- •Общая геохимия
- •Методы анализа называют
- •Физико-химические и физические методы называют инструментальными, так как они требуют применения приборов, измерительных
- ••Высокочувствительные методы
- ••Деление методов по локальности исследования:
- •Фотон – элементарная частица, квант электромагнитного поля
- •1.СПЕКТРОМЕТРИЯ
- •СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ
- ••Часто под спектральным анализом
- ••Оптический эмиссионный
- ••Набор длин волн спектральных линий,
- ••Источники излучения (энергии) для
- •Атомно-эмиссионная спектрометрия с
- ••Мощность передается газам плазмы путем
- •РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНАЯ
- ••Различные электронные орбитали обозначаются K,L,M и.т.д., где К - орбиталь, ближайшая к ядру.
- ••Метод основан на зависимости
- ••Когда атомы образца облучаются
- ••Такой переход сопровождается
- ••В принципиальной схеме
- ••Флуоресцентное излучение пробы
- ••"Силикатный анализ". Определяемые
- •XRF спектрометр последовательного действия Philips PW2400
- •АТОМНАЯ АБСОРБЦИЯ
- ••Величина энергии при поглощении (атомной
- ••Методом ААС могут определяться около
- ••В зависимости от способа получения
- •НЕЙТРОННО-АКТИВАЦИОННЫЙ
- ••ИНАА - наиболее чувствительный метод
- ••Облучение производится потоком
- ••Предметом изучения учёных стали волосы Наполеона, которые при помощи нейтронно- активационного анализа. Толчком
- •2. МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ
- •• Первое, что надо сделать для того, чтобы
- ••Первый метод, наиболее
- •Масс-спектрометрия с
- ••В настоящее время достигнута
- •Основной областью применения ICP-MS
- ••ICP-MS позволяет определять элементы с
- •ELEMENT2
- •разбавления
- •ID-TIMS
- ••Метод обладает высокой
- •Можно анализировать относительную распространенность изотопов щелочных, щелочноземельных, редкоземельных элементов, металлов платиновой группы, урана,
- •ЛОКАЛЬНЫЕ МЕТОДЫ
- •Электронно-зондовый
- •Сканирующий Электронный Микроскоп CamScan MX2500S с рентгеновским микроанализатором и катодолюминесцентным детектором
- ••Детектор вторичных электронов (SE)
- •Домен циркона с аномально высокой степенью метасоматического изменения
- •Профили распределения по линии А-В и C-D в домене Zrn
- •Laser Ablation MultiCollector Inductively Coupled Plasma Mass
- •U-Th-Pb analysis
- •Data acquisition
- •Масс-спектрометрия вторичных
- •Ионный микрозонд
- •Cameca-IMS-4f
- •СРАВНЕНИЕ МЕТОДОВ U-Pb ДАТИРОВАНИЯ
- •Точность и точность
РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНАЯ
СПЕКТРОМЕТРИЯ
•Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ (XRF, РФА, РСФА) - метод анализа, используемый для определения концентраций элементов от Be до U в диапазоне от 0.0001% до 100% в веществах различного происхождения.
•Основан на взаимодействии электронов рентгеновского пучка с электронами мишени (пробы).
•Различные электронные орбитали обозначаются K,L,M и.т.д., где К - орбиталь, ближайшая к ядру. Каждой орбитали электрона в атоме каждого элемента соответствует собственный энергетический уровень. Энергия испускаемого вторичного фотона определяется разницей между энергией начальной и конечной орбиталей, между которыми произошел переход электрона.
•Метод основан на зависимости
интенсивности рентгеновской флуоресценции от концентрации элемента в образце.
•При облучении образца мощным потоком излучения рентгеновской трубки возникает характеристическое флуоресцентное излучение атомов, которое пропорционально их концентрации в образце.
•Излучение разлагается в спектр при помощи кристалл-анализаторов, далее с помощью детекторов и счетной электроники измеряется его интенсивность.
•Когда атомы образца облучаются
фотонами с высокой энергией - возбуждающим первичным излучением рентгеновской трубки, это вызывает испускание электронов. Электроны покидают атом.
•Как следствие, в одной или более электронных орбиталях образуются "дырки" - вакансии, благодаря чему атомы переходят в возбужденное состояние, т.е. становятся нестабильны.
•Через миллионные доли секунды атомы возвращаются к стабильному состоянию, когда вакансии во внутренних орбиталях заполняются электронами из внешних орбиталей.