Сканирующий Электронный Микроскоп CamScan MX2500S с рентгеновским микроанализатором и катодолюминесцентным детектором
•Для проведения
электронно-зондового микроанализа SEM оборудован системой
INCA Energy 200 c энергодисперсионн ым спектрометром (EDS), позволяющей определять химический состав объекта в широком элементном диапазоне (от B до U).
•Детектор вторичных электронов (SE)
предназначен для регистрации низко энергетических вторичных электронов, формирующих топографическое изображение.
•Детектор обратно-рассеянных электронов (BSE) позволяет выявить фазовую неоднородность объекта.
Домен циркона с аномально высокой степенью метасоматического изменения
D
C
Профили распределения по линии А-В и C-D в домене Zrn
C D
LA-ICP-MS
•Система лазерной абляции, или система "Лазерного Пробоотбора" в комплекте с эксимерным лазером DUV 193 (Lambda Physic Compex) может использоваться совместно с элементным высокоразрешающим, высокочувствительным масс- спектрометром
Laser Ablation MultiCollector Inductively Coupled Plasma Mass
Spectrometer (LA-MC-ICPMS)
Focus unit
Hexapole & collision cell
Plasma
carrier gas
193nm Excimer laser
(8-300 micron beam)
New Wave Research & Lambda Physik
GV Instruments
Isoprobe
Magnet
9 |
Faradays |
|
4 |
Channeltrons |
|
1 |
Daly |
|
204Pb (channeltron) |
238U (faraday) |
|
207Pb (1012 W faraday) |
232Th (faraday) |
|
206 & 208Pb (1011 W faraday)
U-Th-Pb analysis
100,000,000 |
BACKGROUNDS |
PEAKS |
PURGE |
|
LASER OFF |
LASER ON |
LASER OFF |
||
|
||||
10,000,000 |
|
|
238U |
|
|
|
|
||
1,000,000 |
|
|
232Th |
|
|
|
206Pb |
||
|
|
|
||
100,000 |
|
|
208Pb |
|
|
|
|
||
10,000 |
|
|
207Pb |
|
|
|
|
1,000 |
|
204Pb |
|
|
|
100 |
|
|
12 sec |
12 sec |
20 sec |
100,000 cps/ppm
Data acquisition
True Age = 1440 Ma
•Overall fractionation of 206Pb/238U (~20%)
•Changing fractionation with depth (~10%)
