Самарченко Лабораторный практикум Оптика 1ч

Излучение всей системы будет максимальным в направлениях, удовлетворяющих двум условиям главных максимумов:

синфазность колебаний, приходящих от всех отверстий каждой цепочки:

и синфазность колебаний, приходящих от всех цепочек:

Условие (20.9) дает набор линий, перпендикулярных к оси x1, расположенных с интервалом x1 = λl/a, а условие (20.8) — набор линий, перпендикулярных к оси y1, расположенных с интервалом y1 = λl/b. Максимумы имеют вид точек, расположенных на пересечениях этих линий (рис. 20.2, б).

ОПИСАНИЕ УСТАНОВКИ

Работа выполняется на лабораторных оптических комплексах — ЛКО-1 или ЛКО-1М. Описание ЛКО-1, ЛКО-1М и функциональных модулей содержится в разделе «Описание лабораторных комплексов».

Схема опыта приведена на рис. 20.3. Пучок лазера превращается линзой Л (модуль М5) и объективом О (модуль М6) в волну, сфокусированную в объектной плоскости Э1 линзы микропроектора Л (модуль М3). При этом на экране Э3 наблюдается яркая точка малых размеров. Исследуемые объекты помещаются в кассете держателя модуля М8 в плоскости Э′. В плоскости Э1 образуется дифракционная картина, которая в увеличенном виде наблюдается на экране Э3.

Рис. 20.3

302

ЗАДАНИЕ 1

Юстировка установки и подготовка ее к измерениям

1.Проведите юстировку установки в соответствии с методикой, описанной в разделе «Описание лабораторных комплексов».

2.Установите на оптическую скамью на входе лазерного пучка

модуль М5. Перемещением модуля М6 по оптической скамье сфокусируйте лазерный луч в объектной плоскости Э1 модуля М3. При этом на экране Э3 должна появиться маленькая яркая светящаяся точка. Возможны два положения модуля М6, когда на экране Э3 наблюдается светящаяся точка. Из них необходимо выбрать то, при котором расстояние между модулями М3 и М6 будет максимальным. Зафиксируйте на оптической скамье модули М3, М5 и М6. Установите на оптическую скамью модуль М8 в соответствии с рис. 20.3. Установка подготовлена к измерениям.

ЗАДАНИЕ 2

Исследование закономерностей дифракции Фраунгофера

1.Симметрия дифракционных картин. Получите дифракцион-

ные картины от следующих отверстий: круг (объекты 18 и 19), квадрат (объект 20) и прямоугольник (объект 21). Для этого указанные объекты поочерёдно разместите в кассете держателя модуля М8. Зарисуйте эти картины.

2.Дифракция на движущемся объекте. В качестве Э′ при полу-

чении дифракционной картины используйте расчёску, либо объект

31.Перемещая эти объекты поступательно в плоскости Э′ перпендикулярно к оптической оси установки, убедитесь в неизменности наблюдаемой на экране Э3 дифракционной картины.

3.Зависимость от расстояния l. Для круглого отверстия исследуйте зависимость характерных размеров дифракционной картины от положения модуля М8 относительно модуля М3. Поместите в кассету держателя модуля М8 экран с круглым отверстием (объект 18) и пронаблюдайте, как меняются размеры яркого пятна и кон-

303

центрических с ним колец при увеличении или уменьшении расстояния l между модулями М3 и М8. Опишите свои наблюдения.

ЗАДАНИЕ 3

Изучение дифракции на квадратном

ипрямоугольном отверстиях

1.Установите в кассете держателя модуля М8 экран с квадратным отверстием (объект 20). На экране Э3 должен наблюдаться

дифракционный «крест» в виде четырех взаимно перпендикулярных «лучей», состоящих из чередующихся дифракционных максимумов и минимумов интенсивности.

2. Расположите дифракционный «крест» вдоль координатных осей экрана Э3 с центром в начале координат. Измерьте координаты x3 и y3 (с учетом знаков) нескольких (по 4 – 5 в каждом «луче» креста) минимумов. Результаты измерений занесите в табл. 20.1.

