Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
шпоргалка / МП--.DOC
Скачиваний:
38
Добавлен:
21.02.2014
Размер:
95.74 Кб
Скачать

10 Хар-ки некоторых мп комплектов

МПК - совокупность микропроцессорных и других ИС, совместимых по арх-ре, конструктивному исполнению и эл-ким параметрам и обеспечивающих возможность совместного применения.

МПК К1800

Комплект быстродействующих МП-х БИС этой серии исп. для построения высокопроизводит. ЭВМ, контроллеров и ср-в цифр. автоматики. МПК рассчитан на реализацию структур машин с произвольной системой команд. Секционная стр-ра БИС комплекта позволяет наращивать разрядность устр-в до необходимой длины слова. Способ упр-я - микропрограммный. В состав серии К1800 входят след БИС: секционное АЛУ (4 разрядное), секционный блок микропрограммного упр-я (БМУ)(4 разряд) , секционный контроллер памяти (КП), универсальный контроллер синхронизации (УКС). двухадресная регистровая память (ДРП), программируемый многоразрядный сдвигатель (ПСДВ), двунаправленный магистральный транслятор, двунаправленный транслятор уровней ЭСЛ-ТТЛ. Все БИС им. разрядно наращивае6мую стр-ру. БИС работоспособны в диапазоне t от -10 до +70 C, при этом следует предпринимать спец меры по отводу тепла от их корпусов. Uпит:-5,2, -2.0,0; потребляемая мощность АЛУ - 1,4ВА, БМУ - 1,6 ВА, УКС - 0,74 ВА; время цикла АЛУ - 41 нс.

МПК БИС К580

МПК БИС серии КР580 преназнач. для создания широкого класса ср-в выч. техники и обаб-ки информац. На основе комплекта строят. микроЭВМ контрольно-измерит сист, микроЭВМ для упр-я технологич. процессами, контроллеры переферийн. уст-в, бытовых приборов. МПК выполнен по n-МОП и по напряж-ям логич. уровней согласуется с ИС ТТЛ.

В состав входят след. БИС: 8-разрядный параллельный центральный процессор КР580ИК80А; программируемый последоват. интерфейс КР580ИК51; программируемый таймер, программируемый параллельный интерфейс, программир. контроллер прямого доступа к памяти; программир. контроллер прерываний.

С комплектом совместим ряд микро сх серии К589, выполн. по ТТШЛ-технологии.

Нагрузочная способность каждого выхода БИС достаточна для подключения одного входа ТТЛ схем (1,6мА). Выходная емкость информацион. и управляющ. выводов БИС не более 100 пФ. Максим. тактовая частота: 2,5 МГц; потребляем. мощность: 1,25 ВА; Uпит: 12; 5; -5 В.

9 Контроль и диагностика мп систем

В жизнен цикл МП-сист. выд. 3 стадии: проектир-е, изгот-е и эксплуат-я. Каждая из стадий подразд-ся на несколько фаз. Для кажд. фазы сущ-т вероят-ть возник-я конструктив-х или физич. неисправностей. Поэтому на кажд. фазе необходимы процедуры тестового контроля, направлен. на обнаружение и устр-е неисправности. Процедура тестового контроля м.б. определена как провед-е экспер-тов с черным ящиком. Дискрет. сист. любой слож-ти или часть такой сист. может рассм. как черный ящик. Ошибка вызывается неисправностью, представляющ. собой некорректное состояние внутри черного ящика. Неисправности классифицир. в соот-вии с их причинами: физические, субъектив-е, проектные. интерактивные.

Физич-е неиспр-ти - непредусмотрен. нежелат-е изм-ния значения одной или нескольких логич. премен-х в системе.

Субъективное - конкретное проявление недостатков программного и аппаратурного обеспечения и неправильных действий оператора, имеющ. место при выполнении дискретн. сист-мой предписанных спецификацией действий.

Проектные - вызваны недостатками вносимыми в сист. на различ-х стадиях реализации исходного задания при структурном проектировании, разраб-ки алгоритмов. написании программ. трансляции в машинный код. Интерактив-е возник.. когда в процессе работы, или тех. обслуж-я или отработки сист. оператор вводит в сист. ч/з интерфейс человек - машина ложную информацию, не соответ-щую текущему сост-ю сист.

Ошибка - проявл-е неисправности.

Неисправность может приводить или нет к ошибке в зависимости от сост-я сист. Дефекты - физич-е изм-я пар-ров компонентов сист., выходящие за допустимые пределы. Их наз. сбоями (при временном хар-ре и отказами при постоян.)

Диагностика неисправности - процесс опред-я причины появл-я ошибки по рез-м тестирования. Отладка - процесс обнаружения ошибок и опред-я источников их появл-я по рез-м тестирования при проектир-нии МП-сист. Ср-ва отладки - приборы. комплексы и программы. Срок и кач-во отладки сист. зависят от ср-в отладки, кот-е должны: 1 управлять поведением сист. или ее модели на различ-х уровнях абстрактного представления 2 собирать инф-ю о поведении сист. модели, обраб-ть и представлять на различ-х уровнях абстракции 3 преобразовывать сист-ы, придавать им св-ва контролепригодности 4 моделир-ть поведение внеш. среды проектир. сист.

Тут вы можете оставить комментарий к выбранному абзацу или сообщить об ошибке.

Оставленные комментарии видны всем.

Соседние файлы в папке шпоргалка