- •Тема 4. Исследование новых фотометрических схем для измерения показателя ослабления оптических стекол с малыми потерями
- •Тема 5. Исследование сезонной и суточной динамики отражательных свойств природных образований
- •Тема 6. Обзор отдельных составляющих общей погрешности измерений на спектрофотометрах (сф).
- •Тема 7. Разработка конвекционного со – лазера
- •Тема 8. Исследование спектральной и угловой селекции графических оптических элементов, записанных на слоях бхт
- •Тема 9. Исследование лазера на маг.
- •Тема 11. Исследование голографических элементов ввода лазерного излучения в тонкий оптический волновод
- •Тема 12. Разработка установки для исследования адаптивной
Тема 6. Обзор отдельных составляющих общей погрешности измерений на спектрофотометрах (сф).
№ этапа |
Код работы |
Наименование работы |
Норма продолжительности работы, % |
1 |
2 |
3 |
4 |
6.1 |
0-1 |
Принятие решения о проведении НИР |
6 |
|
1-2 |
Проработка методов экспериментальной проверки |
15 |
|
1-3 |
Подбор литературы по общей погрешности измерений на СФ |
25 |
|
1-4 |
ТЭО необходимости и целесообразности исследований |
20 |
|
4-5 |
Разработка технического задания на конструирование приставки для проверки линейности |
30 |
|
5-6 |
Согласование и утверждение ТЗ |
5 |
6.2 |
6-7 |
Патентно-информационный поиск |
30 |
|
6-8 |
Проработка результатов анализа ТЗ |
40 |
|
8-9 |
ТЭО основных положений ТЗ |
20 |
|
9-10 |
Согласование и утверждение технического предложения |
10 |
6.3 |
10-11 |
Разработка исходной тематической документации для проведения исследований |
5 |
|
11-12 |
Выбор метода проверки линейности СФ |
3 |
|
12-13 |
ТЭО метода исследования |
5 |
|
13-14 |
Расчет оптической схемы приставки |
3 |
|
14-15 |
Подготовка конструкторской документации на изготовление прибора |
3 |
|
15-16 |
Изготовление приставки для проверки линейности СФ |
4 |
|
16-17 |
Установка приставки в прибор и юстировка оптической схемы |
2 |
|
17-18 |
Исследование работы приставки |
3 |
|
18-19 |
Корректировка конструкторских документов по результатам изготовления и проверки приставки |
2 |
|
19-20 |
Изготовление приставки по скорректированным чертежам |
3 |
|
12-21 |
Выбор метода исследований многократных отражений |
3 |
|
21-22 |
Разработка конструкции для исследования многократных отражений |
7 |
|
22-23 |
Сборка и установка конструкции в прибор |
6 |
|
23-24 |
Проведение исследований |
3 |
|
12-25 |
Выбор метода исследования влияния величины апертурного угла падения излучения на образец |
4 |
|
25-26 |
Разработка и расчет оптической схемы для данных исследований, разработка конструкторской документации на приставку |
10 |
|
26-27 |
Изготовление приставки |
5 |
|
27-28 |
Проведение исследований |
3 |
|
28-29 |
Разработка документации на создание эталонной установки |
15 |
|
29-30 |
Изготовление и юстировка эталонной установки |
8 |
|
30-31 |
Проверка линейности эталонной установки |
3 |
6.4 |
31-32 |
Определение возможности использования проведенных исследований в дальнейших теоретических разработках и в промышленности |
25 |
|
32-33 |
Оформление результатов НИР и разработка отчетной документации |
65 |
|
33-34 |
Рассмотрение и утверждение отчета на НТС |
10 |
1 |
2 |
3 |
4 |
6.5 |
34-35 |
Рассмотрение и приемка НИР |
50 |
|
35-36 |
Передача документации заинтересованным организациям для использования |
50 |
Фиктивные работы: 2-5, 3-5, 7-9, 20-29, 24-29