Таблица 20.1

3.Определите расстояние l между модулями М3 и М8.

4.Постройте графики зависимости x1 = x3/β3 и y1 = y3/β3 от порядка минимума m, где β3 − линейное поперечное увеличение микропроектора, найденное вами в предыдущих работах. Найдите из графиков методом парных точек угловые коэффициенты наклона

k = lλ/a (k = lλ/b) и их погрешности. Полагая длину волны излучения известной (для ЛКО-1 λ = 0,6328 мкм, для ЛКО-1М λ =

=0,655 мкм), определите размер a отверстия.

5.Для экрана с прямоугольным отверстием (объект 21) повторите измерения по пп. 1, 2 и 3. Также постройте графики из п. 4 и определите размеры a и b отверстия.

304

ЗАДАНИЕ 4

Измерение диаметра стержня

1. Отрезок проволоки (гвоздь, булавку и т.п.) диаметром d = = 0,5 ÷ 2 мм укрепите в свободном экране (объект 45). Установите его в кассете держателя модуля М8.

2. Измерьте на экране Э3 координаты x3 нескольких минимумов, ближайших к центральному максимуму. Результаты измерений занесите в табл. 20.2.

Таблица 20.2

3.Определите расстояние l между модулями М3 и М8.

4.Постройте график зависимости x1 = x3/β3 от порядка минимума m, где β3 — линейное поперечное увеличение микропроектора. Найдите из графика методом парных точек угловой коэффициент

наклона k = lλ/d и его погрешность. Полагая длину волны излучения известной, определите диаметр d проволоки.

5.Измерьте диаметр проволокис помощью микрометраисравните

срезультатами п. 4. Какое из выполненных измерений дает меньшую погрешность? Выполнивзадание, освободите экранотобъекта.

ЗАДАНИЕ 5

Изучение дифракции на круглом отверстии

1.Помещая в кассету держателя модуля М8 экраны с круглыми отверстиями (объекты 18 и 19), сравните дифракционные картины, получаемые от отверстий разных диаметров.

2.Для одного из отверстий по шкалам экрана Э3 определите ко-

ординаты темных колец (по горизонтальной x3(1) и x3(2) и по вер-

305

тикальной y3(1) и y3(2) ). Результаты занесите в табл. 20.3. Опреде-

лите расстояние от отверстия до плоскости Э1 l. Найдите радиусы темных колец дифракционной картины r1, r2, r3. Оцените погрешность r.

Таблица 20.3

3. С помощью микропроектора измерьте диаметр отверстия. Для этого на оптической скамье расположите функциональные модули

вследующей последовательности: модуль М5 — координата риски 5 см, модуль М6 — координата риски 35 см, модуль М3 — координата риски 67 см. При этом на экране Э3 видно широкое пятно поля излучения лазера. Поместив в кассету держателя модуля М3 объект с отверстием, на экране Э3 будет наблюдаться увеличенное

вβ3 раз изображение отверстия.

Сравните измеренные радиусы темных колец с рассчитанными по формуле (20.6).

4. Для объекта 18 измерьте с помощью фотоприемника распределение интенсивности (показания фотоприёмника) I(x) с шагом 0,05 мм в плоскости Э1 вдоль оси симметрии дифракционной картины, начав с центра картины. Результаты измерений занесите в заранее подготовленную табл. 20.4. Определение интенсивности фонового излучения производится через каждые пять измерений интенсивности в дифракционной картине.

306

Измерьте расстояние l между модулями М3 и М8. Постройте график зависимости I(θ), где θ = x1/l — угол дифракции. Определите положение первого минимума θ1, сравните с теоретическим значением θ1 = 0,61λ/R.

ЗАДАНИЕ 6

Изучение дифракции на одномерной периодической структуре

1.Помещая в кассету держателя модуля М8 объекты 31 и 32, получите дифракционные картины от линейных решёток. Зарисуйте эти картины и проведите их сравнение.

2.Получите дифракционную картину от одной из этих решеток.

