
Лапшинский Сборник задач и заданий с ответами, решениями 2011
.pdf
которого надо измерить, всего лишь двумя контактами, как показано на рис. 1.15,а. Обозначения на схеме: Rx – сопротивление участка цепи между контактами (отмечены стрелками), Е – источник эталонного напряжения, А – микроамперметр с очень малым внутренним сопротивлением (Rвн << Rэт), Rэт – эталонный резистор, определяющий величину максимального измеряемого тока (при закороченных контактах). Если Iизм – измеренное значение тока, то очевидно,
что Rx = E/Iизм – Rэт.
Вместо этого был использован четырехконтактный (четырехзондовый) метод, схема которого показана на рис.1.15,б. К отмеченным элементам добавлен вольтметр V с очень большим входным сопротивлением (Rвх >> Rx при любых значениях Rx), который подключен непосредственно к измеряемому участку цепи. Цепь с источником напряжения подключена к внешним контактам.
Рис. 1.15. Схемы измерений сопротивления участка цепи на нанотрубке:
(а) – двухзондовым и (б) – четырехзондовым методом
Можно предположить, что поскольку был использован четырехзондовый метод, то он дает более точные результаты. Определите насколько более точные. Оцените максимальную относительную погрешность (в %) измерения для обоих методов, если при измерении удельного сопротивления
41
различных нанотрубок четырехзондовым методом были получены следующие экспериментальные данные, таблица
1.2.
Таблица 1.2. Экспериментальные данные по измерению удельного сопротивления нанотрубок
№ |
Радиус |
Расстояние |
Измеренное |
Удельное |
|
нанотрубки, |
между |
сопротивление |
сопротивление, |
|
нм |
зондами, |
нанотрубки, |
Ом∙см |
|
|
мкм |
Ом |
|
|
|
|
|
|
1 |
10,2 |
0,3 |
10,8∙103 |
1,2∙10-4 |
2 |
6,3 |
0,5 |
2,4∙108 |
5,8 |
3 |
9,1 |
1,0 |
2,0∙102 |
5,1∙10-6 |
4 |
6,1 |
0,5 |
4,3∙104 |
9,8∙10-4 |
Дополнительный вопрос: чем можно объяснить очень большой (6 порядков!) разброс измеренных значений удельного сопротивления для различных образцов нанотрубок? Ваше мнение?
Задача №11. Фотоприемные устройства (ФУ) на квантовых ямах (наногетероструктурах). Определите долю мощности оптического излучения, поглощаемого в фотоприемнике на квантовых ямах. Излучение падает перпендикулярно к поверхности фотоприемника. Коэффициент поглощения излучения в узкозонном полупроводнике α = 7·103 см-1, коэффициенты отражения от
границ |
раздела |
узкозонного |
и |
широкозонного |
полупроводников R1 = |
0,01, R2 = |
0,02, |
толщина слоя |
узкозонного полупроводника d = 5нм, число периодов фотоприемной структуры n = 50. Ответ представить в виде аналитического выражения и численного значения. Преобразовать ответ для R1 = R2 = 0. Объяснить полученный результат.
42

Комментарий к задаче №1122 Фрагмент сечения фотоприемника на квантовых ямах
схематично показан на рис.1.16. Заштрихованные области – узкозонный полупроводник. Границы раздела между узкозонным и широкозонным полупроводниками, на которых коэффициенты отражения имеют значения R1 и R2, также показаны на рис. 1.16.
Рис.1.16. Схема фрагмента сечения фотоприемника на квантовых ямах
22 Смотрите сначала комментарий к задачам № 4-6 2009 года
43
Коэффициент отражения R – отношение мощности оптического излучения, отраженного от границы раздела двух сред к мощности падающего излучения. Излучение, поглощаемое в узкозонном полупроводнике, преобразуется в электрический сигнал и только оно является полезным для работы фотоприемника. В широкозонном полупроводнике излучение не поглощается, т.к. в нем нет энергетических уровней или зон, энергия которых соответствует энергии фотона.
Поглощение оптического излучения подчиняется закону Бугера-Ламберта
P(x) = P0e-αx,
где: x – координата в направлении, перпендикулярном поверхности полупроводника, совпадающим с направлением падения излучения, начало координат лежит на поверхности, P(x) – мощность оптического излучения в точке с координатой x, P0 – мощность излучения на поверхности, e – число Эйлера, α – коэффициент поглощения.
Для решения задачи воспользуйтесь справочными данными: скорость света – c ≈ 3·108 м/с; постоянная Планка – h ≈ 6,63·10-34 Дж·с; число Эйлера – e ≈ 2,72.
