Добавил:
Upload
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз:
Предмет:
Файл:Геохимия, лекции 8-14 / 10-11_Аналитические методы.ppt
Масс-спектрометрия вторичных
ионов (SIMS, ВИМС)
•Источник ионов формирует ионный пучок, который развертывается в растр на поверхности образца и распыляет материал с этой поверхности. Ионизированные компоненты распыленного вещества анализируются по массе и результаты анализа отображаются в виде силы тока вторичного ионного пучка в зависимости от массы иона или двухмерного изображения распределения вторичного пучка по массе ионов.
Ионный микрозонд
|
Энергетический |
|
анализатор |
|
1 м |
Магнит |
Первичный |
|
ионный |
|
источник |
Образец
Счетчик ионов
Cameca-IMS-4f
СРАВНЕНИЕ МЕТОДОВ U-Pb ДАТИРОВАНИЯ
