
- •1. Общая характеристика микроэлектроники .
- •2. Основные направления развития микроэлектроники
- •3. Современная микроэлектроника и перспективы ее развития
- •1.Термическое вакуумноенапыление.
- •3) Метод
- •4) Метод
- •8.Изложите физические основы процесса диффузии
- •9. Опишите законы диффузии
- •Второй закон Фика
- •10. Опишите распределение примеси при диффузии из источника бесконечной мощности
- •11. Приведите пример распределения примеси при диффузии из источника ограниченной мощности
- •12. Перечислите физические основы метода ионного легирования
- •13. Поясните распределение концентрации примесей в ионно-легированных слоях
- •14. Приведите физические основы процессов эпитаксии
- •Механизм формирования слоев
- •Силановый метод
- •4. Методы удаления загрязнений.
- •2. Трудно воспроизводимы глубокие легированные области;
- •3. Сложное оборудование;
- •Силановый метод
- •22. Приведите примеры классификации полупроводниковых имс по конструктивно-технологическому исполнению
- •23. Поясните этапы формирования структуры имс по планарно-эпитаксиальной технологии
- •Транзисторы с барьером Шоттки
- •Имс на мдп структуре
- •26. Объясните сущность метода очистки поверхности полупроводниковых пластин и понятия «технологически чистая поверхность»
- •27. Приведите примеры методов получения тонких пленок в микроэлектронной технологии
- •28. Приведите примеры методов литографии с высоким разрешением
- •29 Билет
- •30 Билет
- •35 Билет
- •36. Поясните структуру имс по epic-технологии
- •37. Проанализируйте последовательность изготовления биполярных имс методом локальной эпитаксии
- •38. Проанализируйте требования, предъявляемые к контактным системам для интегральных микросхем
- •39. Сравните достоинства и недостатки однослойных и многослойных контактных систем
- •40. Поясните методы формирования омических контактов и контактных систем
- •41. Проанализируйте дефекты контактных систем и методы их контроля
- •42. Опишите конструктивно-технологические особенности мдп имс
- •43. Поясните особенности изготовления тонкооксидных р-канальных мдп имс.
- •44.Проанализируйте технологию изготовления структур мдп имс с фиксированными затворами.
- •45.Приведите пример изготовления мдп имс с металлическими затворами с помощью ионной имплантации.
- •46.Проанализируйте технологию изготовления структур кмдп имс.
- •47.Сравните методы улучшения качества мдп имс.
- •48.Приведите пример расчета однородности пленок при напылении.
- •49.Проанализируйте понятия наноэлектроника и нанотехнологии
- •50. Опишите особенности физических процессов в квантово-размерных структурах
- •51. Проанализируйте условия наблюдения квантовых размерных эффектов
- •52. Сравните квантовые нити и квантовые точки
- •53 Проанализируйте физические и технические основы работы растровых электронных микроскопов
- •54.Проанализируйте методы формирование квантовых точек
- •55 Проанализируйте принцип действия атомно-силового микроскопа
42. Опишите конструктивно-технологические особенности мдп имс
Пример:
43. Поясните особенности изготовления тонкооксидных р-канальных мдп имс.
На подложке с проводимостью n– типа выращивают защитный слой оксида кремния (SiO2) толщиной 0,6 мкм.
С помощью фотолитографии вскрывают окна для создания истока и стока
С помощью диффузии вводят p– области, тем самым создаются И и С.
Вскрытие окон для создания тонкого подзатворного слоя диэлектрика.
Выращивание подзатворного диэлектрика термическим окислением в сухом кислороде при температуре 1150 – 1200 0C.
Вскрытие окон к истоку и стоку. Между истоком и стоком остаются тонкий диэлектрик.
Металлизация. Напыление алюминия
Стравливание металла для разделения контактов.
44.Проанализируйте технологию изготовления структур мдп имс с фиксированными затворами.
Технология изготовления МДП-ИМС на транзисторах с фиксированным затвором основана на том, что после создания толстого окисла и вскрытия окон в нем под активные области выращивают тонкий окисел под затвор, формируют затвор необходимых конфигураций и размеров, а затем формируют области истока и стока. При этом материал затвора служит маской, и тем самым осуществляется процесс самосовмещения затвора
Существует два направления создания МДП-ИМС с фиксированным затвором: диффузия с использованием затвора из кремния или молибдена и ионное легирование с использованием металлического затвора.
На подложке с проводимостью n– типа выращивают защитный слой оксида кремния (SiO2) и с помощью фотолитографии вскрывают окна для создания истока, стока и слоя подзатворного диэлектрика.
Выращивают тонкий слой подзатворного диэлектрика
Выращивают поликристаллический кремний
Создают окна с помощью фотолитографии под исток и сток.
Напыление алюминия для создания контактов.
45.Приведите пример изготовления мдп имс с металлическими затворами с помощью ионной имплантации.
Ионное
легирование в технологии МДП-ИМС
применяют в двух целях: 1) для самосовмещения
затвора с диффузионными областями; 2)
для получения МДП – транзисторов,
работающих в режиме обеднения с низким
пороговым напряжением. В первом случае
для изготовления МДП-ИМС используют
комбинированную диффузионную технологию.
Согласно этой технологии основные этапы
формирования структуры осуществляют
по обычной технологии; при этом области
затвора и стока создают диффузионным
способом до выращивания окисла. Ионное
легирование применяют на последней
стадии изготовления ИМС, когда создается
«встроенный» канал в промежутке между
областью стока и металлом затвора,
сдвинутое в сторону истока; при этом
достигается самосовмещение затвора.
Во втором случае ионное легирование
также используют на последней стадии
изготовления ИМС, когда МДП – структуры
уже сформированы. При этом часть структуры
подвергают ионному легированию, с
помощью которого междуp+-областями
истока и стока формируется встроенный
канал р - типа. Это позволяет получать
транзисторы, работающие в режиме
обеднения, которые служат в качестве
нагрузочных элементов.