
- •Тема 1. Элементы квантовой механики
- •Корпускулярно-волновые свойства света.
- •1.2 Соотношения неопределенностей Гейзенберга.
- •1.3.Волновое уравнение частицы.
- •1.4. Движение частиц через потенциальный барьер. Туннельный эффект.
- •1.5 Линейный гармонический осциллятор.
- •1.6 Электрон в атоме водорода
- •Тема 2. Кристаллические решётки
- •2.1 Структура и виды кристаллических решёток, их характеристики.
- •2.2 Дефекты реальных кристаллических материалов их влияние на свойства твердых тел.
- •Тема 3. Элементы зонной теории твердых тел
- •3.1.Обобществление электронов в кристалле. Зонный характер энергетического спектра электронов в кристалле.
- •Ядра соседних атомов, притягивая электрон, ослабляют его связь
- •В результате взаимодействия одни уровни смещаются вверх,
- •3.2. Зоны Бриллюэна. Число уровней в разрешённых зонах. Заполнение зон электронами и электрические свойства твердых тел
- •3.3. Зонные диаграммы металлов, полупроводников и диэлектриков.
- •3.3. Статистика электронов и дырок в полупроводниках
- •Тема 4. Статистика носителей зарядов в полупроводниках и металлах
- •4.1.Основные понятия статистической физики.
- •4.2 Микрочастицы и макроскопические системы . Термодинамическое и статистическое описание идеального электронного газа.
- •4.3. Концентрация электронов и дырок в собственном полупроводнике
- •4.4. Концентрация электронов и дырок в примесном полупроводнике
- •Определение положения уровня Ферми
- •4.5.Неравновесные носители
- •Тема 5. Электропроводность твердых тел
- •5.1 Тепловое движение и его средняя скорость.
- •5.3 Дрейфовый ток
- •5.4.Диффузионный ток
- •Эффект Холла
- •5.6.Эффект Ганна.
- •Тема 6.Поверхностные явления в полупроводниках
- •Тема 7. Контактные явления и электрические переходы
- •7.1 Работа выхода электронов из металла и полупроводника.
- •7.2 Контакт металл-металл. Контактная разность потенциалов.
- •7.3.Термоэлектрические явления
- •7.4.Контакт металл-полупроводник: выпрямляющий (барьер Шотки) и невыпрямляющий (омический) контакты
- •7.6. Прямое включение p-n-перехода.
- •7.7. Обратное включение p-n-перехода.
- •7.8 Инжекция неосновных носителей
- •7.9. Вольт-амперная характеристика идеального р - n перехода
- •7.10 Отличие вольт-амперной характеристики р-n перехода от теоретической
- •7.11.Туннельный эффект в электронно-дырочном переходе.
- •Тема 8. Физические основы оптоэлектроники и квантовой электроники 4 часа
- •8.1.Основные понятия фотометрии. Основные энергетические и фотометрические величины.
- •8.2.Фотопроводимость полупроводников.
- •8.3.Фотоэлектрические эффекты в p-n-переходе. Влияние светового потока на вах p-n-перехода.
- •8.4. Основные виды генерации оптического излучения в полупроводниках:
- •8.6. Внешняя квантовая эффективность
- •8.7.Энергетические спектры атомов, молекул и твердых тел.
- •8.8.Спектральные свойства активной среды. Ширина спектральной линии, причины ее уширения.
- •8.10.Методы создания инверсии населенностей.
- •Тема 9. Физические основы вакуумной и плазменной электроники
- •9.2 Типы эмиссии:
- •9.3 Термоэлектронные катоды
- •9.7.Токопрохождение в вакууме. Конвекционный, наведенный и полный ток.
- •9.8 Электрический разряд в газах. Возбуждение и ионизация атомов газа.
- •1.2. Задачи
- •Пример решения
- •2. Статистика носителей зарядов в полупроводниках и металлах 4 часа
- •2.1. Краткие теоретические сведения
- •2.2 Задачи для решения
- •3.1. Краткие теоретические сведения
- •3.2. Задачи
- •3.3. Примеры решения задач
- •4. Поглощение и излучение света 4 часа
- •4.2 Задачи
- •4.3 Примеры решения задач
3.3. Примеры решения задач
Пример 1. Обратный ток насыщения p-n-перехода Iобр = 10-12А при Т = 270 К, а при Т = 100 °С величина Iобр = 10-9А. Найти падение напряжения в обоих случаях при заданном прямом токе 3 мА.
Решение. Уравнение вольт-амперной характеристики p-n-перехода имеет вид
Логарифмируя это выражение, получим:
Для температуры Т = 270 К
.
Для температуры Т = 100 °С
.
