- •2.1. Призма
- •2.1.1. Угол наименьшего отклонения
- •2.1.2. Угловая дисперсия
- •2.1.3. Угловое увеличение
- •2.1.4. Разрешающая способность
- •2.1.5. Аберрации призмы
- •2.1.6. Специальные виды призм (системы призм)
- •2.2. ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА
- •2.2.1. Дифракция на плоской отражательной решетке
- •2.2.2. Инструментальный контур и распределение энергии по дифракционным порядкам
- •2.2.3. Дисперсия и меридиональное увеличение
- •2.2.5. Наложение порядков
- •2.2.6. Решетки с профилированным штрихом
- •2.2.7. Неплоские решетки
- •2.2.8. Аберрации решеток
- •2.3. ВСПОМОГАТЕЛЬНЫЕ УЗЛЫ СП
- •2.3.1. Фокусирующие системы
- •2.3.1.1. Коллиматоры и объективы
- •2.3.1.2. Входные осветители
- •2.3.2. Интегрирующая сфера
- •2.3.3. Светоделительные устройства
- •2.4. КОНСТРУКЦИИ И ПАРАМЕТРЫ СП
- •2.4.1. Общая оптическая схема прибора
- •2.4.1.1. Параметры оптической схемы
- •2.4.1.2. Спектрометры
- •2.4.2. Дифракционные приборы
- •2.4.2.1. Дисперсия и сканирование спектра
- •2.4.2.3. Приборы с вогнутыми решетками
- •2.4.3. Практические схемы приборов
- •3.1 ИЗ ИСТОРИИ ОПТИКИ И ПЛАНЕТАРНОЙ МОДЕЛИ АТОМА
- •3.2 АТОМ БОРА
- •3.3 СПЕКТРЫ ВОДОРОДОПОДОБНЫХ АТОМОВ
- •3.3.1. Атом водорода и одноэлектронные ионы
- •3.3.2. Ридберговские серии в спектрах многоэлектронных атомов и молекул
- •3.3.2.1. Щелочные металлы. Квантовый дефект
- •3.3.2.2. Квантовомеханическая трактовка задачи об атоме водорода
- •3.3.2.3. Ридберговские серии в молекулярных спектрах
- •3.4 СВЕРХТОНКАЯ СТРУКТУРА АТОМНЫХ СПЕКТРОВ
- •3.4.1. Вычисление магнитных моментов ядер по сверхтонкому расщеплению уровней
- •3.5 ОПИСАНИЯ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ
- •3.5.1. Постоянная Ридберга
- •3.5.2.1. Экспериментальное определение параметров сверхтонкого расщепления спектральных линий.
- •3.5.2.2. Определение ядерного магнитного момента
- •3.5.2.3. Порядок работы и практические указания
на объектив под различными углами к оптической оси, фокусируются не на плоскости, а на поверхности сферы радиусом
R = − f ⁄ S4 , |
(1.3.2) |
что определяет кривизну поля изображения.
Астигматизм и кривизна поля приводят к образованию в фокальной плоскости пятна конечного размера, но, в отличие от комы, равномерной освещенности.
1.3.4Дисторсия
Дисторсия определяется коэффициентом S5 в (1.3.1). Она не приводит к размытию точки (не зависит от координат m и M), но дает искажение масштабов изображения. Если S5>0, то квадрат изображается на выходе в виде "подушки", т.е. его углы вытянуты. Если S5 < 0, то в виде "бочки".
Для компенсации комы, астигматизма, дисторсии применяют последовательные элементы с положительными и отрицательными S2−S5. В частности, для компенсации астигматизма удобным оказывается применение цилиндрических линз или зеркал. Не изменяя фокусного расстояния в одной из плоскостей, корректируют его в другой. Кривизна поля может быть просто учтена и компенсирована искривлением щелей прибора.
В общем, проблема борьбы с аберрациями разрешима, но требует высокого профессионализма.
28