44

Решения задач олимпиады 2009 года
ЧАСТЬ А. Физика наномира: электрические свойства нанообъектов
Задача №1. Электрическая емкость наночастицы и земного шара. Решение задачи определяется по известной из школьного курса физики формуле:
C0 = Qϕ = 4πε0 R = 4×3.14 ×8.85 ×10−14 Ф/cм × 10-7см
= 1.1 × 10-19 Ф или 0,1 аттофарад (аФ)23,
где: φ – потенциал; R – радиус наночастицы; Q – заряд; εо – диэлектрическая проницаемость.
Емкость земного шара определяется той же формулой. Радиус Земли равен примерно RЗ 6400 км = 6.4 108 см, а ее электрическая емкость составляет всего CЗ 0.0007 Ф.
Задача №2. Заряд на островке металла. Решение задачи
(с учетом решения для задачи №1) определяется формулой: C0 V / q 0.7 , где q – заряд электрона.
Пояснение: количество электронов на островке металла измеряется целым числом электронов, только если он изолирован. Заряд на кусочке металла, подсоединенного к источнику питания, не обязательно должен выражаться целочисленным значением количества электронов и может изменяться непрерывным образом за счет эффекта смещения распределения плотности большого количества электронов.
23 Известно, что фарада (Ф) – единица измерения электрической емкости в системе СИ и это очень большая емкость. Ёмкостью 1Ф обладал бы уединённый шар, радиус которого был бы равен 13 радиусам Солнца. В Википедии можно найти обозначения десятичных кратных приставок для более «мелких» значений электрической емкости, например, аФ
(аттофарада): http://ru.wikipedia.org/wiki/Farad
45

Задача №3. Зарядка Земли одним электроном. Ответы на поставленные вопросы:
1) Для того, чтобы доставить заряд CV на электрод, необходимо преодолеть отталкивающий потенциал электрода, который во время зарядки возрастает от 0 до V со средним значением V/2. Поэтому, энергия, требуемая на зарядку электрода равна:
1Q V CV 2
22
2)Для того, чтобы преодолеть отталкивающий потенциал кусочка металла, который во время зарядки возрастает от 0
до |
q / 4 0 R0 со |
|
средним |
|
значением |
0.5 q / 4 0 R0 , |
||||||||
необходимо затратить энергию: |
|
|
|
|
||||||||||
|
|
1 |
|
|
|
q2 |
|
|
q2 |
|
1.2 10-19Дж. |
|||
|
|
2 4 |
|
|
|
|
||||||||
|
|
0 |
R |
2C |
0 |
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
0 |
|
|
|
|
|
||
Соответственно для одного электрона: |
q |
0.72 эВ. |
||||||||||||
|
||||||||||||||
2C0 |
||||||||||||||
3) |
Для зарядки |
Земли |
одним электроном требуется |
|||||||||||
ничтожная энергия: |
|
q |
|
10-16 эВ. |
|
|||||||||
|
|
|
|
|||||||||||
2Cz |
|
|||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ЧАСТЬ Б. Элементы ИМС и ИНС и устройства на их основе
Задача №4. Фотоприемная матрица на основе наногетероструктур. Как сказано в комментариях к задаче, в фотоприемниках на квантовых ямах поглощение фотонов вызывает переход электронов между разрешенными уровнями энергии в квантовой яме. Определим энергию фотона hυ, обеспечивающего переход электрона с уровня Е1 на уровень Е2:
46

hυ = Е2- Е1 = 0,125 эВ.
Определим длину волны λ, соответствующую этой энергии: υ = c/λ, где с – скорость света, следовательно, hc/λ = Е2- Е1, отсюда λ = 9,93 мкм.
Определим разность энергий Е дна зоны проводимости широкозонного и узкозонного полупроводников (рис. 1.6):
Е = (Еg2 – Еg1)/2 = 0,175 эВ.
Отсюда видно, что положение уровня Е2 совпадает с дном зоны проводимости широкозонного полупроводника. Поэтому при попадании на структуру фотонов с энергией, большей Е2 – Е1,они также будут поглощаться и вызывать переходы электронов с уровня Е1 в зону проводимости широкозонного полупроводника. Следовательно, фотоприемник будет работать и при длине волны, меньшей, чем определена выше. Значит, расчетное значение будет: λ < 9,93 мкм.
Рис.1.17. Схема сечения фрагмента фотоматрицы
47
Задача №5. Фотоприемная матрица инфракрасного (ИК) диапазона для передачи изображения телевизионного стандарта. Для наглядности решения удобно нарисовать фрагмент сечения фотоматрицы вдоль строки (или столбца) –
рис.1.17
Как видно из рисунка, при изотропном травлении (скорость травления одинакова во всех направлениях) при травлении образца в глубину происходит растравливание вдоль поверхности на такую же величину. Поэтому необходимо определить толщину w слоя, подлежащего травлению:
W = hr + n (he+ hi) + hi = 2670 + 50 (5 + 45) + 45 = 5215 нм.
