
- •Тема 4. Исследование новых фотометрических схем для измерения показателя ослабления оптических стекол с малыми потерями
- •Тема 5. Исследование сезонной и суточной динамики отражательных свойств природных образований
- •Тема 6. Обзор отдельных составляющих общей погрешности измерений на спектрофотометрах (сф).
- •Тема 7. Разработка конвекционного со – лазера
- •Тема 8. Исследование спектральной и угловой селекции графических оптических элементов, записанных на слоях бхт
- •Тема 9. Исследование лазера на маг.
- •Тема 11. Исследование голографических элементов ввода лазерного излучения в тонкий оптический волновод
- •Тема 12. Разработка установки для исследования адаптивной
Тема 4. Исследование новых фотометрических схем для измерения показателя ослабления оптических стекол с малыми потерями
№ этапа |
Код работы |
Наименование работы |
Норма продолжительности работы, % |
1 |
2 |
3 |
4 |
4.1 |
0-1 |
Принятие решения о проведении исследования |
5 |
|
1-2 |
Проработка методов экспериментальной проверки |
15 |
|
1-3 |
Изучение специальной литературы по данному вопросу |
20 |
|
1-4 |
Анализ известных ранее методов проведения подобных измерений |
20 |
|
4-5 |
ТЭО необходимости и целесообразности проведения исследования |
20 |
|
5-6 |
Разработка технического задания |
15 |
|
6-7 |
Согласование ТЗ с руководителем работ |
5 |
4.2 |
7-8 |
Патентно-информационный поиск |
30 |
|
7-9 |
Разработка технического предложения по результатам анализа ТЗ и источников научно – технической информации |
40 |
|
9-10 |
ТЭО основных этапов исследования |
20 |
|
10-11 |
Согласование и утверждение ТП с руководителем работ |
10 |
4.3 |
11-12 |
Разработка исходной методической документации для проведения исследований фотометрических схем |
8 |
|
11-13 |
Выбор методов исследований |
10 |
|
13-14 |
ТЭО варианта исследования фотометрических схем |
5 |
|
14-15 |
Разработка схемы с однократным прохождением пучка через образец |
10 |
|
15-16 |
Сборка схемы |
4 |
|
16-17 |
Проверка функционирования схемы |
3 |
|
17-18 |
Измерение коэффициентов пропускания образцов в данной схеме |
3 |
|
14-20 |
Разработка принципиальной схемы с двукратным прохождением пучка через образец |
12 |
|
20-21 |
Сборка данной схемы |
6 |
|
21-22 |
Проверка функционирования схемы |
3 |
|
22-23 |
Измерение коэффициентов пропускания образцов в данной схеме |
3 |
|
14-25 |
Разработка принципиальной схемы с четырехкратным прохождением пучка через образец |
10 |
|
25-26 |
Монтаж и юстировка данной схемы |
10 |
|
26-27 |
Проверка функционирования схемы |
3 |
|
27-28 |
Проведение измерений в схеме с четырехкратным прохождением пучка через образец |
10 |
1 |
2 |
3 |
4 |
4.4 |
18-19 |
Обработка результатов измерений и построение графических зависимостей для схемы с однократным прохождением пучка через образец |
10 |
|
23-24 |
Обработка результатов измерений для схемы с двукратным прохождением пучка через образец |
10 |
|
28-29 |
Обработка результатов измерений для схемы с четырехкратным прохождением пучка через образец |
10 |
|
24-30 |
Анализ полученных данных при измерении коэффициента пропускания в схемах с однократным и двукратным прохождением пучка через образец |
10 |
|
30-31 |
Анализ данных, полученных при измерениях в схемах с однократным и четырехкратным прохождением пучка через образец |
10 |
|
31-32 |
Окончательная обработка результатов и разработка отчетной документации |
10 |
|
31-33 |
Определение области использования исследуемых схем |
25 |
|
32-34 |
Представление отчетной документации на НТС |
15 |
4.5 |
34-35 |
Рассмотрение и приемка НИР на НТС |
100 |
Фиктивные работы: 2-5, 3-5, 8-10, 12-14, 19-30, 29-31, 33-34