Измерьте координаты нескольких максимумов x3 по шкале на экране Э3. Результаты измерений занесите в заранее самостоятельно подготовленную таблицу. Определите расстояние l между модулями М3 и М8.

3.С помощью микропроектора измерьте период d и ширину щелей b решетки (методика измерений представлена в п. 3 задания 5).

4.Рассчитайте среднее значение расстояния между главными

максимумами x1. Определите длину волны по формуле (20.7).

ЗАДАНИЕ 7

Изучение дифракции на двумерной периодической структуре

1.В качестве объекта используйте двумерную дифракционную решетку (объект 33 или 34). С помощью микропроектора определите периоды решетки a и b (методика измерений представлена в п.3 задания 5).

2.Измерьте координаты максимумов x3 и y3 (с учетом знаков) по шкалам на экране Э3. Результаты измерений занесите в таблицу, аналогичную табл. 20.1.

3.Определите расстояние l между модулями М3 и М8. Построй-

те графики зависимости x1 = x3/β3 и y1 = y3/β3 от порядка максимума m, где β3 — линейное поперечное увеличение микропроектора. Полагая длину волны излучения известной и используя (20.8) и (20.9),

307

определите периоды решетки a и b. Сравните с результатами измерения a и b c помощью микропроектора.

Замечание. Объем заданий может быть уменьшен по согласованию с преподавателем.

КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ

1.Что происходит с дифракционной картиной при дифракции Фраунгофера при увеличении характерного размера препятствия?

2.Как изменится дифракционная картина при смещении отверстия в плоскости, перпендикулярной к оптической оси, при дифракции в параллельных лучах?

3.Как изменится дифракционная картина при смещении отверстия в плоскости, перпендикулярной к оптической оси, при дифракции сходящейся волны?

4.Как изменяется дифракционная картина от цепочки с увеличением числа отверстий в ней при неизменном периоде?

5.При каких условиях наблюдается дифракция Фраунгофера?

Р а б о т а 21

ИССЛЕДОВАНИЕ ДИФРАКЦИИ СВЕТА НА УЛЬТРАЗВУКЕ

Цель: изучение явления дифракции света и определение скорости ультразвука в воде.

ВВЕДЕНИЕ

При прохождении ультразвуковой волны через жидкость в ней возникают периодические оптические неоднородности, обусловленные разницей показателя преломления n в области сжатия и разрежения. Эти периодические неоднородности играют роль своеобразной дифракционной решетки.

Пусть плоская световая волна проходит через кювету с жидкостью, в которой распространяются ультразвуковые волны в направлении, перпендикулярном к падающему свету (рис. 21.1). При этом различные участки фронта световой волны, сохраняя неиз-

308

менной амплитуду колебаний, будут перемещаться с различной скоростью. Так как скорость V упругих волн ультразвуковой волны всегда значительно меньше скорости света, можно в первом приближении принять, что слоистая структура вещества, вызванная ультразвуковой волной, неподвижна. В результате из жидкости выйдет световая волна, волновая поверхность которой уже не плоская, а имеет синусоидальный профиль. Другими словами, при прохождении света через такую среду происходит пространственное модулирование фазы световой волны, и сама среда играет роль фазовой решетки (см. разд. 3.10).

Рис. 21.1

В зависимости от различных условий в жидкости могут устанавливаться или бегущие, или стоячие волны, или те и другие одновременно. Однако в любом случае фазовая решетка будет иметь один и тот же период, равный длине ультразвуковой волны d = Λ .

Если на пути света, прошедшего эту жидкость, поставить объектив, то в его фокальной плоскости можно наблюдать дифракционную картину, состоящую из ряда максимумов (см. рис. 21.1).

Дифракционные максимумы возникают в тех направлениях ϕ, для которых оптическая разность хода волн, исходящих из соответствующих точек соседних участков волновой поверхности (рис. 21.2), равна целому числу световых длин волн λ (см.

разд. 3.10):

где Λ — период «решетки» (длина ультразвуковой волны); k — порядок дифракционного максимума (k = 0, 1, 2, …).

309