Оценим минимально допустимый шаг L чувствительных элементов в фотоматрице. Как видно из рисунка:
L = 2w + d + l = 2×5,215 + 1+ 1 = 12,43 мкм.
Определим число элементов в фотоматрице: число строк задано N = 600, соотношение сторон в современном телевизионном стандарте составляет 3:4. Следовательно, при квадратной форме чувствительного элемента число столбцов в матрице М = 800.
Определим требуемую площадь S без учета ширины периферийных участков:
S= (N×L) × (M×L) = 600×800×(12,43)2 = 74162352 мкм2
~74.2 мм2.
Задача №6. Снайпер, вооруженный инфракрасным прицелом. Определим величину фототока Iф, который может «почувствовать» фотоматрица. Это можно сделать, зная
вызываемое этим |
током |
изменение |
напряжения U на |
емкости интегрирования C. |
U = Q/C, |
где Q – изменение |
|
заряда на емкости. |
Q = U·С = Iф·Тк = Iф/f. Отсюда: |
||
|
|
48 |
|
Iф = U·С·f = 10-3·10-12·50 = 5·10-14 А.
Определим мощность P1 излучения, обеспечивающего найденный фототок фотоприемной ячейки, зная ее фоточувствительность:
Iф = P1R = P1αGq/hυ.
Отсюда получаем P1 = Iфhυ/αGq = 1,72·10-14 Вт. При этом считаем энергию фотона для средней длины волны из диапазона фоточувствительности λ = 9 мкм.
Определим плотность мощности излучения Pфп, падающего на фотоприемник. Найденная величина P1 – мощность излучения, падающего на элементарную фотоприемную ячейку. Для нахождения плотности мощности ее необходимо разделить на площадь фотоприемной ячейки:
Рфп = P1/ S1,
S1 = 30·30·10-12 = 9·10-10 м2,
Рфп = 1,9·10-5 Вт/м2.
Определим плотность мощности Pвх оптического излучения на входе оптической системы, зная коэффициент усиления оптической системы:
Pфп = Pвх·Kопт = PвхηоSвх/Sфп,
где: Sвх = πD2/4 = 201 мм2 и Sфп = 75 мм2 – площади входного отверстия объектива и фотоприемной матрицы
соответственно. Отсюда имеем: Pвх = 9,53·10-6 Вт/м2. Определяем плотность мощности излучения солдата про-
тивника Bэ. По таблице 1.1 для температуры тела человека (310 К) в диапазоне длин волн 8-10 мкм находим Bэч = 73,2 Вт/м2. Отсюда следует, что Bэ = КBэч = 0,6·73,2 = 43,92 Вт/м2.
49
Определяем |
расстояние l обнаружения |
солдата |
противника. Зная |
плотность мощности на входе оптической |
|
системы и плотность мощности излучения |
солдата |
противника, записываем соотношение Pвх = ηсBэ S/l2, где S излучающая площадь объекта наблюдения, т.е. площадь лица солдата. Для оценки этой площади можно принять, что она представляет собой круг диаметром 200 мм, тогда S = 0,03 м2. Подставляя найденные величины, определяем расстояние l = 288 м. Поскольку ряд параметров при расчете носят оценочный характер, можно сказать, что искомое расстояние составляет около 300 м.
Задача №7. Одноэлектронный транзистор при комнат-
ной температуре. Изменение энергии при заряде одним
электроном равно E |
e2 |
, тогда |
C |
e2 |
|
. Если допустить, |
|||
2C |
2 E |
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|||
что E 10kT , то |
C |
|
e2 |
|
|
|
|
||
|
. |
Тогда |
для температуры |
||||||
2 10 kT |
T =300 К емкость конденсатора составляет C =3·10-19 Ф.
Задача №8. Площадь обкладок конденсатора для одноэлектронного транзистора. Ёмкость конденсатора
составляет |
C |
0 S , |
отсюда |
площадь |
обкладок |
равна |
||||
|
|
|
|
d |
|
|
|
|
|
|
S |
C d |
. |
При |
этом |
|
и |
|
(для SiO) |
составляют |
соот- |
|
0 |
|||||||||
|
0 |
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
ветственно 8.85·10-12 Ф/м и 6, |
d = 10 нм. Тогда: S =2·10-16 м2. |
Для квадратных обкладок конденсатора сторона квадрата составляет 4 нм.
Задача №9. Тепловыделение процессора современного компьютера. Решение выглядит так:
N Cn Vdd2 f 10-8 см-2х10-14хФх12 В2х10-9 с-1 = 100 Вт/см2
50