Пример 2. Падение напряжения на p-n-переходе, включенном в прямом направлении, U = 0,2 В при Т = 350 К; обратный ток Iобр=10 мкА. Определить сопротивление диода постоянному току R0 и его дифференциальное сопротивление.
Решение. Ток диода при прямом напряжении вычислим по формуле
.
Сопротивление диода постоянному току
Для определения дифференциального сопротивления продифференцируем выражение для U предыдущего примера. В результате получим:
.
Подставляя исходные данные, получим:
4. Поглощение и излучение света 4 часа
Расчет физических свойств и основных характеристик вещества в режиме поглощения и излучения света.
4.1 Основные теоретические сведения
Фотоны это частицы (кванты), поток которых является одной из моделей электромагнитного излучения (ЭМИ).
Энергия фотона ЕФ = h,
n - частота излучения, h - постоянная Планка, h = 6.62×10-34 Дж×с).
Энергия часто измеряется во внесистемных единицах «электрон-вольтах».
1 эВ = 1.6·10-19 Дж.
Масса
фотона связана с его энергией соотношением
Эйнштейна ЕФ
= mФc2,
mФ
=
Импульс
фотона p
= mФ
c
=
где
- длина волны ЭМИ.
Внешний фотоэффект есть явление вылета электронов из вещества (металла, фотокатода) при его облучении электромагнитным излучением (ЭМИ), например, светом. Вылетевшие электроны называются фотоэлектронами. Кинетическая энергия электрона внутри вещества увеличивается на hn, но при вылете фотоэлектрона из вещества им совершается работа АВЫХ (работа выхода) против сил электростатического притяжения к металлу. У фотоэлектрона сообщенная ему фотоном порция энергии уменьшается на величину, равную работе выхода из металла (фотокатода), а оставшаяся часть имеет вид кинетической энергии фотоэлектрона вне металла (фотокатода):
=
hn
- АВЫХ
.
Это соотношение называют формулой (законом) Эйнштейна для фотоэффекта.
Красная граница фотоэффекта есть минимальная частота ЭМИ, при которой еще наблюдается фотоэффект, т.е. для которой энергия фотона равна работе выхода hnКР= АВЫХ.
Запирающим (задерживающим) напряжением называется минимальное тормозящее напряжение между анодом вакуумной лампы (фотоэлемента) и фотокатодом, при котором отсутствует ток в цепи этой лампы, т.е. фотоэлектроны не долетают до анода. При таком напряжении кинетическая энергия электронов у катода равна потенциальной энергии электронов у анода, откуда следует выражение:
UЗАП
=
,
где е - заряд электрона.
При отсутствии светового потока в фотоэлектронных приборах протекает так называемый темновой ток, обусловленный собственной проводимостью полупроводника. Этот ток весьма мал, и его значение определяется темновым сопротивлением Rт, имеющим широкий диапазон значений: 102– 1010 Ом.
При освещении фоторезистора в нем возникают дополнительные свободные электрические заряды – электроны и дырки, в результате чего ток в цепи возрастает.
Разность между световым током Iсв и темновым током Iт называется фототоком:
Iф = Icв – Iт,
где Iф – фототок, мкА; Ф – световой поток, лм.
Зависимость фототока Iф от лучистого потока Ф иллюстрируется энергетической характеристикой (рис. 2.3.). Нелинейность этой характеристики является недостатком фоторезисторов.
Рис.2.3. Энергетическая характеристика фоторезистора |
Рис.2.4 Спектральная характеристика фоторезистораиз сульфида кадмия |
Значения фототока сильно зависят от спектрального состава светового потока. Эта зависимость видна из спектральной характеристики, фоторезистора, выполненного из сульфида кадмия, которая представлена на рис. 2.4 (где Iфmах – фототок, соответствующий максимуму спектральной чувствительности). Интегральная чувствительность фоторезисторов на два порядка выше, чем электронных фотоэлементов.
Удельная чувствительность фоторезистора:
K 0 = I ф / ( Ф U ).
Интегральная чувствительность фоторезистора:
K ф = I ф / Ф.
Важным параметром фоторезисторов является пороговый световой поток Фп – минимальный поток излучения, который вызывает появление в цепи фоторезистора электрического напряжения, превышающего в 2–3 раза шумовое напряжение.
Существенным недостатком фоторезистора является большая инер-ционность, обусловленная значительным временем генерации и рекомбинации электронов и дырок при изменении освещенности фоторезистора.
Более быстродействующими приборами по сравнению с фоторезисторами являются фотодиоды. Они работают на частотах 107–1010 Гц.
Интегральная чувствительность фотодиода:
K ф = I д / Ф,
где I – фототок диода, мкА; Ф – световой поток, лм.